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本发明公开了一种测试分选机测试参数写入及防呆方法、装置、电子设备及存储介质，其中方法为获取待测芯片的身份信息，并根据身份信息调取对应的测试参数；将调取的测试参数写入测试分选机的共享文件中；读取共享文件中的测试参数；比对读取的测试参数与调取的...
该专利属于东莞利扬芯片测试有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东莞利扬芯片测试有限公司授权不得商用。

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