一种光电码盘上下料质量检测装置制造方法及图纸

本申请提供一种光电码盘上下料质量检测装置，包括：底座，分度盘机构包括分度盘本体和旋转驱动装置；分度盘本体的上表面沿其自身圆周方向等角度设有若干用于承载光电码盘的放置位；分度盘本体的周边依次设有上料工位、检测工位和下料工位；旋转驱动装置用于驱动分度盘本体转动，以切换各放置位所对应的工位；上料机械手设置在上料工位处，用于将光电码盘放置在上料工位对应的放置位内；检测装置设置在所述检测工位处，用于对检测工位对应的放置位内的光电码盘进行检测；下料装置设置在下料工位处，用于将下料工位对应的放置位内的光电码盘取出并转移至接料组件；本申请提供的光电码盘上下料质量检测装置节约了工作的时间，提高了工作效率。了工作效率。了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种光电码盘上下料质量检测装置


[0001]本申请涉及光电码盘上下料质量检测
，尤其涉及一种光电码盘上下料质量检测装置。

技术介绍

[0002]目前光电码盘的质量检测采用手动将光电码盘放置在电子显微镜下进行检测，再由手动将其取下来并更换光电码盘，重复操作；这种质量检测的实施浪费了时间，而且生产效率过低。

技术实现思路

[0003]本申请的目的是针对以上问题，提供一种光电码盘上下料质量检测装置，本申请提供一种光电码盘上下料质量检测装置，包括：
[0004]底座，所述底座具有第一安装面；
[0005]分度盘机构，所述分度盘机构包括分度盘本体和旋转驱动装置；所述分度盘本体安装在所述第一安装面上；所述分度盘本体的上表面沿其自身圆周方向等角度设有若干用于承载光电码盘的放置位；所述分度盘本体的周边沿其自身圆周方向依次设有上料工位、检测工位和下料工位；所述分度盘本体在静止状态下，每一个工位处均对应一个所述放置位；所述旋转驱动装置用于驱动所述分度盘本体转动，以切换各所述放置位所对应的工位；
[0006]上料机械手，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光电码盘上下料质量检测装置，其特征在于，包括：底座(4)，所述底座(4)具有第一安装面(401)；分度盘机构(1)，所述分度盘机构(1)包括分度盘本体(101)和旋转驱动装置；所述分度盘本体(101)安装在所述第一安装面(401)上；所述分度盘本体(101)的上表面沿其自身圆周方向等角度设有若干用于承载光电码盘的放置位(102)；所述分度盘本体(101)的周边沿其自身圆周方向依次设有三个工位，分别是上料工位、检测工位和下料工位；所述分度盘本体(101)在静止状态下，每一个工位处均对应一个所述放置位(102)；所述旋转驱动装置用于驱动所述分度盘本体(101)转动，以切换各所述放置位(102)所对应的工位；上料机械手(5)，设置在所述上料工位处，用于将光电码盘放置在所述上料工位对应的所述放置位(102)内；检测装置(2)，设置在所述检测工位处，用于对所述检测工位对应的所述放置位(102)内的光电码盘进行检测；下料装置，设置在所述下料工位处，用于将所述下料工位对应的所述放置位(102)内的光电码盘取出并转移至接料组件；所述接料组件设置在所述底座(4)一侧。2.根据权利要求1所述的光电码盘上下料质量检测装置，其特征在于，所述下料装置包括提升组件(32)和转运组件(31)；所述转运组件(31)安装在所述底座(4)上，用于驱动所述提升组件(32)沿第一方向移动；所述提升组件(32)，与所述转运组件(31)相连接，用于沿第二方向提升所述下料工位对应的所述放置位(102)内的光电码盘，还用于沿第三方向将光电码盘下放至所述接料组件；所述第一方向垂直于所述第二方向，且所述第二方向平行于所述第三方向。3.根据权利要求2所述的光电码盘上下料质...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟洋，殷明春，
申请(专利权)人：廊坊晶正光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：