本申请提供一种光电码盘上下料质量检测装置，包括：底座，分度盘机构包括分度盘本体和旋转驱动装置；分度盘本体的上表面沿其自身圆周方向等角度设有若干用于承载光电码盘的放置位；分度盘本体的周边依次设有上料工位、检测工位和下料工位；旋转驱动装置用于驱动分度盘本体转动，以切换各放置位所对应的工位；上料机械手设置在上料工位处，用于将光电码盘放置在上料工位对应的放置位内；检测装置设置在所述检测工位处，用于对检测工位对应的放置位内的光电码盘进行检测；下料装置设置在下料工位处，用于将下料工位对应的放置位内的光电码盘取出并转移至接料组件；本申请提供的光电码盘上下料质量检测装置节约了工作的时间，提高了工作效率。了工作效率。了工作效率。
【技术实现步骤摘要】
一种光电码盘上下料质量检测装置
[0001]本申请涉及光电码盘上下料质量检测
，尤其涉及一种光电码盘上下料质量检测装置。
技术介绍
[0002]目前光电码盘的质量检测采用手动将光电码盘放置在电子显微镜下进行检测，再由手动将其取下来并更换光电码盘，重复操作；这种质量检测的实施浪费了时间，而且生产效率过低。
技术实现思路
[0003]本申请的目的是针对以上问题，提供一种光电码盘上下料质量检测装置，本申请提供一种光电码盘上下料质量检测装置，包括：
[0004]底座，所述底座具有第一安装面；
[0005]分度盘机构，所述分度盘机构包括分度盘本体和旋转驱动装置；所述分度盘本体安装在所述第一安装面上；所述分度盘本体的上表面沿其自身圆周方向等角度设有若干用于承载光电码盘的放置位；所述分度盘本体的周边沿其自身圆周方向依次设有上料工位、检测工位和下料工位；所述分度盘本体在静止状态下，每一个工位处均对应一个所述放置位；所述旋转驱动装置用于驱动所述分度盘本体转动，以切换各所述放置位所对应的工位；
[0006]上料机械手，设置在所述上料工位处，用于将光电码盘放置在所述上料工位对应的所述放置位内；
[0007]检测装置，设置在所述检测工位处，用于对所述检测工位对应的所述放置位内的光电码盘进行检测；
[0008]下料装置，设置在所述下料工位处，用于将所述下料工位对应的所述放置位内的光电码盘取出并转移至接料组件；所述接料组件设置在所述底座一侧。
[0009]根据本申请某些实施例提供的技术方案，所述下料装置包括提升组件和转运组件；所述转运组件安装在所述底座上，用于驱动所述提升组件沿第一方向移动；所述提升组件，与所述转运组件相连接，用于沿第二方向提升所述下料工位对应的所述放置位内的光电码盘，还用于沿第三方向将光电码盘下放至所述接料组件；所述第一方向垂直于所述第二方向，且所述第二方向平行于所述第三方向。
[0010]根据本申请某些实施例提供的技术方案，所述转运组件包括安装在所述底座上的导轨；所述导轨沿所述第一方向延伸；所述导轨上沿所述第一方向滑动连接有滑块；所述导轨的一端设置有第一伸缩驱动装置；所述第一伸缩驱动装置用于驱动所述滑块沿所述导轨滑动；所述滑块与所述提升组件相连接。
[0011]根据本申请某些实施例提供的技术方案，所述提升组件包括第二伸缩驱动装置；所述第二伸缩驱动装置安装在所述滑块上；所述第二伸缩驱动装置的驱动端连接有吸附装置；所述第二伸缩驱动装置用于驱动所述吸附装置沿所述第二方向/所述第三方向移动；所
述吸附装置用于吸放光电码盘。
[0012]根据本申请某些实施例提供的技术方案，所述放置位为开设于所述分度盘本体上表面的凹槽。
[0013]根据本申请某些实施例提供的技术方案，所述检测装置为显微镜。
[0014]根据本申请某些实施例提供的技术方案，所述吸附装置包括吸盘以及与所述吸盘相连接的抽真空管；所述抽真空管相对远离所述吸盘的一端连接有真空泵。
[0015]根据本申请某些实施例提供的技术方案，所述接料组件包括第一接料盘与第二接料盘，所述第一接料盘用于放置检测合格的光电码盘，所述第二接料盘用于放置检测不合格的光电码盘；所述第一接料盘与第二接料盘沿所述第一方向分布。
[0016]与现有技术相比，本申请的有益效果：本申请提供的光电码盘上下料质量检测装置，包括底座、分度盘机构、上料机械手、检测装置、下料装置以及接料组件；底座上具有第一安装面；分度盘机构包括分度盘本体与旋转驱动装置；分度盘本体安装于第一安装面上；分度盘本体的周边沿其自身圆周方向依次设有上料工位、检测工位和下料工位；静止状态时每个工位均对应一个放置位；上料机械手设置在上料工位处；检测装置设置设置在检测工位处；下料装置设置在下料工位处；在使用时，上料机械手将光电码盘放置在上料工位所对应的放置位，分度盘本体在旋转驱动电机的作用下，转换到检测工位处，对光电码盘表面进行检测，检测完毕后，再次转换工位，到达下料工位处，下料装置将光电码盘从分度盘本体中取出，并转移到接料组件；这种工作方式节约工作时间，提高了工作的效率。
附图说明
[0017]图1为本申请实施例提供的光电码盘上下料质量检测装置的整体结构示意图；
[0018]图2为本申请实施例提供的光电码盘上下料质量检测装置的右视结构示意图；
[0019]图中所述文字标注表示为：
[0020]1、分度盘机构；101、分度盘本体；102、放置位；2、检测装置；3、下料装置；31、运转组件；311、导轨；312、滑块；32、提升组件；321、第二伸缩装置；322、吸附装置；4、底座；401、第一安装面；5、上料机械手；601、第一接料盘；602、第二接料盘。
具体实施方式
[0021]为了使本领域技术人员更好地理解本申请的技术方案，下面结合附图对本申请进行详细描述，本部分的描述仅是示范性和解释性，不应对本申请的保护范围有任何的限制作用。
[0022]在本公开的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”、“对接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本公开中的具体含义。
[0023]请参考图1，本实施例提供一种光电码盘上下料质量检测装置，光电码盘是含有中心孔的圆盘状结构；光电码盘上下料质量检测装置包括：
[0024]底座4，所述底座具有第一安装面401；
[0025]分度盘机构1，所述分度盘机构1包括分度盘本体101和旋转驱动装置；所述分度盘本体101安装在所述第一安装面401上；所述分度盘本体101的上表面沿其自身圆周方向等角度设有若干用于承载光电码盘的放置位102；所述分度盘本体101的周边沿其自身圆周方向依次设有上料工位、检测工位和下料工位；所述分度盘本体101在静止状态下，每一个工位处均对应一个所述放置位102；所述旋转驱动装置用于驱动所述分度盘本体101转动，以切换各所述放置位102所对应的工位；
[0026]上料机械手5，设置在所述上料工位处，用于将光电码盘放置在所述上料工位对应的所述放置位102内；
[0027]检测装置2，设置在所述检测工位处，用于对所述检测工位对应的所述放置位102内的光电码盘进行检测；
[0028]下料装置3，设置在所述下料工位处，用于将所述下料工位对应的所述放置位102内的光电码盘取出并转移至接料组件；所述接料组件设置在所述底座4一侧。
[0029]具体地，所述底座4上具有第一安装面401，所述第一安装面401为平面；所述分度盘机构包括分度盘本体101与旋转驱动装置；所述分度盘本体101安装于所述第一安装面，所述分度盘本体101的上表面为圆环形平面，沿其自身圆周方向等本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光电码盘上下料质量检测装置，其特征在于，包括：底座(4)，所述底座(4)具有第一安装面(401)；分度盘机构(1)，所述分度盘机构(1)包括分度盘本体(101)和旋转驱动装置；所述分度盘本体(101)安装在所述第一安装面(401)上；所述分度盘本体(101)的上表面沿其自身圆周方向等角度设有若干用于承载光电码盘的放置位(102)；所述分度盘本体(101)的周边沿其自身圆周方向依次设有三个工位，分别是上料工位、检测工位和下料工位；所述分度盘本体(101)在静止状态下，每一个工位处均对应一个所述放置位(102)；所述旋转驱动装置用于驱动所述分度盘本体(101)转动，以切换各所述放置位(102)所对应的工位；上料机械手(5)，设置在所述上料工位处，用于将光电码盘放置在所述上料工位对应的所述放置位(102)内；检测装置(2)，设置在所述检测工位处，用于对所述检测工位对应的所述放置位(102)内的光电码盘进行检测；下料装置，设置在所述下料工位处，用于将所述下料工位对应的所述放置位(102)内的光电码盘取出并转移至接料组件；所述接料组件设置在所述底座(4)一侧。2.根据权利要求1所述的光电码盘上下料质量检测装置，其特征在于，所述下料装置包括提升组件(32)和转运组件(31)；所述转运组件(31)安装在所述底座(4)上，用于驱动所述提升组件(32)沿第一方向移动；所述提升组件(32)，与所述转运组件(31)相连接，用于沿第二方向提升所述下料工位对应的所述放置位(102)内的光电码盘，还用于沿第三方向将光电码盘下放至所述接料组件；所述第一方向垂直于所述第二方向，且所述第二方向平行于所述第三方向。3.根据权利要求2所述的光电码盘上下料质...
【专利技术属性】
技术研发人员：孟洋，殷明春，
申请(专利权)人：廊坊晶正光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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