本申请公开了一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法，可以直接利用已有的VCM驱动芯片进行FRA测试，计算出VCM的频率响应特性，完成FRA测试工具的所有功能(产生正弦信号驱动VCM、检测VCM的输出信号以及计算VCM的频率响应特性)，减少FRA测试时的测试设备的数量和种类，从而降低FRA测试成本和测试环境复杂度，达到方便快捷的实现FRA测试的目的。达到方便快捷的实现FRA测试的目的。达到方便快捷的实现FRA测试的目的。
【技术实现步骤摘要】
一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法
[0001]本专利技术涉及硬件测试
，特别是涉及一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法。
技术介绍
[0002]当前手机作为现代社会科技进步的象征，已经成为每个人都几乎必须拥有的工具。而手机拍照功能已经成为手机性能高低的因素之一，因此提高手机拍摄质量也成为各个手机厂商努力的方向。为了满足手机厂商对高质量拍摄的需求，很多芯片设计厂商研发出多种类型AF和OIS驱动芯片，其中AF驱动芯片用于当手机和拍摄物体距离改变时，自动调整聚光镜头(AF镜头)前后移动到最佳位置，使物体在感光Sensor上成像最清晰；而OIS驱动芯片，用于当正在拍摄照片的手机由于人手的抖动，造成图像模糊时，可以通过陀螺仪等设备检测出手机的抖动距离和方向，然后驱动防抖镜头(OIS镜头)移动相同的距离，以补偿人手的抖动，最终生成清晰的图像。
[0003]在驱动AF镜头和VCM镜头移动到指定位置时，需要在驱动芯片中增加控制算法，使镜头能快速稳定的移动到该指定位置。控制算法要想达到理想的控制效果，就需要根据镜头的F0、F1等频率点，以及幅值裕度、相角裕度等特性，调整控制算法的参数。而要检测出镜头的F0、F1频点，幅值裕度和相角裕度等参数，需要一种工具能检测出镜头的频率响应特性，FRA测试工具由此应运而生。
[0004]现有的FRA测试工具，如图1所示，包括：产生正弦信号的信号发生器11(用于给VCM提供输入信号)、测量VCM输出的信号检测仪12和计算输入与输出之间频率特性的分析仪13等测试设备。也即在进行FRA测试时，需要配置较多的测试设备，才能够完成FRA测试，且测试设备体积庞大、价格高昂，且需要专业人员才能操作，测试环境复杂。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于提出一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法，用以降低FRA测试成本和测试环境复杂度，达到方便快捷的实现FRA测试的目的。
[0006]为达到上述目的，本专利技术提供了以下技术方案：
[0007]一种FRA测试装置，包括：VCM驱动芯片；
[0008]所述VCM驱动芯片的输出端与待测试的VCM的输入端相连，所述VCM的输出端与所述VCM驱动芯片的输入端相连；
[0009]所述VCM驱动芯片用于，获取所述VCM驱动芯片所在的电子设备的控制器输出的正弦信号参数值，生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，将所述正弦信号输出至所述VCM，获取所述VCM的输出信号，根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性。
[0010]可选地，所述VCM驱动芯片包括数模转换电路、模数转换电路和数字信号处理器；
[0011]所述数模转换电路的输入端与所述数字信号处理器的输出端连接，所述数模转换
电路的输出端与所述VCM的输入端相连；
[0012]所述模数转换电路的输入端与所述VCM的输出端连接，所述模数转换电路的输出端与所述数字信号处理器的输入端连接；
[0013]所述数字信号处理器用于获取所述VCM驱动芯片所在的电子设备的控制器输出的正弦信号参数值，生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，通过所述数模转换电路将所述正弦信号输出至所述VCM，通过所述模数转换电路获取所述VCM的输出信号，根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性。
[0014]可选地，所述VCM驱动芯片用于生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，将所述正弦信号输出至所述VCM时，具体用于：
[0015]基于所述正弦信号参数值中的频率，确定所述VCM驱动芯片中的定时器在一个信号周期内的最大中断次数；
[0016]在所述最大中断次数内，基于所述定时器的实际中断次数和所述正弦信号参数值中的幅度，计算每次中断时的正弦信号幅度值；
[0017]将所述正弦信号幅度值转换为电流值，并输出至所述VCM，以将所述正弦信号参数值对应的正弦信号输出至所述VCM。
[0018]可选地，所述VCM驱动芯片用于根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性时，具体用于：
[0019]对所述正弦信号和所述输出信号进行幅频特性计算，得到幅频特性；
[0020]对所述正弦信号和所述输出信号进行相频特性计算，得到所述输出信号与所述正弦信号的相位差；
[0021]基于所述幅频特性和所述相位差，构建所述VCM的频率响应特性曲线。
[0022]可选地，所述VCM驱动芯片用于对所述正弦信号和所述输出信号进行幅频特性计算，得到幅频特性时，具体用于：
[0023]从对所述VCM输入的正弦信号的起始点开始，确定所述输出信号的一个信号周期内的最大值和最小值；
[0024]基于所述最大值和所述最小值，计算所述输出信号的峰峰值；
[0025]根据所述峰峰值和所述正弦信号参数值中的幅度，计算得到幅频特性。
[0026]可选地，所述VCM驱动芯片用于对所述正弦信号和所述输出信号进行相频特性计算，得到所述输出信号与所述正弦信号的相位差时，具体用于：
[0027]确定所述正弦信号的过零点和所述输出信号的过零点；
[0028]计算所述正弦信号的过零点和所述输出信号的过零点的时间差；
[0029]基于所述时间差，计算所述输出信号与所述正弦信号的相位差。
[0030]可选地，所述VCM驱动芯片用于确定所述正弦信号的过零点和所述输出信号的过零点时，具体用于：
[0031]确定使所述正弦信号的信号值为零的过零点；
[0032]从所述过零点开始，确定所述输出信号的信号值从负到正的信号点，并作为所述输出信号的过零点。
[0033]一种电子设备，包括上述的FRA测试装置，所述电子设备还包括控制器；
[0034]所述控制器用于，获取用户输入的正弦信号参数值，并将所述正弦信号参数值发送至所述VCM驱动芯片。
[0035]一种FRA测试系统，包括待测试的VCM以及上述的电子设备。
[0036]一种FRA测试方法，应用于上述的FRA测试装置中的VCM驱动芯片；
[0037]所述FRA测试方法包括：
[0038]获取所述VCM驱动芯片所在的电子设备的控制器输出的正弦信号参数值；
[0039]生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，将所述正弦信号输出至所述VCM；
[0040]获取所述VCM的输出信号；
[0041]根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性。
[0042]经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本申请公开了一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法，可以直接利用已有的VCM驱动芯片进行FRA测试，计算出VCM的频率响应特性，完成FRA测试工具的所有功能(产本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种FRA测试装置，其特征在于，包括：VCM驱动芯片；所述VCM驱动芯片的输出端与待测试的VCM的输入端相连，所述VCM的输出端与所述VCM驱动芯片的输入端相连；所述VCM驱动芯片用于，获取所述VCM驱动芯片所在的电子设备的控制器输出的正弦信号参数值，生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，将所述正弦信号输出至所述VCM，获取所述VCM的输出信号，根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性。2.根据权利要求1所述的FRA测试装置，其特征在于，所述VCM驱动芯片包括数模转换电路、模数转换电路和数字信号处理器；所述数模转换电路的输入端与所述数字信号处理器的输出端连接，所述数模转换电路的输出端与所述VCM的输入端相连；所述模数转换电路的输入端与所述VCM的输出端连接，所述模数转换电路的输出端与所述数字信号处理器的输入端连接；所述数字信号处理器用于获取所述VCM驱动芯片所在的电子设备的控制器输出的正弦信号参数值，生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，通过所述数模转换电路将所述正弦信号输出至所述VCM，通过所述模数转换电路获取所述VCM的输出信号，根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性。3.根据权利要求1所述的FRA测试装置，其特征在于，所述VCM驱动芯片用于生成所述正弦信号参数值对应的正弦信号，将所述正弦信号输出至所述VCM时，具体用于：基于所述正弦信号参数值中的频率，确定所述VCM驱动芯片中的定时器在一个信号周期内的最大中断次数；在所述最大中断次数内，基于所述定时器的实际中断次数和所述正弦信号参数值中的幅度，计算每次中断时的正弦信号幅度值；将所述正弦信号幅度值转换为电流值，并输出至所述VCM，以将所述正弦信号参数值对应的正弦信号输出至所述VCM。4.根据权利要求1所述的FRA测试装置，其特征在于，所述VCM驱动芯片用于根据所述正弦信号和所述输出信号，进行幅频特性计算和相频特性计算，以确定所述VCM的频率响应特性时，具体用于：对所述正弦信号和所述输出信号进行幅频特性计算，得到幅频特性；...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴孝红，张茹茹，童小彬，
申请(专利权)人：上海艾为电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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