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本申请公开了一种FRA测试装置、电子设备、系统及FRA测试方法，可以直接利用已有的VCM驱动芯片进行FRA测试，计算出VCM的频率响应特性，完成FRA测试工具的所有功能(产生正弦信号驱动VCM、检测VCM的输出信号以及计算VCM的频率响应特...
该专利属于上海艾为电子技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海艾为电子技术股份有限公司授权不得商用。

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