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基于多相机拼接偏折术测量大口径光学元件面形的方法技术

技术编号:37348697 阅读:24 留言:0更新日期:2023-04-22 21:45
本发明专利技术提出了一种多相机拼接偏折术测量大口径光学元件面形的方法。该方法将多相机同步优化标定、立体迭代面形重建和全局优化拼接相结合,不仅可以实现大口径光学元件面形的测量,而且还具有装置简单、测量速度快、成本低的优点。其中多相机同步优化标定的提出,使得该方法只需在利用平面标定靶同时对所有相机进行标定后,再利用高质量平面反射镜来标定其中一个相机和显示器间姿态关系即可完成相机和测量系统的标定,解决了已有方法中多相机多次标定所带来的误差累加问题;所采用的立体迭代面形重建和全局优化拼接算法使得该方法避免了参考元件的使用、复位误差的引入,以及多次拼接转换所带来的误差。拼接转换所带来的误差。拼接转换所带来的误差。

【技术实现步骤摘要】
基于多相机拼接偏折术测量大口径光学元件面形的方法


[0001]本专利技术涉及一种光学元件面形的高精度非接触测量
,尤其涉及一种基于多相机拼接偏折术测量大口径光学元件面形的方法。

技术介绍

[0002]强激光惯性约束聚变(Inertial Confinement Fusion,ICF)装置是利用多束强激光轰击氘氚靶丸来实现受控惯性约束聚变的,进而实现“点火”释放出聚变能,该转置可用于解决人类所面临的能源危机问题。目前世界上现有的三大ICF装置分别是美国的“国家点火装置”(National Ignition Facility,NIF)、法国的“兆焦耳激光”(Laser Megajoules,LMJ),以及中国的神光
‑Ⅲ
激光装置。这些系统装置中含有数量多达万计的400mm口径以上的方形光学元件。这些大口径光学元件作为大型激光装置的核心,其面形精度将直接影响系统的综合性能;而且,因为其数量之多,在需要实现高效批量加工的同时,更需要一种快速有效的高精度面形检测方法以指导加工。
[0003]传统的光学元件面形测量通常是利用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多相机拼接偏折术测量大口径光学元件面形的方法,其特征在于,包括,两台显示器,分别在标定和测量中用于显示正弦条纹图案作为结构光光源;六台相机,用于采集经被测元件表面上不同区域反射后的条纹图像;其中六台相机分别与显示器构成六个子检测系统,在被测元件表面上的测量区域分别为区域一、二、三、四、五和六,且相邻两子检测系统的测量区域间存在重叠区域;具体测量步骤如下:步骤一:相机和测量系统的标定在将多相机拼接偏折术测量系统中相机和测量所用显示器安装固定后,利用标定所用显示器作为平面标定靶,标定所用显示器上显示的正弦条纹图作为特征图案,改变标定靶姿态的同时利用六个相机采集标定靶上的特征图案,为保证相机标定精度利用相机拍摄30个不同姿态的平面标定靶;此时,利用针孔相机模型和镜头畸变模型来求解相机的内部参数、外部参数和畸变系数,并利用光束法平差对求解得到的参数以及控制点的世界坐标进行优化;然后选取相机一作为主相机,利用得到外部参数来计算得到其它相机坐标系与相机一坐标系间的位姿关系,并以此作为约束条件对所有相机的内部参数和畸变系数,以及相机一坐标系与标定靶上控制点所在坐标系间的位姿关系进行同步优化;然后,以测量所用显示器作为平面标定靶,利用高质量平面反射镜来完成相机一坐标系与测量所用显示器上控制点所在坐标系间姿态关系的标定,同样地为保证标定精度将平面反射镜放置于30个不同的姿态,然后利用相机一拍摄经平面反射镜反射的特征图案;然后,再利用针孔相机模型和镜头畸变模型来求解相机一的外部参数,并利用光束法平差对求解得到的参数以及控制点的世界坐标进行优化;完成优化后,选取测量所用显示器上控制点所在坐标系作为世界坐标系,利用标定得到的相机一的外部参数,以及其它相机坐标系与相机一坐标系间的位姿关系来获得所有相机坐标系与世界坐标系的位姿关系,进而完成相机与测量系统的标定;步骤二:立体迭代面形重建在完成相机和测量系统的标定后将被测元件固定;测量所用显示器上依次显示两组互相正交的正弦条纹图案,六台相机同步采集经被测元件表面反射后的条纹图像;利用相移和相位展开算法来获得对应的相位分布,再利用条纹相位周期与显示器像素个数的对应关系,以及显示器像素尺寸来获得显示器光源点坐标;然后,利用立体偏折术常用的立体搜索算法在所有重叠区域内分别确定一个反射点对于相机一与测量所用显示器所组成的子检测系统;它在被测元件表面的测量区域为区域一;假设被测元件表面是参考点所在的理想平面,其高度然后,利用公式(1)可计算得到反射点的初始坐标:反射点处的斜率可由公式(2)计算得到:
其中,d
m2c
和d
m2s
分别为反射点M
c1
到相机一投影中心和显示器光源点的距离;在计算得到斜率后,利用基于切比雪夫多项式的模式法重建得到相对高度得到相对高度式中,a<...

【专利技术属性】
技术研发人员:李大海张新伟王瑞阳郑万兴葛忍好张泽坤
申请(专利权)人:四川大学
类型:发明
国别省市:

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