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本发明提出了一种多相机拼接偏折术测量大口径光学元件面形的方法。该方法将多相机同步优化标定、立体迭代面形重建和全局优化拼接相结合，不仅可以实现大口径光学元件面形的测量，而且还具有装置简单、测量速度快、成本低的优点。其中多相机同步优化标定的提出...
该专利属于四川大学所有，仅供学习研究参考，未经过四川大学授权不得商用。

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