【技术实现步骤摘要】
一种具有AlGaN/InGaN超晶格势垒层的量子阱LED及其制备方法
[0001]本专利技术属于半导体发光器件
,具体涉及一种具有AlGaN/InGaN超晶格势垒层的量子阱LED及其制备方法。
技术介绍
[0002]以GaN为代表的III族氮化物半导体材料具有直接带隙结构、禁带宽度覆盖范围广、良好的热稳定性和化学稳定性等优势,现已广泛应用于各类光电器件的制备,其中发光二极管(LED)是目前III族氮化物半导体材料应用最为成熟的领域。GaN基LED的有源区主要采用多量子阱(MQWs)结构来提高对载流子的限制作用和器件的发光效率。然而,III族氮化物材料所具有的极化效应会使异质结界面处积累极化电荷,进而产生MV/cm量级的极化电场。极化电场会使量子阱的能带发生弯曲,降低量子阱中电子
‑
空穴波函数的重叠度,进而使量子阱中载流子的辐射复合率大幅降低,即量子限制斯塔克效应(QCSE)。QCSE导致LED的发光效率偏低且发光波长红移。
[0003]在以InGaN作为多量子阱结构阱层的蓝光LED中,采用Al ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种具有AlGaN/InGaN超晶格势垒层的量子阱LED,其特征在于:从下至上依次由衬底(1)、成核层(2)、n型GaN层(3)、具有AlGaN/InGaN超晶格势垒层的多量子阱有源层(4)、电子阻挡层(5)和p型GaN层(6)组成,在p型GaN层(6)和n型GaN层(3)上分别制备有上电极(7)和下电极(8);多量子阱有源层4为对数1~5的阱层/势垒层结构,阱层为In
y1
Ga1‑
y1
N材料,其中0<y1<1;势垒层为周期数5~10的Al
x
Ga1‑
x
N/In
y
Ga1‑
y
N超晶格材料,其中0<x<1,0<y<1;x和y的取值,使势垒层与阱层的禁带宽度差值ΔE
g
>0的同时,减小阱层与势垒层的极化强度差值ΔP,降低量子阱中的极化电场强度F
p
。2.如权利要求1所述的一种具有AlGaN/InGaN超晶格势垒层的量子阱LED,其特征在于:衬底(1)为蓝宝石、SiC或GaN;成核层(2)为低温GaN或AlN层,厚度为20~50nm;n型GaN层(3)为Si掺杂GaN层,掺杂浓度为10
18
cm
‑3量级,厚度为1~3μm;电子阻挡层(5)为Mg掺杂Al
m
Ga1‑
m
N层,其中0.1≤m≤0.3,掺杂浓度为10
19
cm
‑3量级,厚度为10~50nm;p型GaN层(6)为Mg掺杂GaN层,掺杂浓度为10
19
cm
‑3量级,厚度为100~200nm;上电极(7)为Au、Pt、Ni
‑
Au、Ni
‑
Pt或Ni
‑
Pt
‑
Au,厚度为30~120nm;下电极(8)为Ti
‑
Au、Ti
‑
Al
‑
Au、Ti
‑
Al
‑
Ni
‑
Au或Ti
‑
Al
‑
Ti
‑
Au,厚度为60~300nm;阱层厚度为1~3nm;势垒层的每个周期中Al
x
Ga1‑
x
【专利技术属性】
技术研发人员:张源涛,关涛,邓高强,张立东,左长财,
申请(专利权)人:吉林大学,
类型:发明
国别省市:
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