标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质，属于集成电路设计的技术领域。标准单元库验证方法，包括：获取标准单元库对应的待验证版图，标准单元库包括高度相等的N种待测试单元，待验证版图包括N个子拼接版图，N个子拼接版图中的第i个子拼接版图的第一行和第三行中，任意两个相邻的待测试单元分别为N种待测试单元中的第i种待测试单元和第i种待测试单元的镜像，第i个子拼接版图的第二行包括第i种待测试单元到第N种待测试单元，其中，每个子拼接版图的第一行、第二行和第三行在竖直方向上依次拼接，i依次取1至N，i、N为正整数；对待验证版图进行验证，得到N种待测试单元的验证结果。单元的验证结果。单元的验证结果。

【技术实现步骤摘要】
标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及集成电路设计的
，具体而言，涉及一种标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]为了检查标准单元库里任意单元(cell)的版图之间互相拼接是否违反流片厂家提供的设计规则，需要对标准单元库里所有单元进行任意现实应用中的拼接模拟，拼成的版图必须通过设计规则验证。
[0003]目前，需要对标准单元库里所有单元分别进行水平拼接和竖直拼接，并对拼接得到的版图分别验证。
[0004]现有的将每种单元与对应的镜像单元进行竖直拼接的方式如图1所示，每个拼接单元的第一行和第三行中，任意两个相邻的单元为同一单元和其镜像。若标准单元库包括N个单元，当拼接单元的第一行包括标准单元库中的第i个单元时，该拼接单元的第二行中，包括标准单元库中的第i个单元到第N个单元和第i个单元到第N个单元的镜像。在利用该拼接方案校验标准单元时，需要对每个拼接单元的第二行多次向预设方向移动一个步长，直至满足预设条件。其中，拼接单元的第二行每移动一个步长之前，都会保存当前的版图，在满足预设条件后，对保存的所有版图进行验证，得到验证结果。但由于版图中包括的单元数量较多，导致验证的效率较低。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有技术中由于版图中包括的单元数量较多，导致验证的效率较低的问题。
[0006]第一方面，本申请提供一种标准单元库验证方法，包括：获取标准单元库对应的待验证版图，所述标准单元库包括高度相等的N种待测试单元，所述待验证版图包括N个子拼接版图，N个所述子拼接版图中的第i个子拼接版图的第一行和第三行中，任意两个相邻的待测试单元分别为N种待测试单元中的第i种待测试单元和第i种待测试单元的镜像，所述第i个子拼接版图的第二行包括第i种待测试单元到第N种待测试单元，其中，每个子拼接版图的第一行、第二行和第三行在竖直方向上依次拼接，每个子拼接版图的第一行、第三行的长度大于自身第二行的长度，i依次取1至N，i、N为正整数；对所述待验证版图进行验证，得到所述N种待测试单元的验证结果。
[0007]本申请实施例中，由于每个子拼接版图的第二行仅包括N个测试单元中的第i种待测试单元到第N种待测试单元，也即本方案每个子拼接版图的第二行的测试单元的数量仅为现有技术的一半。因此，本方案中需要进行验证的版图的数据量相较于现有技术需要进行验证的版图的数据量更少，从而可以提高验证效率。
[0008]结合上述第一方面提供的技术方案，在一些可能的实施方式中，所述第i个子拼接版图的第一行包括K个第i种待测试单元，K＝[X/Y+3],X为所述第i个子拼接版图的第二行
的总长度，Y为第i种待测试单元的长度，[X/Y+3]表示对X/Y+3取整。
[0009]本申请实施例中，通过关系式K＝[X/Y+3]确定该子拼接版图第一行包括的测试单元的数量，可以保证每个子拼接版图中的第一行比其第二行至少长两个测试单元的长度。从而在后续的验证过程中，即使该子拼接版图的第二行移动，也可以始终处于该子拼接版图的第一行的在竖直方向的投影中，保证第二行的每个待测试单元始终与第一行完全拼接，提高最终得到的测试结果的准确性。
[0010]结合上述第一方面提供的技术方案，在一些可能的实施方式中，所述对所述待验证版图进行验证，得到所述N种待测试单元的验证结果，包括：对所述验证版图进行验证，得到第一子验证结果；将每个子拼接版图中的第二行向指定方向移动一个预设步长，对移动后的所述验证版图进行验证，得到第二子验证结果，重复上述步骤，直至满足预设条件，其中，所述验证结果包括得到的所有子验证结果。
[0011]本申请实施例中，每个子拼接版图中的第二行向指定方向移动一个预设步长，即对验证版图进行一次验证，使得在出现验证结果为错误时，可以快速定位出错的位置。
[0012]结合上述第一方面提供的技术方案，在一些可能的实施方式中，所述预设条件为将每个子拼接版图中的第二行向指定方向移动预设次数。
[0013]本申请实施例中，将每个子拼接版图中的第二行向指定方向移动预设次数作为预设条件，可以准确确定停止移动的时机。
[0014]结合上述第一方面提供的技术方案，在一些可能的实施方式中，所述第i个子拼接版图的第二行包括的第i种待测试单元到第N种待测试单元依次排列。
[0015]结合上述第一方面提供的技术方案，在一些可能的实施方式中，所述标准单元库中的第1种测试单元的长度至第N种测试单元的长度依次增大。
[0016]第二方面，本申请提供一种标准单元库验证装置，包括：获取模块、验证模块，获取模块用于获取标准单元库对应的待验证版图，所述标准单元库包括高度相等的N种待测试单元，所述待验证版图包括N个子拼接版图，N个所述子拼接版图中的第i个子拼接版图的第一行和第三行中，任意两个相邻的待测试单元分别为N种待测试单元中的第i种待测试单元和第i种待测试单元的镜像，所述第i个子拼接版图的第二行包括第i种待测试单元到第N种待测试单元，其中，每个子拼接版图的第一行、第二行和第三行在竖直方向上依次拼接，每个子拼接版图的第一行、第三行的长度大于自身第二行的长度，i依次取1至N，i、N为正整数；验证模块用于对所述待验证版图进行验证，得到所述N种待测试单元的验证结果。
[0017]结合上述第二方面提供的技术方案，在一些可能的实施方式中，所述验证模块，具体用于对所述验证版图进行验证，得到第一子验证结果；将每个子拼接版图中的第二行向指定方向移动一个预设步长，对移动后的所述验证版图进行验证，得到第二子验证结果，重复上述步骤，直至满足预设条件，其中，所述验证结果包括得到的所有子验证结果。
[0018]第三方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器连接；所述存储器，用于存储程序；所述处理器，用于调用存储于所述存储器中的程序，以执行如上述第一方面实施例和/或结合上述第一方面实施例的任一种可能的实施方式提供的方法。
[0019]第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被计算机运行时，执行如上述第一方面实施例和/或结合上述第一方
面实施例的任一种可能的实施方式提供的方法。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0021]图1为现有技术示出的待验证版图的结构示意图；
[0022]图2为本申请实施例示出的标准单元库验证方法的流程示意图；
[0023]图3为本申请实施例示出的标准单元库中待测试单元的摆放方式示意图；
[0024]图4为本申请实施例示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种标准单元库验证方法，其特征在于，包括：获取标准单元库对应的待验证版图，所述标准单元库包括高度相等的N种待测试单元，所述待验证版图包括N个子拼接版图，N个所述子拼接版图中的第i个子拼接版图的第一行和第三行中，任意两个相邻的待测试单元分别为N种待测试单元中的第i种待测试单元和第i种待测试单元的镜像，所述第i个子拼接版图的第二行包括第i种待测试单元到第N种待测试单元，其中，每个子拼接版图的第一行、第二行和第三行在竖直方向上依次拼接，每个子拼接版图的第一行、第三行的长度大于自身第二行的长度，i依次取1至N，i、N为正整数；对所述待验证版图进行验证，得到所述N种待测试单元的验证结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第i个子拼接版图的第一行包括K个第i种待测试单元，K＝[X/Y+3],X为所述第i个子拼接版图的第二行的总长度，Y为第i种待测试单元的长度，[X/Y+3]表示对X/Y+3取整。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述待验证版图进行验证，得到所述N种待测试单元的验证结果，包括：对所述验证版图进行验证，得到第一子验证结果；将每个子拼接版图中的第二行向指定方向移动一个预设步长，对移动后的所述验证版图进行验证，得到第二子验证结果，重复上述步骤，直至满足预设条件，其中，所述验证结果包括得到的所有子验证结果。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设条件为将每个子拼接版图中的第二行向指定方向移动预设次数。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第i个子拼接版图的第二行包括的第i种待测试单元到第N种待测试单元依次排列。6.根据权利要求1所述的方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：俞淑贞，
申请(专利权)人：芯原微电子上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：