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本申请提供一种标准单元库验证方法、装置、电子设备及存储介质，属于集成电路设计的技术领域。标准单元库验证方法，包括：获取标准单元库对应的待验证版图，标准单元库包括高度相等的N种待测试单元，待验证版图包括N个子拼接版图，N个子拼接版图中的第i个...
该专利属于芯原微电子（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯原微电子（上海）股份有限公司授权不得商用。

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