一种瓷砖尺寸检测设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种瓷砖尺寸检测设备，包括支架主体，所述支架主体上设置有检测机构，所述检测机构包括厚度检测组件与长宽检测组件；所述厚度检测组件包括固定式滚轮、活动式滚轮、缓冲弹性件、滚轮支架、以及位移传感器；所述长宽检测组件包括避光罩、检测相机、导光板、以及标记部；相较于现有的瓷砖尺寸检测设备，设有的厚度检测组件能够检测出瓷砖的厚度，利用导光板的背景光与检测相机相互配合，可以精确计算出瓷砖的长度与宽度，而设有遮光涂层的避光罩与遮光块能进一步保证避光室始终处在弱光环境中，进一步提高检测的精度。进一步提高检测的精度。进一步提高检测的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种瓷砖尺寸检测设备


[0001]本技术涉及瓷砖检测的
，尤其涉及一种瓷砖尺寸检测设备。

技术介绍

[0002]随着建筑行业的发展，人们对瓷砖的尺寸精度的要求也日益增加，人工测量已经难以满足如今的市场需求，现有的瓷砖检测设备中，大多是利用光源与高精度的检测相机所组成的检测系统进行检测，该检测系统检测的精度速度虽然能够达到要求，但是该系统需要处在一处相对避光的暗房中，否则检测的精度会被外界的光源所影响；而且常规的瓷砖检测通常只能检测瓷砖的长度与宽度，想要检测厚度就必须通过复杂的算法，使得设备的成本增加；且在检测时需要将瓷砖的输送速度降下，甚至停止，需要一定的时间，因此，现有的瓷砖尺寸检测设备尚有需要改进的地方。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种瓷砖尺寸检测设备，可以快速精确地检测瓷砖的尺寸与厚度，在保证检测精度的同时还能降低设备的成本。
[0004]为了达到上述的目的，本技术提供了一种瓷砖尺寸检测设备，包括支架主体，所述支架主体上设置有检测机构，所述检测机构包括厚度检测组件与长宽检测组件；
[0005]所述厚度检测组件包括固定式滚轮、活动式滚轮、缓冲弹性件、滚轮支架、以及位移传感器；所述滚轮支架固定安装在支架主体上，且在滚轮支架的两侧设置有通孔与腰型孔，所述固定式滚轮安装于通孔中，所述活动式滚轮安装于腰型孔中，且活动式滚轮可在腰型孔中上下活动，所述缓冲弹性件安装于活动式滚轮与滚轮支架之间，用以维持活动式滚轮与滚轮支架的相对位置；所述位移传感器处在滚轮支架侧端；
>[0006]所述长宽检测组件包括避光罩、检测相机、导光板、以及标记部；所述避光罩固定安装于支架主体上，且在避光罩上开设有传输口，在传输口处设置有由若干遮光块所组成的遮光帘；所述检测相机固定安装于避光罩上方，所述导光板通过导光支架安装于避光罩中，且在导光板上方设有透光带；为了驱动透光带转动，在导光支架上还设有驱动轴；所述标记部安装于避光罩上。
[0007]通过采用上述设计方案，当待检测的瓷砖穿过厚度检测组件时，在瓷砖的挤压下活动式向上抬升一定的距离，而位于滚轮支架侧面上的位移传感器则记录活动式滚轮位移的相对距离，以此来测算出瓷砖的厚度；当瓷砖穿过厚度检测组件后，依靠自身的强度将处在遮光帘，进入到避光罩内部，随后导光板发出微弱的光亮，处在避光罩上的检测相机则开始记录瓷砖的长度与宽度；由于瓷砖本体不透光，因此计算导光板被遮挡部分的面积即可精确地得出瓷砖的具体尺寸信息。
[0008]作为优选，所述标记部包括固定安装在避光罩上的标记支架、固定安装在标记支架上的导轨、与导轨相互契合且安装有延展架的滑块、安装在延展架上标记头、以及用于驱动滑块在滑轨上活动的标记驱动件。
[0009]通过采用上述设计方案，当检测到不合格的瓷砖时，来到标记部下方的瓷砖将会被打上标记，以便后续的分拣工作；在标记驱动件额的驱动下延展架携带着标记头缓缓向下运动，使得标记头与瓷砖接触，并在瓷砖上留下标记。
[0010]作为优选，所述避光罩上设有隔板，所述隔板将避光罩隔为一级避光室与二级避光室；所述一级避光室与二级避光室中均设有检测相机、导光板、导光支架、驱动轴、以及透光带；所述标记部处在二级避光室中。
[0011]通过采用上述设计方案，瓷将会依次经过两个避光室，进行反复检测，以此来保证检测的准确性。
[0012]作为优选，所述支架主体上设有传输组件。
[0013]作为优选，所述传输组件包括固定安装在支架主体上的传输支架、位于传输支架上的若干传动轴、以及位于传动轴上方的传输皮带。
[0014]作为优选，所述避光罩与遮光块的表层喷涂有遮光涂层。
[0015]通过采用上述设计方案，喷涂有遮光涂层的避光罩与遮光块能进一步保证避光室始终处在弱光环境中，以此来提高检测机精度。
[0016]作为优选，所述导光板上设有若干排列紧密、光线强度可调的彩色贴片灯珠。
[0017]通过采用上述设计方案，在检测时彩色贴片灯珠将会发出微弱的光照，并且光照的颜色会逐渐变化，检测相机可以检测在不同光照背景下瓷砖所形成的阴影面积，进一步精确测量出来的尺寸。
[0018]本技术所提供的一种瓷砖尺寸检测设备，相较于现有的瓷砖尺寸检测设备，设有的厚度检测组件能够检测出瓷砖的厚度，利用导光板的背景光与检测相机相互配合，可以精确计算出瓷砖的长度与宽度，而设有遮光涂层的避光罩与遮光块能进一步保证避光室始终处在弱光环境中，进一步提高检测的精度。
附图说明
[0019]图1是本技术的主体视图；
[0020]图2是本技术的剖视图；
[0021]图3是图2中A部分的局部放大图；
[0022]图4是本技术长宽检测组件的立体剖视图；
[0023]图5是本技术厚度检测组件的立体视图；
[0024]图6是本技术厚度检测组件的剖视图；
[0025]图7是本技术传输组件的立体视图；
[0026]图8是本技术标记部的立体视图。
[0027]附图标记说明：
[0028]其中，1、支架主体；2、长宽检测组件；3、厚度检测组件；4、传输组件；201、避光罩；202、遮光帘；203、导光板；204、驱动轴；205、透光带；206、一级避光室；207、二级避光室；208、标记部；209、检测相机；210、标记支架；211、滑轨；212、标记驱动件；213、延展架；214、标记头；215、导光支架；301、滚轮支架；302、固定式滚轮；303、活动式滚轮；304、位移传感器；305、缓冲弹性件；401、传输支架；402、传动轴；403、传输皮带。
具体实施方式
[0029]以下结合具体实施例对本技术作详细说明。
[0030]在本技术中，除另有明确规定和限定，当出现术语如“设置在”、“相连”、“连接”时，这些术语应作广义去理解，例如，可以是固定连接、可拆卸连接或一体连接；可以是直接相连或通过一个或多个中间媒介相连。对于本领域技术人员而言，可以根据具体情况理解上述的术语在本技术中的具体含义。对于本技术中所出现的方向词，是为了能更好地对特征的特点及特征间的关系进行说明，应当理解的是，当本技术的摆放方向发生改变时，特征的特点及特征间的关系的方向也对应发生改变，因此方向词不构成对特征的特点及特征间的关系在空间内的绝对限定作用，仅起到相对限定作用。
[0031]如图1至图8所示，一种瓷砖尺寸检测设备，包括支架主体1，在支架主体1上设置有检测机构与输送组件，检测机构又包括有厚度检测组件3与长宽检测组件2。
[0032]厚度检测组件3包括固定式滚轮302、活动式滚轮303、缓冲弹性件305、滚轮支架301、以及位移传感器304；滚轮支架301固定安装在支架主体1上，在滚轮支架301的两个侧面上均设置有通孔与腰型孔，而固定式滚轮302则通过通孔安装于固定式支架中，且固定式滚轮302还本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种瓷砖尺寸检测设备，包括支架主体(1)，其特征在于：所述支架主体(1)上设置有检测机构，所述检测机构包括厚度检测组件(3)与长宽检测组件(2)；所述厚度检测组件(3)包括固定式滚轮(302)、活动式滚轮(303)、缓冲弹性件(305)、滚轮支架(301)、以及位移传感器(304)；所述滚轮支架(301)固定安装在支架主体(1)上，且在滚轮支架(301)的两侧设置有通孔与腰型孔，所述固定式滚轮(302)安装于通孔中，所述活动式滚轮(303)安装于腰型孔中，且活动式滚轮(303)可在腰型孔中上下活动，所述缓冲弹性件(305)安装于活动式滚轮(303)与滚轮支架(301)之间，用以维持活动式滚轮(303)与滚轮支架(301)的相对位置；所述位移传感器(304)处在滚轮支架(301)侧端；所述长宽检测组件(2)包括避光罩(201)、检测相机(209)、导光板(203)、以及标记部(208)；所述避光罩(201)固定安装于支架主体(1)上，且在避光罩(201)上开设有传输口，在传输口处设置有由若干遮光块所组成的遮光帘(202)；所述检测相机(209)固定安装于避光罩(201)上方，所述导光板(203)通过导光支架(215)安装于避光罩(201)中，且在导光板(203)上方设有透光带(205)；为了驱动透光带(205)转动，在导光支架(215)上还设有驱动轴(204)；所述标记部(208)安装于避光罩(201)上。2.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴国章，刘连财，梁寿勇，
申请(专利权)人：佛山市南海裕大陶瓷有限公司，
类型：新型
国别省市：