一种光耦驱动能力测试方法及系统技术方案

本发明专利技术为一种光耦驱动能力测试方法及系统，选取待测试光耦U2放置测试系统的测试位，选取光耦标准件U1，放置在标准参考位；向待测试光耦U2与光耦标准件U1的输入侧施加测试电压Vin；向光耦标准件U1和待测试光耦U2输出侧的集电极施加输出侧电压Vdd；将光耦标准件U1和待测试光耦U2输出侧的发射极的电流Ic1和电流Ic2转换为电压Vc1和电压Vc2；将转换后的电压Vc1和电压Vc2输送至逻辑处理模块进行合并，逻辑处理模块输出电压Vout；将电压Vout与电压Vc1传输至波形分析单元，对电压Vout的占空比Dout与电压Vc1的占空比Dc1进行对比分析。提高了测试光耦在处理数字信号效率的准确性，具有稳定性强，结果直观，可调控性强的特点。可调控性强的特点。可调控性强的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种光耦驱动能力测试方法及系统


[0001]本专利技术涉及光耦测试
，具体为一种光耦驱动能力测试方法及系统。

技术介绍

[0002]光耦即为光电耦合器，其工作原理为将电信号输入至输入侧，经过发光二极管转换为光信号，输出侧的光效应管再将光信号转换为电信号，可以实现将电路系统前后级隔离的作用，光耦常用于隔离、电流放大，在模电和数电中都有广泛应用。
[0003]现有技术中对光耦的检测更多于倾向于对CTR（电流传输比）进行检测，CTR作为光耦电学特性的基本指标，是一个重要依据，但是更多应用于模电领域，及模拟信号的依据。在数字电路领域，光耦可以很好的传播数字信号，而用CTR反应光耦通断速度，存在计算过程繁琐，结果输出不直观，可靠性差的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术提出了一种光耦驱动能力测试方法及系统，应用本申请的方案，解决了测试光耦通断的计算过程繁琐，测试流程复杂，准确率低、效率低的问题，具有稳定性强，结果直观，可调控性强的特点。
[0005]本专利技术的技术方案如下：一种光耦驱动能力测试方法，选取待测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光耦驱动能力测试方法，选取待测试光耦U2放置在测试系统的测试位，其特征在于：选取光耦标准件U1，放置在标准参考位；向所述待测试光耦U2与所述光耦标准件U1的输入侧施加相同测试电压Vin；向所述光耦标准件U1和所述待测试光耦U2输出侧的集电极施加相同输出侧电压Vdd；将所述光耦标准件U1和所述待测试光耦U2输出侧的发射极所输出的电流Ic1和电流Ic2转换为电压Vc1和电压Vc2；将转换后的电压Vc1和电压Vc2输送至逻辑处理模块进行合并，所述逻辑处理模块输出电压Vout；将所述电压Vout与所述电压Vc1传输至波形分析单元，对所述电压Vout的占空比Dout与所述电压Vc1的占空比Dc1进行对比分析；得到k1=Dc1/Dout，k1∈（0，1），通过k1值反应所述待测试光耦U2的驱动效率。2.一种光耦驱动能力测试方法，选取待测试光耦U2放置在测试系统的测试位，其特征在于：选取光耦标准件U1，放置在标准参考位；向所述待测试光耦U2与所述光耦标准件U1的输入侧施加相同测试电压Vin；向所述光耦标准件U1和所述待测试光耦U2输出侧的集电极施加相同输出侧电压Vdd；将所述光耦标准件U1和所述待测试光耦U2输出侧的发射极所输出的电流Ic1和电流Ic2转换为电压Vc1和电压Vc2；将转换后的电压Vc1和电压Vc2输送至逻辑处理模块进行合并，所述逻辑处理模块输出电压Vout，同时，将所述电压Vc1输送至对照处理模块，所述电压Vc1经所述对照处理模块处理后输出标准电压Vst；将所述电压Vout与所述标准电压Vst传输至波形分析单元，对所述电压Vout的占空比Dout与所述标准电压Vst的占空比Dst进行对比分析；得到k2=Dst/Dout，k2∈（0，1），通过k2值反应待测试光耦U2的驱动效率。3.根据权利要求2所述的一种光耦驱动能力测试方法，其特征在于：还包括对所述电流Ic2进行采集，并将采集后的电流值传递至CTR分析单元，对所述待测试光耦U2的CTR值进行计算。4.根据权利要求3所述的一种光耦驱动能力测试方法，其特征在于：根据所述CTR分析单元的分析结果，向所述待测试光耦U2的集电极进行电压补偿，施加补偿电压Vref。...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴燊，顾汉玉，林泽佑，陈天柱，
申请(专利权)人：宁波群芯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：