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本发明为一种光耦驱动能力测试方法及系统，选取待测试光耦U2放置测试系统的测试位，选取光耦标准件U1，放置在标准参考位；向待测试光耦U2与光耦标准件U1的输入侧施加测试电压Vin；向光耦标准件U1和待测试光耦U2输出侧的集电极施加输出侧电压V...
该专利属于宁波群芯微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁波群芯微电子股份有限公司授权不得商用。

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