存储装置及其数据保护处理性能优化方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种存储装置及其数据保护处理性能优化方法。存储装置包括存储器及控制器。控制器包括第一检测模块、第二检测模块、命令生成模块及纠错码电路。第一检测模块对从存储器内读取的错误数据进行数据纠错并判断数据纠错是否失败。第二检测模块在数据纠错失败时判断优选检测表中是否存在有效索引且在优选检测表中不存在有效索引时判断常规检测表中是否存在有效索引。命令生成模块在优选检测表或常规检测表中存在有效索引时根据有效索引生成设置特征命令，控制重试次数增加一次，并根据有效索引通过纠错码电路对存储器内的错误数据进行有效配置。在优选检测表和常规检测表中均不存在有效索引时识别错误数据为不可纠正的纠错码。可纠正的纠错码。可纠正的纠错码。

【技术实现步骤摘要】
存储装置及其数据保护处理性能优化方法


[0001]本专利技术涉及数据存储
，特别是涉及一种存储装置及其数据保护处理性能优化方法。

技术介绍

[0002]存储器在进行数据读取过程中可能产生纠错码(Error checking code，ECC)。此时，通常需要利用厂家提供的试错表(retry table)对ECC进行纠正。由于存储器在执行数据纠正时采用逐条查询retry table的方式，在执行试错的次数越多时，存储器对写命令的延迟时间越长，导致存储器的数据处理速度就会变得异常缓慢。

技术实现思路

[0003]鉴于上述状况，本专利技术提供一种存储装置及其数据保护处理性能优化方法，旨在解决现有技术中在对错误数据进行纠错时存储器的数据处理速度缓慢的问题。
[0004]本专利技术提供了一种存储装置，包括存储器及控制器；所述控制器可基于外部装置的请求来读取所述存储器内存储的数据，所述控制器用于检测并校正所述控制器从所述存储器中读取的错误数据；所述控制器包括：
[0005]第一检测模块，用于对从所述存储器内读取的错误数据进行数据纠错并判断所述数据纠错是否失败；
[0006]第二检测模块，用于在所述数据纠错失败时判断优选检测表中是否存在有效索引；在所述优选检测表中不存在有效索引时判断常规检测表中是否存在所述有效索引；其中，所述优选检测表内的检测参数少于所述常规检测表内的检测参数；在所述优选检测表内存储的所述检测参数为在预定期间内多次被索引的所述检测参数，且按照索引时间顺序进行排列；以及
[0007]命令生成模块，用于在所述优选检测表或所述常规检测表中存在所述有效索引时根据所述有效索引生成设置特征命令，控制重试次数增加一次，并根据所述有效索引通过所述纠错码电路对所述存储器内的错误数据进行有效配置；
[0008]其中，在所述优选检测表和所述常规检测表中均不存在有效索引时，所述第二检测模块识别所述错误数据为不可纠正的纠错码。
[0009]本专利技术还提出了一种存储装置的数据保护处理性能优化方法，所述存储装置包括存储器及控制器；所述控制器可基于外部装置的请求读取所述存储器内存储的数据；所述控制器用于检测并校正所述控制器从所述存储器中读取的错误数据；所述控制器包括第一检测模块、第二检测模块、命令生成模块以及纠错码电路；所述数据保护处理性能优化方法包括：
[0010]所述第一检测模块对从所述存储器中读取的错误数据进行数据纠错；
[0011]所述第一检测模块判断所述数据纠错是否失败；
[0012]在所述数据纠错失败时，所述第二检测模块判断在优选检测表内判断是否存在有
效索引；
[0013]在所述优选检测表内不存在有效索引时，所述第二检测模块判断常规检测表内是否存在所述有效索引；其中，所述优选检测表内的检测参数少于所述常规检测表内的检测参数；在所述优选检测表内存储的所述检测参数为在预定期间内多次被索引的所述检测参数，且按照索引时间顺序进行排列；
[0014]在所述优选检测表内存在有效索引或所述常规检测表内存在有效索引时，所述命令生成模块根据所述有效索引生成设置特征命令；
[0015]所述命令生成模块控制重试次数增加一次，并根据所述有效索引通过所述纠错码电路对所述存储器内的数据进行有效配置；
[0016]在所述优选检测表和所述常规检测表中均不存在所述有效索引时，所述第二检测模块识别所述错误数据为不可纠正的纠错码。
[0017]上述存储装置及其数据保护处理性能优化方法，设置优选检测表，在对从所述存储器内读取的数据进行数据纠错时优先在所述优选检测表内判断是否存在有效索引，可减少所述控制器的纠错时间，另外，在所述优选检测表内不存在有效索引时在所述常规检测表内检测是否存在有效索引，可保证所述控制器在纠错过程中试错参数的全面性。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0019]图1为本专利技术较佳实施方式的存储装置的模块示意图。
[0020]图2为图1中所述控制器的模块示意图。
[0021]图3为本专利技术较佳实施方式的数据保护处理性能优化方法的流程图。
[0022]主要元件符号说明
[0023]存储装置
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10
[0025]控制器
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30
[0026]通信总线
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50
[0027]第一检测模块
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[0028]第二检测模块
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[0029]命令生成模块
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[0030]ECC电路
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[0031]第三检测模块
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[0032]调整模块
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[0033]步骤
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S10
‑
S19
[0034]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。
具体实施方式
[0035]下面将结合本专利技术实施方式中的附图，对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅是本专利技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本专利技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施方式，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]需要说明的是，当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中设置的元件。当一个元件被认为是“设置在”另一个元件，它可以是直接设置在另一个元件上或者可能同时存在居中设置的元件。
[0037]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0038]下面将结合附图对本专利技术的存储装置及其数据保护处理性能优化方法的具体实施方式进行说明。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储装置，包括存储器及控制器；所述控制器可基于外部装置的请求来读取所述存储器内存储的数据，所述控制器用于检测并校正所述控制器从所述存储器中读取的错误数据；其特征在于，所述控制器包括：检测模块，用于判断数据纠错是否失败；重读模块，用于采用可动态调整的优选检测表中的参数对所述存储器执行重读操作；调整模块，用于根据重读次数动态调整所述优选检测表中的参数；其中，所述检测模块检测在采用所述优选检测表中的参数执行所述重读操作后所述数据纠错是否失败；在采用所述优选检测表中的参数执行所述重读操作且所述数据纠错成功时，所述重读操作结束；在采用所述优选检测表中的参数执行所述重读操作且所述数据纠错失败时，所述重读模块采用常规检测表中的参数对所述存储器执行所述重读操作；所述检测模块检测在采用所述常规检测表中的参数执行所述重读操作后所述数据纠错是否失败；在采用所述常规检测表中的参数执行所述重试操作且所述数据纠错成功时，所述重读操作结束；在采用所述常规检测表中的参数执行所述重读操作且所述数据纠错失败时，所述检测模块识别所述存储器存在不可纠正的错误。2.如权利要求1所述的存储装置，其特征在于，所述控制器还包括：第三检测模块，用于在所述数据纠错成功时判断所述重试次数是否大于零；以及调整模块，用于在所述重试次数大于零时根据所述设置特征命令更新所述优选检测表，并将所述重试次数清零。3.如权利要求2所述的存储装置，其特征在于，所述调整模块将当前所述有效索引调整至所述优选检测表内的指定位置。4.如权利要求1所述的存储装置，其特征在于，所述常规检测表包括所述优选检测表以及未包含在所述优选检测表内的多个检测参数。5.如权利要求1所述的存储装置，其特征在于，所述有效索引为所述检测参数对应的数据地址与所述错误数据对应的数据地址一致。6.一种存储装置的数据保护处理性能优化方法，所述存储装置包括存储器及控制器；所述控制器可基于外部装置的请求读取所述存储器内存储的数据；所述控制器用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏益新，
申请(专利权)人：中山市江波龙电子有限公司，
类型：发明
国别省市：