全光纤三维断层扫描系统技术方案

本发明专利技术公开一种全光纤三维断层扫描系统，其包括扫频激光器、第一光耦合器、第一光循环器、第一光准直器、第一凸透镜、电控衰减器、第二光循环器、第二光准直器、第二凸透镜、第二光耦合器与平衡侦测器。全光纤三维断层扫描系统包括的扫频激光器能够利用撷取光学信号以获取影像的技术且采用全光纤的线路架构，可对光学散射介质如生物组织等快速进行线或面扫描，以获得高分辨率的三维图像。以获得高分辨率的三维图像。以获得高分辨率的三维图像。

【技术实现步骤摘要】
全光纤三维断层扫描系统


[0001]本专利技术涉及一种光学检视系统，尤其是指一种全光纤三维断层扫描系统，能够利用撷取光学信号以获取影像的技术且采用全光纤的线路架构，可对光学散射介质如生物组织等快速进行线或面扫描，以获得高分辨率的三维图像。

技术介绍

[0002]在许多当前行业中，检查微小结构的表面或获得三维信息是非常重要的。在光干涉领域中，当参考光束和扫描光束的路径长度彼此一致时发生干涉。更具体地，干涉产生条件是光源同调长度(coherence length)。当路径长度差小于光源同调长度时，将发生光学干涉。非透明标本可以用迈克尔逊干涉仪(Michelson interferometer)或米劳干涉仪(Mirau interferometer)检查。透明样品也可以通过干涉法测量。
[0003]迈克尔逊干涉仪是光学干涉仪中最常用的配置之一。通过使用分束器(beam splitter)，光源被分为两个路径。两个光束都被反射回分束器，然后分束器合并并产生干涉。所产生的未导向回光源的干涉图样通常会导向到某类型的光电侦测器(detector)或照本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种全光纤三维断层扫描系统，尤用以对一待观测物高速进行三维断层扫描，其特征在于，该全光纤三维断层扫描系统包括：一扫频激光器，其用以发射出不同波长的激光光线；一第一光耦合器，其以光纤连接至该扫频激光器，该第一光耦合器用以接收该扫频激光器所发射出的一初始入射光线，并且将其分路为一第一入射光线与一第二入射光线，其中该第一入射光线的光线数量为该第二入射光线的40～60倍；一第一光学扫描模块，其以光纤连接至该第一光耦合器以接收该第一入射光线，其中该第一入射光线射向该待观测物，以产生一第一反射光线；一第二光学扫描模块，其以光纤连接至该第一光耦合器以接收该第二入射光线，其中该第二入射光线射向一平面镜，以产生一第二反射光线；一第二光耦合器，其以光纤连接至该第一光学扫描模块与该第二光学扫描模块以分别将该第一反射光线与该第二反射光线予以合并，其中该第二光耦合器的两个输出口输出同样光线数量的一第一目标光线与一第二目标光线且彼此进行光学干涉效应；以及一平衡侦测器，其以光纤连接至该第二光耦合器的两个输出口，以接收该第一目标光线与该第二目标光线，且在进行信号处理后输出一光学测量信号。2.如权利要求1所述的全光纤三维断层扫描系统，其特征在于，该第一光学扫描模块包括：一第一光循环器，其以光纤连接至该第一光耦合器以接收该第一入射光线，其中该第一入射光线从该第一光循环器的第一端口进入且从第二端口出去；一第一光准直器，其以光纤连接至该第一光循环器的第二端口，该第一光准直器用以将该第一入射光线的发散光转变为平行光；...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡宗霖，郭俊毅，陈律名，
申请(专利权)人：高科晶捷自动化股份有限公司，
类型：发明
国别省市：