一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法及系统，包括以下步骤：S1、对镀膜基片进行清洗并烘干；S2、将镀膜基片放置于治具上进行固定；S3、对镀膜前的镀膜基片进行图像三维建模处理，得到基础模型；S4、对镀膜前的镀膜基片的厚度进行获取，并对镀膜基片的外形尺寸进行获取，本发明专利技术的有益效果是：通过对镀膜基片进行清洗和烘干处理，对镀膜基片进行超声波清洗处理，清洗后对镀膜基片进行烘干处理，提高了加工的稳定性，通过对基础模型和镀膜模型的图像进行比对处理，从而观察两者之间的差距，对尺寸和镀膜厚度进行检测处理，提高了检测效率。提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及镀膜质量检测
，具体为一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法及系统。

技术介绍

[0002]真空镀膜设备主要指一类需要在较高真空度下进行的镀膜，具体包括很多种类，包括真空离子蒸发，磁控溅射，MBE分子束外延，PLD激光溅射沉积等很多种，主要思路是分成蒸发和溅射两种，镀膜是在表面镀上非常薄的透明薄膜。当光线进入不同传递物质时，大约有5％会被反射掉，在光学瞄准镜中有许多透镜和折射镜，整个加起来可以让入射光线损失达30％至40％，在现有的镀膜机在镀膜后需要对镀膜的质量进行检测处理，对镀膜的厚度进行检测处理，但现有的镀膜质量检测方法往往为检测厚度和表面的平整度，对于镀膜质量的检测效率较低，对镀膜质量的检测不够全面。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法及系统，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法，包括以下步骤：
[0005]S1、对镀膜基片进行清洗并烘干；
[0006]S2、将镀膜基片放置于治具上进行固定；
[0007]S3、对镀膜前的镀膜基片进行图像三维建模处理，得到基础模型；
[0008]S4、对镀膜前的镀膜基片的厚度进行获取，并对镀膜基片的外形尺寸进行获取；
[0009]S5、对镀膜机镀膜后的镀膜基片进行图像扫描并进行三维建模处理，得到镀膜模型；
[0010]S6、将S3得到的基础模型与S5中的镀膜模型进行重合对比处理；
[0011]S7、对模型差距位置进行获取；
[0012]S8、根据模型差距位置对镀膜后的镀膜基片厚度和边角进行检测；
[0013]S9、设置质量差距阈值，对尺寸和厚度进行检查处理；
[0014]S10、通过对镀膜通电，查询各个镀膜位置通电后的电阻大小；
[0015]S11、计算出各个镀膜位置的电阻阈值，通过电阻阈值的对比并对镀膜质量进行检测处理。
[0016]作为优选，所述S1中的对镀膜基片进行清洗并烘干具体包括以下步骤：
[0017]将镀膜基片置于纯水中并进行反复冲洗，然后放入清洗篮内并通过超声波清洗机进行超声波清洗处理，超声波清洗后通过烘干机进行热风烘干处理，热风温度为70
‑
90℃，吹热风时间为40
‑
55min。
[0018]作为优选，所述S3中的对镀膜前的镀膜基片进行图像三维建模处理具体包括以下
步骤：
[0019]S31、对镀膜基片的外部进行360
°
扫描处理；
[0020]S32、将获取的360
°
图像进行录入处理；
[0021]S33、根据录入的360
°
图像进行三维模型建立处理，从而获得镀膜基片的信息。
[0022]作为优选，所述S4中的厚度进行获取具体包括以下步骤：
[0023]S41、对镀膜前的镀膜基片的凸面、凹面状态进行识别处理；
[0024]S42、对凸面和凹面的斜度进行测量处理；
[0025]S43、对镀膜基片的原始厚度进行测量处理。
[0026]作为优选，所述S6中的将S3得到的基础模型与S5中的镀膜模型进行重合对比处理具体包括以下步骤：
[0027]S61、将基础模型图像与镀膜模型图像进行结合，将各个对应的位置进行重合对比处理；
[0028]S62、对镀膜模型多余的位置进行记录处理，即可获取对比数据。
[0029]作为优选，所述S8中的对镀膜后的镀膜基片厚度和边角进行检测具体包括以下步骤：
[0030]S81、根据对比后的模型差距位置对存在差距的基片厚度进行计算处理；
[0031]S82、对镀膜基片的边角差距进行尺寸计算处理；
[0032]S83、查询计算后的差距厚度和边角差距尺寸；
[0033]S84、对各个位置的差距厚度进行对比处理，对各个位置的边角差距进行对比处理。
[0034]作为优选，所述S9中的设置质量差距阈值具体包括以下步骤：
[0035]S91、对基础模型和镀膜模型的边角尺寸的差距进行尺寸差距值设置；
[0036]S92、对基础模型和镀膜模型的厚度差距进行厚度差距值设置。
[0037]作为优选，所述S10中的查询各个镀膜位置通电后的电阻大小具体包括以下步骤：
[0038]S101、对镀膜基片的表面进行通电；
[0039]S102、检测镀膜基片的各个位置的通电电流大小，从而对各个位置的镀膜电阻值进行计算处理。
[0040]作为优选，所述S11中的计算出各个镀膜位置的电阻阈值具体包括以下步骤：
[0041]S111、检测镀膜后的基片厚度增加的数值，然后通过增加的厚度数值对造成的电阻值进行计算处理；
[0042]S112、得到电阻值范围，对检测出的电阻大小进行对比，检测镀膜的合格。
[0043]一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测系统，包括超声波清洗单元、图像三维建模单元、尺寸计算单元和通电检测单元；
[0044]所述超声波清洗单元用于对镀膜基片进行预先超声波清洗处理；
[0045]所述图像三维建模单元用于对镀膜基片进行图像扫描并通过扫描的图像进行三维建模处理；
[0046]所述尺寸计算单元用于对镀膜后的镀膜基片尺寸进行计算处理；
[0047]所述通电检测单元用于根据镀膜基片通电时的电阻大小对镀膜厚度进行检测处理。
[0048]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
[0049]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：通过对镀膜基片进行清洗和烘干处理，对镀膜基片进行超声波清洗处理，清洗后对镀膜基片进行烘干处理，提高了加工的稳定性，通过对基础模型和镀膜模型的图像进行比对处理，从而观察两者之间的差距，对尺寸和镀膜厚度进行检测处理，提高了检测效率，通过对镀膜进行通电处理，观察电阻值对镀膜的质量进行检测处理，提高了检测效率。
具体实施方式
[0050]基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0051]本专利技术提供一种技术方案：一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法，包括以下步骤：
[0052]S1、对镀膜基片进行清洗并烘干；
[0053]S2、将镀膜基片放置于治具上进行固定；
[0054]S3、对镀膜前的镀膜基片进行图像三维建模处理，得到基础模型；
[0055]S4、对镀膜前的镀膜基片的厚度进行获取，并对镀膜基片的外形尺寸进行获取；
[0056]S5、对镀膜机镀膜后的镀膜基片进行图像扫描并进行三维建模处理，得到镀膜模型；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、对镀膜基片进行清洗并烘干；S2、将镀膜基片放置于治具上进行固定；S3、对镀膜前的镀膜基片进行图像三维建模处理，得到基础模型；S4、对镀膜前的镀膜基片的厚度进行获取，并对镀膜基片的外形尺寸进行获取；S5、对镀膜机镀膜后的镀膜基片进行图像扫描并进行三维建模处理，得到镀膜模型；S6、将S3得到的基础模型与S5中的镀膜模型进行重合对比处理；S7、对模型差距位置进行获取；S8、根据模型差距位置对镀膜后的镀膜基片厚度和边角进行检测；S9、设置质量差距阈值，对尺寸和厚度进行检查处理；S10、通过对镀膜通电，查询各个镀膜位置通电后的电阻大小；S11、计算出各个镀膜位置的电阻阈值，通过电阻阈值的对比并对镀膜质量进行检测处理。2.根据权利要求1所述的一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法，其特征在于，所述S1中的对镀膜基片进行清洗并烘干具体包括以下步骤：将镀膜基片置于纯水中并进行反复冲洗，然后放入清洗篮内并通过超声波清洗机进行超声波清洗处理，超声波清洗后通过烘干机进行热风烘干处理，热风温度为70
‑
90℃，吹热风时间为40
‑
55min。3.根据权利要求2所述的一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法，其特征在于，所述S3中的对镀膜前的镀膜基片进行图像三维建模处理具体包括以下步骤：S31、对镀膜基片的外部进行360
°
扫描处理；S32、将获取的360
°
图像进行录入处理；S33、根据录入的360
°
图像进行三维模型建立处理，从而获得镀膜基片的信息。4.根据权利要求3所述的一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法，其特征在于，所述S4中的厚度进行获取具体包括以下步骤：S41、对镀膜前的镀膜基片的凸面、凹面状态进行识别处理；S42、对凸面和凹面的斜度进行测量处理；S43、对镀膜基片的原始厚度进行测量处理。5.根据权利要求4所述的一种基于机器视觉的镀膜机镀膜质量的检测方法，其特征在于，所述S6中的将S3得到的基础模型与S5中的镀膜模...

【专利技术属性】
技术研发人员：林申旺，李志华，陈小雄，郑文杰，
申请(专利权)人：山东申华光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：