一种GPU芯片功耗自动化测试的装置和方法制造方法及图纸

技术编号:37220562 阅读:33 留言:0更新日期:2023-04-20 23:06
本申请提供一种GPU芯片功耗自动化测试的装置和方法,该装置,包括:电脑主机,装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备;辅助测试设备,包括总电源和PCIE延长线;电脑主机通过PCIE延长线连接测试工装;电脑主机,用于为测试工装提供驱动和运行环境,运行功耗测试相关程序,获取并展示功耗检测相关数据;测试工装,用于调制GPU芯片的板卡,采集并通过串口输出GPU芯片的数据;总电源,用于通过可编程直流电源给测试工装整板供电。本申请提供的装置基于电脑主机,装有GPU芯片的测试工装和辅助测试设备,实现自动化测试和记录GPU芯片在各种场景下的功耗数据,以达到提高功耗测试的准确性和效率的目的。的目的。的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种GPU芯片功耗自动化测试的装置和方法


[0001]本申请涉及测试
,尤其涉及一种GPU芯片功耗自动化测试的装置和方法。

技术介绍

[0002]GPU(Graphics Processing Unit,图形处理器)芯片在流片后的调测和项目研发阶段均需要投入大量的时间和精力在功耗测试中,并且根据项目的不同,对功耗的需求大不相同,此时工作人员得反复地进行测试。当碰上实测需求量大的时候,比如有组合场景需求,需要遍历多种分辨率配置、多种GPU频率配置、多种显示输出口和多种应用类型时,组合后工作量非常大,并且伴有数据记录错误等问题,GPU芯片功耗测试的效率和正确性均有待提升。
[0003]申请号为CN202111082634.2的专利申请公开了一种功耗测试方法,设备中的控制模块响应于针对待测芯片触发的功耗测试操作,获取所述待测芯片关联的测试脚本集;所述控制模块根据所述待测芯片的型号,在所述待测芯片关联的测试脚本集中确定目标测试脚本;控制模块设定所述待测芯片对应的测试温度,并触发所述待测芯片进入至预设低功耗模式,根据所述目标测试脚本测试所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种GPU芯片功耗自动化测试的装置,其特征在于,所述装置包括:电脑主机,装有图形处理器GPU芯片的测试工装和辅助测试设备;所述所述辅助测试设备,包括总电源和高速串行计算机扩展总线标准PCIE延长线;所述电脑主机通过所述PCIE延长线连接所述测试工装;所述电脑主机,用于为所述测试工装提供驱动和运行环境,运行功耗测试相关程序,获取并展示功耗检测相关数据;所述测试工装,用于调制GPU芯片的板卡,采集并通过串口输出GPU芯片的数据;所述总电源,用于通过可编程直流电源给所述测试工装整板供电。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述所述辅助测试设备,还包括:RS232串口通信线缆、显示输出线缆和显示器。3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述所述测试工装中集成功耗检测电路;所述功耗检测电路包括电流检测模块和电压检测模块。4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述电脑主机上运行功耗自动测试程序;所述功耗自动测试程序,用于调用本地的硬件、固件、驱动控制GPU芯片的配置状态达到目标运行状态,获取并保存目标运行状态时的功耗数值。5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述功耗自动测试程序,包括:主控模块、功耗处理模块、正确性检测模块、温度检测模块、电源域调节模块、GPU频率调节模块、时钟域时钟门控模块、时钟域时钟门控模块、PCIE配置模块、测试用例集。6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述主控模块,用于调用所述功耗自动测试程序中的各模块;所述功耗处理模块,用于通过串口与工装的stm32处理器通信获取GPU芯...

【专利技术属性】
技术研发人员:蓝承燕
申请(专利权)人:长沙景美集成电路设计有限公司
类型:发明
国别省市:

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