芯片的测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种芯片的测试方法、装置、电子设备及存储介质，测试设备获取芯片执行测试指令时的第一电流数据后，确定其中的误差电流数据，并对误差电流数据进行修复得到第二电流数据，最终根据修复后更为准确的电流数据对芯片进行分析得到测试结果。因此，测试设备在对芯片进行测试时，能够根据误差电流数据消除因测试人员手工点击操作误差给电流数据带来的影响，对第一电流数据中的误差电流数据进行修复后得到第二电流数据，从而使第二电流数据能够更为准确地反应芯片实际的电流变化情况，进而使测试设备能够更为有效地根据第二电流数据对芯片进行测试。据对芯片进行测试。据对芯片进行测试。

【技术实现步骤摘要】
芯片的测试方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及芯片测试的
，尤其涉及一种芯片的测试方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]芯片的供应商生产出芯片后，需通过测试方案对芯片进行测试，从而确定芯片是否能在电子设备内实现相关的功能。例如，对于手机、平板电脑等电子设备内的芯片，需要将芯片设置在电子设备内部后，由测试人员根据测试方案的要求，模拟用户的真实操作向芯片发出操作指令，使芯片获取测试人员发出的操作指令并执行操作指令。同时，在芯片执行操作指令的过程中，测试人员还使用电流表等电流采集设备采集芯片的电流数据，从而在芯片执行完所有操作指令后，测试人员可以根据芯片的电流数据对芯片进行功率分析等后续处理。
[0003]但是，为了在对芯片测试时更加准确地还原真实应用场景，测试人员是通过人工操作的方式向芯片发出测试指令。因此，当测试人员无法准确地根据测试方案向芯片发出测试指令时，会造成芯片无法准确地接收并执行测试指令，从而导致根据电流采集设备采集的电流数据无法准确地对芯片进行功率分析，进而降低了对芯片进行测试的有效性本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的测试方法，其特征在于，包括：获取所述芯片在预设时间段内执行测试人员发出的至少一个测试指令时的第一电流数据；确定所述第一电流数据中的误差电流数据；所述误差电流数据是测试人员发出测试指令时的操作误差导致的；对所述第一电流数据中的所述误差电流数据进行修复得到第二电流数据；根据所述第二电流数据对所述芯片进行功率分析得到测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一电流数据中的误差电流数据，包括：获取每个所述测试指令的预设持续时间；确定所述第一电流数据中，与每个所述测试指令对应的电流数据的实际持续时间；当所述测试指令的实际持续时间与所述预设持续时间不同，确定所述测试指令对应的电流数据为所述误差电流数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述第一电流数据中的所述误差电流数据进行修复得到第二电流数据，包括：根据所述误差电流数据对应的预设持续时间，对所述误差电流数据或者或误差电流数据两侧的电流数据的取值进行修改，使所述第一电流数据中的所述误差电流数据对应的持续时间等于所述预设持续时间。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述第一电流数据中的误差电流数据，包括：确定所述芯片在所述预设时间段内重复多次执行的测试指令对应的多个指令电流数据；当多个指令电流数据中的目标指令电流数据的强度与其他指令电流数据的强度之差均大于预定值，确定所述目标指令电流数据为所述误差电流数据。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述第一电流数据中的所述误差电流数据进行修复得到第二电流数据，包括：确定所述测试指令对应的标准电流数据；所述标准电流数据包括所述多个指令电流数据中强度最大的指令电流数据、持续时间与预设持续时间之差...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖道聪，
申请(专利权)人：西安紫光展锐科技有限公司，
类型：发明
国别省市：