多数模转换器芯片的ATE测试方法及装置、电子设备、介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片技术领域，具体涉及一种多数模转换器芯片的ATE测试方法及装置、电子设备、介质，所述方法包括：响应于模数转换指令，将接收到的模拟输入信号转换为多位并行的数字信号；根据双向编码规则对所述多位并行的数字信号进行编码，得到串行数字信号；其中所述双向编码规则为将所述多位并行的数字信号的各码元编码为双位二进制数据，并以多个双位二进制数据作为所述串行数字信号，且所述串行数字信号的任意三位连续数据不同；通过所述多数模转换器芯片的任一输出端口输出所述串行数字信号。所述方法能够减少模数转换器占用芯片输出端口的数量，从而实现同步对芯中的多个模数转换器进行测试，提高芯片测试的效率。提高芯片测试的效率。提高芯片测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
多数模转换器芯片的ATE测试方法及装置、电子设备、介质


[0001]本专利技术涉及芯片
，具体涉及一种多数模转换器芯片的ATE测试方法及装置、电子设备、介质。

技术介绍

[0002]ATE（Automatic Test Equipment）测试系通过芯片自动测试机对芯片进行自动化测试，依据取得的测试结果判断芯片是否存在缺陷。随着芯片集成度的不断提高，如SoC、MCU等芯片中设置有较大数量的模数转化器等器件，每个模数转化器的测试结果都需要通过芯片的多个引脚进行输出，而由于芯片引脚的数量限制使得难以同时对较多数量的模数转换器进行测试。因此有必要提供一种新的ATE测试方法。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种多数模转换器芯片的ATE测试方法及装置、电子设备、介质，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的上述问题。
[0004]根据本专利技术的一个方面，提供一种多数模转换器芯片的ATE测试方法，包括：响应于模数转换指令，将接收到的模拟输入信号转换为多位并行的数字信号；根据双向编码规则对所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多数模转换器芯片的ATE测试方法，其特征在于，包括：响应于模数转换指令，将接收到的模拟输入信号转换为多位并行的数字信号；根据双向编码规则对所述多位并行的数字信号进行编码，得到串行数字信号；其中所述双向编码规则为将所述多位并行的数字信号的各码元编码为双位二进制数据，并以多个双位二进制数据作为所述串行数字信号，所述串行数字信号的任意三位连续数据不同；通过所述多数模转换器芯片的任一输出端口输出所述串行数字信号。2.根据权利要求1所述的多数模转换器芯片的ATE测试方法，其特征在于，所述双向编码规则为将并行的数字信号11编码为0101或1010，将并行的数字信号10编码为0100或1011，将并行的数字信号01编码为1101或0010，及将并行的数字信号00编码为1100或0011。3.根据权利要求1所述的多数模转换器芯片的ATE测试方法，其特征在于，在所述通过所述多数模转换器芯片的任一输出端口输出所述串行数字信号之前，还包括：通过所述输出端口输出帧开始标志数据；其中所述帧开始标志数据为三位相同的二进制数据。4.根据权利要求1所述的多数模转换器芯片的ATE测试方法，其特征在于，在所述通过所述多数模转换器芯片的任一输出端口输出所述串行数字信号之后，还包括：通过所述输出端口输出帧结束标志数据，其中所述帧结束标志数据为000或111。5.根据权利要求1所述的多数模转换器芯片的ATE测试方法，其特征在于，还包括：当检测到所述串行数字信号中存在任意三位连续相同的数据时，发送预警提示信号；其中所述任意三...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭瑞东，李海军，
申请(专利权)人：南京芯驰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：