一种基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法技术

本发明专利技术公开了一种基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有双极性ADC静态参数测试方法存在的硬件结构复杂或软件编程难度大的问题。该方法包括：将待测双极性ADC连接至ATE，并对双极性ADC中的数字输出管脚进行输出高、低电平测试；若输出高、低电平测试通过，则ATE对待测双极性ADC进行测试条件配置；测试条件包括正、负极性测试pattern；正、负极性测试pattern中的测试位数为n

【技术实现步骤摘要】
一种基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法


[0001]本专利技术涉及电子元器件检测
，尤其涉及一种基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法。

技术介绍

[0002]ADC是一种将模拟信号转换成数字信号的接口电路，其中，INL用于表征ADC实际输出与理想转换曲线的区别，体现ADC的转换性能，是ADC的重要静态参数技术指标。INL(积分非线性)则关注所有代码非线性误差的累计效应。大部分ADC为单极性ADC，即模拟输入范围一般为GND到正压的范围，双极性ADC是模拟输入范围覆盖负压和正压的ADC。双极性ADC具有很好的兼容性，不需要信号转换就可以和大部分双极性驱动及控制电路匹配，然而由于其正负压输入范围导致双极性ADC输出数字码转换图形不再单调，存在突变点，仍然采用基于ATE的单极性ADC静态测试方法将使测试结果出现极大误差，难以正确测量INL。以往的双极性ADC静态参数测试方法有两种：
[0003]第一，需要采用反相器的外围电路设计，此种方法可以完美解决转换曲线不单调、不连贯的问题，自动测试机台可以直接对连续的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法，其特征在于，包括：将待测双极性ADC连接至ATE，并对双极性ADC中的数字输出管脚进行输出高、低电平测试；若输出高、低电平测试通过，则ATE对待测双极性ADC进行测试条件配置；所述测试条件包括正、负极性测试pattern；所述正、负极性测试pattern中的测试位数为n
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1，n为双极性ADC的位数；ATE分别基于正、负极性测试pattern对待测双极性ADC进行正、负极性输出采样；所述正、负极性输出采样均不包括最高位的数字输出管脚；基于正、负极性输出采样结果及测试位数，获取待测双极性ADC静态参数INL，并判断所述待测双极性ADC静态参数INL是否测试通过。2.根据权利要求1所述的基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法，其特征在于，若输出高、低电平测试不通过，则双极性ADC静态参数INL测试不通过。3.根据权利要求1所述的基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法，其特征在于，所述正极性测试pattern包括正极性模拟输入阶梯波和正极性输出采样pattern；所述负极性测试pattern包括负极性模拟输入阶梯波和负极性输出采样pattern；所述正极性模拟输入阶梯波的取值范围为：从0V到双极性ADC的最大输入电压值；所述负极性模拟输入阶梯波的取值范围为：从双极性ADC的最小输入电压值到0V；所述正、负极性模拟输入阶梯波和所述正、负极性输出采样pattern均匹配于所述测试位数。4.根据权利要求3所述的基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法，其特征在于，所述正极性模拟输入阶梯波和所述正极性输出采样pattern的时钟同步，且所述正极性输出采样pattern的采样频率不低于正极性模拟输入阶梯波的输出频率；所述负极性模拟输入阶梯波和所述负极性输出采样pattern的时钟同步，且负极性输出采样pattern的采样频率不低于负极性模拟输入阶梯波的输出频率。5.根据权利要求4所述的基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法，其特征在于，通过执行以下操作对待测双极性ADC进行正极性输出采样，包括：向待测双极性ADC的模拟输入管脚发送所述正极性模拟输入阶梯波；同时，根据正极性输出采样pattern，对待测双极性ADC的非最高位数字输出管脚进行正极性输出采样。6.根据权利要求4所述的基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法，其特征在于，通过执行以下操作对待测双极性ADC进行负极性输出采样，包括：向待测双极性ADC的模拟输入管脚发送所述负极性模拟输入阶梯波；同时，根据负...

【专利技术属性】
技术研发人员：李骥尧，陈覃，张厚政，申晓杰，
申请(专利权)人：北京振兴计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：