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本发明公开了一种基于ATE的双极性ADC静态参数INL快速测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有双极性ADC静态参数测试方法存在的硬件结构复杂或软件编程难度大的问题。该方法包括：将待测双极性ADC连接至ATE，并对双极性ADC中的...
该专利属于北京振兴计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京振兴计量测试研究所授权不得商用。

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