本申请公开了一种延迟线的延时测量方法、装置、系统及接口电路，该方法包括：获取延迟线的测量模式和所述延迟线的延迟控制信号的位宽，所述测量模式用于示出所述延迟线的目标测量时间，根据所述位宽，确定控制所述延迟线实现延时的延迟控制信号的预延迟级数，判断在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与所述目标测量时间的符合性，并根据所述符合性调整所述延迟控制信号的预延迟级数，直至在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与目标测量时间相符合，得到与所述目标测量时间相对应的延迟级数。如此，可以针对不同测量模式灵活进行测量，并显著减少测量的轮次。
【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路，尤其涉及一种延时测量方法、装置、系统及接口电路。
技术介绍
1、延迟线广泛应用于各种接口电路中，例如：soc(system on chip，片上系统)芯片读取ddr(double data rate，双倍速率)存储器中的数据时需要用延迟线(delayline)把dqs(data strobe signal，数据选通信号)信号延迟1/4个时钟周期。延迟线的延迟时间和dly_code(一组多bit信号)呈线性正相关性，dly_code每增加1，延迟线的延迟时间增加一个延迟单元(dly_element)的延迟。延迟线的步进延迟时间就是一个延迟单元(dly_element)的延迟。
2、延迟单元的延迟时间和环境温度、电压等相关。在芯片初始化阶段，需要测量目标时钟周期等效的延迟线的延迟时间，记录等效延迟时间对应的dly_code值，从而对延迟线设置不同的dly_code值得到预期的延迟时间。例如，测量一个时钟周期等效延迟时间对应的dly_code值是100，那么1/4时钟周期对应dly_code值是25。
3、因此，在延迟线延迟时间测量完成之前并不能准确产生目标延迟时间，所以在使用延迟线进行延迟之前，应首先完成延迟测量，并且延迟测量时间越短越好。同时，延迟时间测量的精度越高越好。
4、目前主要采用的方案是参考时钟采样延迟之后的时钟，固定使用半周期进行测量，但是若待测时钟占空比不是精确的50％，将导致测量结果误差增大。并且测量期间dly_code需要逐级增加，测量时间很长。
r/>技术实现思路
1、本申请实施例提供一种延时测量方法、装置、系统及接口电路。
2、根据本申请第一方面，提供了一种延迟线的延时测量方法，该方法包括：获取所述延迟线的测量模式和所述延迟线的延迟控制信号的位宽，所述测量模式用于示出所述延迟线的目标测量时间；根据所述位宽，确定控制所述延迟线实现延时的延迟控制信号的预延迟级数；判断在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与所述目标测量时间的符合性；根据所述符合性调整所述延迟控制信号的预延迟级数，直至在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与所述目标测量时间相符合，得到与所述目标测量时间相对应的延迟级数。
3、根据本申请一实施方式，根据所述位宽，确定控制所述延迟线实现延时的延迟控制信号的预延迟级数，包括：根据所述位宽，取所述延迟控制信号的中位数作为所述预延迟级数。
4、根据本申请一实施方式，所述取所述延迟控制信号的中位数作为所述预延迟级数，包括：将所述延迟控制信号的最高位置为1，其他位置为零。
5、根据本申请一实施方式，所述延迟输出结果用于示出在所述延迟级数对应的延迟控制信号作用下的实际延迟时间；相应的，所述判断在所述延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与所述目标测量时间的符合性，包括：判断所述实际延迟时间与所述目标测量时间的大小关系；在相邻两个延迟级数所得到的大小关系相反的情况下，判定所述延迟输出结果与所述目标测量时间相符合，确定所述相邻两次测试中延时差别较小的一次测试所对应的延迟控制信号延迟级数为与所述目标测量时间相对应的延迟级数；其中延时差别为所述实际延迟时间与所述目标测量时间差。
6、根据本申请一实施方式，所述延迟输出结果用于示出在所述延迟级数对应的延迟控制信号作用下的实际延迟时间；相应的，所述根据所述符合性调整所述延迟控制信号的预延迟级数，包括：在所述实际延迟时间大于所述目标测量时间时，采用二分法调整所述预延迟级数，直至相邻两个延迟级数所得到所述实际延迟时间与所述目标测量时间的大小关系相反。
7、根据本申请一实施方式，所述采用二分法调整所述预延迟级数，包括：在所述实际延迟时间大于所述目标测量时间时，将前一次预延迟级数中置为1的位置为零，其他位保持不变；在所述实际延迟时间小于所述目标测量时间时，将前一次预延迟级数中置为1的位保持不变。
8、根据本申请第二方面，还提供了一种延迟线的延时测量装置，所述装置包括：获取模块，用于获取所述延迟线的测量模式和所述延迟线的延迟控制信号的位宽，所述测量模式用于示出所述延迟线的目标测量时间；确定模块，用于根据所述位宽，确定控制所述延迟线实现延时的延迟控制信号的预延迟级数；判断模块，用于判断在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与所述目标测量时间的符合性；调整模块，用于根据所述符合性调整所述延迟控制信号的预延迟级数，直至在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与所述目标测量时间相符合，得到与所述目标测量时间相对应的延迟级数。
9、根据本申请第三方面，还提供了一种延迟线的延时测量系统，所述系统包括：文件寄存单元，用于接收和存储对延迟线进行延时测量的控制文件和状态文件；延时检测电路单元，用于在测量控制单元触发下，基于所述状态文件对延迟线进行延时检测，并发送延迟输出结果；测量控制单元，用于从所述文件寄存单元获取所述控制文件，触发所述延时检测电路单元进行延时检测，从所述延时检测电路单元获取所述延迟输出结果，并根据所述延迟输出结果更新所述状态文件。
10、根据本申请一实施方式，所述状态文件包括测量模式子文件和位宽子文件，所述测量模式子文件用于示出所述延迟线的目标测量时间，所述位宽子文件用于示出延迟控制信号的位宽；相应的，所述测量控制单元根据所述延迟输出结果更新所述状态文件，包括：根据所述位宽，确定控制所述延迟线实现延时的延迟控制信号的预延迟级数；判断在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与所述目标测量时间的符合性；根据所述符合性调整所述延迟控制信号的预延迟级数，直至在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与所述目标测量时间相符合，得到与所述目标测量时间相对应的延迟级数。
11、根据本申请第四方面，还提供了一种需要进行延迟测量的接口电路，所述接口电路包括上述延迟测量系统。
12、本申请实施例延迟线的延时测量方法，获取延迟线的测量模式和所述延迟线的延迟控制信号的位宽，所述测量模式用于示出所述延迟线的目标测量时间，根据所述位宽，确定控制所述延迟线实现延时的延迟控制信号的预延迟级数，判断在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与所述目标测量时间的符合性，并根据所述符合性调整所述延迟控制信号的预延迟级数，直至在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与目标测量时间相符合，得到与所述目标测量时间相对应的延迟级数。如此，可以针对不同测量模式灵活进行测量，例如：可以分别在0.25t、0.5t或1t模式下进行测量，其中，测量模式为1t模式时不受时钟占空比影响，测量结果更加准确。进一步的根据位宽确定控制所述延迟线实现延时的延迟控制信号的预延迟级数，以及根据在所述预延迟级数对应的延迟控制信号作用下的延迟输出结果与所述目标测量时间的符合性调整所述延迟控制信号的预延迟级数，能够显著减少测量的轮次。
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【技术保护点】
1.一种延迟线的延时测量方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，根据所述位宽，确定控制所述延迟线实现延时的延迟控制信号的预延迟级数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，所述取所述延迟控制信号的中位数作为所述预延迟级数，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，所述延迟输出结果用于示出在所述延迟级数对应的延迟控制信号作用下的实际延迟时间；相应的，
5.根据权利要求1所述的方法，所述延迟输出结果用于示出在所述延迟级数对应的延迟控制信号作用下的实际延迟时间；相应的，
6.根据权利要求5所述的方法，所述采用二分法调整所述预延迟级数，包括：
7.一种延迟线的延时测量装置，所述装置包括：
8.一种延迟线的延时测量系统，所述系统包括：
9.根据权利要求8所述的延迟测量系统，所述状态文件包括测量模式子文件和位宽子文件，所述测量模式子文件用于示出所述延迟线的目标测量时间，所述位宽子文件用于示出延迟控制信号的位宽；相应的，
10.一种需要进行延迟测量的接口电路，所述接口电路包括权利要求8或9所述的延迟测量系统。
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【技术特征摘要】
1.一种延迟线的延时测量方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，根据所述位宽，确定控制所述延迟线实现延时的延迟控制信号的预延迟级数，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，所述取所述延迟控制信号的中位数作为所述预延迟级数，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，所述延迟输出结果用于示出在所述延迟级数对应的延迟控制信号作用下的实际延迟时间；相应的，
5.根据权利要求1所述的方法，所述延迟输出结果用于示出在所述延迟级数对应的延迟控制信号作用下的实际延迟时间...
【专利技术属性】
技术研发人员：张杰，
申请(专利权)人：南京芯驰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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