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本发明涉及芯片技术领域，具体涉及一种多数模转换器芯片的ATE测试方法及装置、电子设备、介质，所述方法包括：响应于模数转换指令，将接收到的模拟输入信号转换为多位并行的数字信号；根据双向编码规则对所述多位并行的数字信号进行编码，得到串行数字信号...
该专利属于南京芯驰半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京芯驰半导体科技有限公司授权不得商用。

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