物体的双能量辐射扫描制造技术

在一个实施例中，公开了一种检查物体的方法，该方法包括：以第一和第二辐射能量扫描物体；探测第一和第二能量下的辐射；以及计算在第一和第二能量下探测的辐射的函数。可以对物体的对应部分计算函数。至少部分地根据该函数，来确定物体是否至少潜在地包括原子数高于预定原子数的高原子数材料。函数可以是比值。可以将该函数和第二函数进行比较，该第二函数可以是阈值，该阈值至少部分地基于具有预定原子数的材料。第二函数可以和第一函数相同。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
0002对包括如货物运输工具之类的大物体的物体(object)进行辐射扫描(radiation scanning)，以识别违禁品。
技术介绍
0003辐射一般用于非入侵地检查诸如行李、袋子、公文包、货物集装箱等物体的内容，以便例如在机场、海港和公共建筑物识别隐藏的违禁品。例如，违禁品可以包括隐藏的枪、刀、爆炸装置、非法药物和大规模杀伤武器，如核或“脏”放射性炸弹。一种普通的检查系统是行扫描仪(line scanner)，其中在如X射线辐射之类固定的辐射源和固定的探测器之间传送要检查的物体。辐射被校准(准直)为扇形射束或尖锥射束(pencil beam)。透过物体的辐射被物体的内容衰减到不同程度。辐射的衰减是射束所通过的材料的密度的函数。探测并测量透射的辐射。可以产生物体内容的辐射图像，用于检查。图像显示了内容的形状、大小和不同密度。0004普通检查系统中所使用的固定辐射源典型地是大约160KeV至大约450KeV的X射线辐射源。例如，X射线源可以是韧致(Bremsstrahlung)辐射源。该能量范围内的X射线源可以是X射线管。450KeV的X射线辐射将不能完全穿透如货物集装箱之类本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检查物体的方法，包括：　　　　以第一和第二辐射能量扫描物体的至少一部分，其中，第一和第二辐射能量不同；　　　　探测在与物体的至少一部分相互作用后第一和第二辐射能量下的辐射；　　　　　计算在第一和第二能量下探测的辐射的函数；以及　　　　至少部分地根据该函数，来确定物体是否至少潜在地包括原子数比预定原子数高的高原子数材料。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：保罗比约克尔霍尔姆，
申请(专利权)人：创新医疗系统技术公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]