一种无图纸的电路板检测方法及检测设备技术

本发明专利技术涉及一种无图纸的电路板检测方法及检测设备，该方法包括：在待检测电路板不通电时对检测点位进行检测，得到多个检测点位的VI曲线数据；将所述待检测电路板中的待检测电路模块进行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据；基于预设硬件，对所述待检测电路板中的可编程芯片引脚进行IO测试，得到可编程芯片引脚的IO功能，并读取可编程芯片的固件数据；将所述VI曲线数据、所述功能测试数据、所述IO功能以及所述固件数据分别与标准数据进行对比，判断电路板的状态。本发明专利技术提供的一种无图纸的电路板检测方法及检测设备，分别检测待检测电路板的各项数据，并与标准数据进行对比，以实现对电路板功能的检测。以实现对电路板功能的检测。以实现对电路板功能的检测。

【技术实现步骤摘要】
一种无图纸的电路板检测方法及检测设备


[0001]本专利技术涉及电路板检测
，尤其涉及一种无图纸的电路板检测方法及检测设备。

技术介绍

[0002]机载设备生命周期长，种类多，每批数量少，价值高，且缺乏资料及专用检测设备，因此电路板检测及故障定位一直是难题。
[0003]现有技术中对于电路板的检测一般是对照电路板的设计图纸，对电路板中的待检测位置进行逐一检测，确定每一待检测位置的功能是否正常。
[0004]但是，如果对每一电路板都需要按照图纸进行检测，那么检测的工作量将会很大，而且检测的时间也会很长，不方便对大量电路板进行检测，而对于图纸缺失的电路板将无法进行对应的检测。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，有必要提供一种无图纸的电路板检测方法及检测设备，用以解决现有技术中只能依赖电路板的设计图纸对电路板进行检测的问题。
[0006]为达到上述技术目的，本专利技术采取了以下技术方案：
[0007]第一方面，本专利技术提供了一种无图纸的电路板检测方法，包括：
[0008]在待检测电路板不通电时对检测点位进行检测，得到多个检测点位的VI曲线数据；
[0009]将待检测电路板中的待检测电路模块进行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据；
[0010]基于预设硬件，对待检测电路板中的可编程芯片引脚进行IO测试，得到可编程芯片引脚的IO功能并读取可编程芯片的固件数据；
[0011]将VI曲线数据、功能测试数据、IO功能以及固件数据分别与标准数5据进行对比，判断电路板的状态。
[0012]在一些可能的实现方式中，在待检测电路板不通电时对检测点位进行检测，得到多个检测点位的VI曲线数据，包括：
[0013]确定待检测电路板的所有检测点位，对检测点位进行点测，得到多个检测点位的VI曲线数据。
[0014]0在一些可能的实现方式中，在待检测电路板不通电时对检测点位进行检测，得到多个检测点位的VI曲线数据之后，还包括：
[0015]将得到的所有VI曲线数据存储至预设数据库中。
[0016]在一些可能的实现方式中，检测点位为待检测电路板中的焊点和芯片引脚。
[0017]5在一些可能的实现方式中，将待检测电路板中的待检测电路模块进行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据，包括：
[0018]为待检测电路板中的第一功能模块配置总线输入进行功能测试，采集第一功能模块输出的第一功能测试数据。
[0019]在一些可能的实现方式中，将待检测电路板中的待检测电路模块进0行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据，还包括：
[0020]为待检测电路板中的第二功能模块配置预设电源、负载进行功能测试，采集第二功能模块输出的第二功能测试数据。
[0021]在一些可能的实现方式中，将待检测电路板中的待检测电路模块进行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据，还包括：5若待检测电路板为电路板母版，对电路板母版进行第三功能模块测试，采集电路板母版输出的第三功能测试数据。
[0022]在一些可能的实现方式中，基于预设硬件，对待检测电路板中的可编程芯片引脚进行IO测试，得到可编程芯片引脚的IO功能，包括：
[0023]基于预设接口和预设硬件，对可编程芯片的引脚配置预设输入，记录可编程芯片的引脚的IO硬件功能。
[0024]在一些可能的实现方式中，基于预设硬件，对待检测电路板中的可编程芯片引脚进行IO测试，得到可编程芯片引脚的IO功能，包括：
[0025]通过预设编程器对可编程芯片引脚进行检测，获取可编程芯片引脚的IO软件功能。
[0026]第二方面，本专利技术还提供了一种无图纸的电路板检测设备，包括计算机、VI曲线检测模块、电路功能检测模块以及芯片检测模块；计算机分别与VI曲线检测模块、电路功能检测模块以及芯片检测模块连接；
[0027]计算机用于对VI曲线检测模块、电路功能检测模块以及芯片检测模块发送不同的控制指令；
[0028]VI曲线检测模块用于根据控制指令对检测点位进行检测，得到多个检测点位的VI曲线数据；
[0029]电路功能检测模块用于根据控制指令对待检测模块进行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据；
[0030]芯片检测模块用于根据控制指令对可编程芯片引脚进行IO测试，确定可编程芯片引脚的IO功能。
[0031]采用上述实施例的有益效果是：本专利技术涉及一种无图纸的电路板检测方法及检测设备，该方法包括：在待检测电路板不通电时对检测点位进行检测，得到多个检测点位的VI曲线数据；将所述待检测电路板中的待检测电路模块进行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据；基于预设硬件，对所述待检测电路板中的可编程芯片引脚进行IO测试，得到可编程芯片引脚的IO功能并读取可编程芯片的固件数据；将所述VI曲线数据、所述功能测试数据、所述IO功能以及所述固件数据分别与标准数据进行对比，判断电路板的状态。本专利技术提供的一种无图纸的电路板检测方法及检测设备，通过分别检测待检测电路板的VI曲线数据、功能测试数据、IO功能以及固件数据，并与标准数据进行对比，并根据数据比对的结果来实现对电路板功能的检测，从而不需要图纸就可以实现电路板的检测，且检测速度快，效率高。
附图说明
[0032]图1为本专利技术提供的无图纸的电路板检测方法的一实施例的流程示意图；
[0033]图2为本专利技术提供的无图纸的电路板检测设备的一实施例的连接示意图。
具体实施方式
[0034]下面结合附图来具体描述本专利技术的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本专利技术的实施例一起用于阐释本专利技术的原理，并非用于限定本专利技术的范围。
[0035]在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0036]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本专利技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0037]本专利技术提供了一种无图纸的电路板检测方法及检测设备，以下分别进行说明。
[0038]请参阅图1，图1为本专利技术提供的无图纸的电路板检测方法的一实施例的流程示意图，本专利技术的一个具体实施例，公开了一种无图纸的电路板检测方法，包括：
[0039]S101、在待检测电路板不通电时对检测点位进行检测，得到多个检测点位的VI曲线数据；
[0040]S102、将待检测电路板中的待检测电路模块进行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据；
[0041]S103、基于预设硬件，对待检测电路板中的可编程芯片引脚进行IO测试，得到可编程芯片引脚的IO功能并读取可编程芯片的固件数据；
[0042]S104、将VI曲线数据、功本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种无图纸的电路板检测方法，其特征在于，包括：在待检测电路板不通电时对检测点位进行检测，得到多个检测点位的VI曲线数据；将所述待检测电路板中的待检测电路模块进行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据；基于预设硬件，对所述待检测电路板中的可编程芯片引脚进行IO测试，得到可编程芯片引脚的IO功能并读取可编程芯片的固件数据；将所述VI曲线数据、所述功能测试数据、所述IO功能以及固件数据分别与标准数据进行对比，判断电路板的状态。2.根据权利要求1所述的无图纸的电路板检测方法，其特征在于，所述在待检测电路板不通电时对检测点位进行检测，得到多个检测点位的VI曲线数据，包括：确定所述待检测电路板的所有检测点位，对所述检测点位进行点测，得到多个检测点位的VI曲线数据。3.根据权利要求2所述的无图纸的电路板检测方法，其特征在于，所述在待检测电路板不通电时对检测点位进行检测，得到多个检测点位的VI曲线数据之后，还包括：将得到的所有所述VI曲线数据存储至预设数据库中。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的无图纸的电路板检测方法，其特征在于，所述检测点位为所述待检测电路板中的焊点和芯片引脚。5.根据权利要求1所述的无图纸的电路板检测方法，其特征在于，所述将所述待检测电路板中的待检测电路模块进行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据，包括：为所述待检测电路板中的第一功能模块配置总线输入进行功能测试，采集所述第一功能模块输出的第一功能测试数据。6.根据权利要求5所述的无图纸的电路板检测方法，其特征在于，所述将所述待检测电路板中的待检测电路模块进行功能测试，得到待检测电路模块的功能测试数据，还包括：为所述待检测电路板中的第二功...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏志飞，宫海江，容伟，程鹏，徐文娟，袁媛，
申请(专利权)人：凌云科技集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：