表面缺陷检测系统技术方案

提供了一种用于检测表面上的缺陷的检查系统。该系统使用面向表面的具有不同颜色或暗度的图案。光照射表面上的图案使得表面上的图案和任何缺陷被反射和捕获以用于图像分析。处理器然后从将图案与图像分离以便标识表面上的任何缺陷的位置。的任何缺陷的位置。的任何缺陷的位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】表面缺陷检测系统
[0001]相关申请的交叉引用：
[0002]本专利申请要求于2020年8月21日提交的美国专利申请号16/999,361的权益，该美国专利申请通过引用完整并入本文。


[0003]本专利技术总体涉及检查系统；以及更特别地，涉及标识表面上的缺陷。

技术介绍

[0004]检测表面上的缺陷可能是困难且耗时的。缺陷检测是重要且具有挑战性的一个示例，该示例涉及涂漆的表面。当制造具有涂漆的表面的产品时，重要的是确保涂漆的表面被漆均匀覆盖且在漆覆盖中没有任何异常。然而，使用人工检查可能是不可靠且昂贵的。因此，需要改进的表面检测系统。

技术实现思路

[0005]描述了一种检测系统用于检测表面上的缺陷，诸如漆覆盖中的异常。该系统将图案从表面反射出来，并将图案与反射图像分离以显示任何缺陷。低秩矩阵和稀疏矩阵可用于将图案与缺陷分离。然后可以为操作者显示表面上的缺陷的位置用以进一步评估表面。本专利技术还可以包括在书面描述或附图中的下文描述的任何其它方面及其任意组合。
附图说明
[0006]通过结合附图阅本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于检测表面缺陷的系统，包括：表面，所述表面上具有缺陷；图案，面向所述表面，具有不同颜色或暗度的区域；光源，照射所述表面；图像捕获设备，从所述表面接收所述图案的反射；处理器，在将不同颜色或暗度的所述区域与所述反射分离后标识所述反射中的所述缺陷；以及输出设备，显示所述表面上的所述缺陷的位置。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述图案包括跨所述图案延伸的不同颜色或暗度的交错区域。3.根据权利要求2所述的系统，其中所述处理器将所述反射划分为多个区域，每个区域都跨所述反射延伸，所述处理器将每个区域内的部分互相比较以在将不同颜色或暗度的所述交错区域与所述反射分离后标识所述区域中的一个区域中的所述缺陷。4.根据权利要求3所述的系统，其中所述多个区域横向于所述交错区域定向，所述多个区域因此筛选出穿过所述交错区域与所述反射的分离的所述交错区域的任何剩余部分。5.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器将所述反射划分为多个区域，每个区域跨所述反射延伸，所述处理器将每个区域内的部分互相比较以在将不同颜色或暗度的所述区域与所述反射分离之后标识所述区域中的一个区域的缺陷。6.根据权利要求5所述的系统，其中所述缺陷的所述位置由所述输出设备沿着对应于所述多个区域的轴线显示。7.根据权利要求5所述的系统，其中所述区域中的每一个包括一行像素并且所述部分包括在每一行内的像素。8.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器将所述反射分成包括不同颜色或暗度的所述区域...

【专利技术属性】
技术研发人员：内维罗兹，
申请(专利权)人：ABB瑞士股份有限公司，
类型：发明
国别省市：