一种回转体构件表面状态精细检测方法及其系统技术方案

本发明专利技术公开一种回转体构件表面状态精细检测方法及其系统，涉及工件表面精细检测技术领域，包括以下内容：移动机械手，避免与回转体构件空间干涉，使检测探头与盛放座轴线重合；将回转体构件放置在盛放座上并与其轴线重合；上下移动机械手至检测探头的焦平面与回转体构件的轴线上的最高或最低点重合，微调回转体构件并确保其与盛放座、检测探头的轴线三轴合一，计算回转体构件的坐标零点；输入拟检测位点并规划移动路径，进行表面状态检测；确认检测信息满足检测要求并对数据进行处理。本发明专利技术通过利用机械手夹持检测探头，并且在检测时，通过调整检测探头的焦平面与检测位点切面重合，实现回转体构件表面精准定位与表面状态的精细检测。精细检测。精细检测。

【技术实现步骤摘要】
一种回转体构件表面状态精细检测方法及其系统


[0001]本专利技术涉及工件表面精细检测
，特别是涉及一种回转体构件表面状态精细检测方法及其系统。

技术介绍

[0002]随着现代精密加工和制造业的发展，在工业和国防领域中，对工件表面状态的精度要求和质量要求越来越高，尤其是对工件的表面形貌、表面缺陷、表面氧化层厚度、表面成分的测量显得尤为重要。目前，对于大尺寸回转体工件，由于存在一定的曲率，无法对工件表面实现精确的光学成像。
[0003]申请公布号为CN 109767497A的中国专利公开了一种自动检测航空叶片表面质量的检测方法，通过对航空叶片的表面进行三维数据采集，建立三维模型，然后对三维模型进行路径规划，通过该路径对航空叶片表面进行拍照，将照片信息传递到算法服务器进行表面质量分析，得到分析结果，反馈给使用人员，完成检测。该方案通过变位器带动航空叶片绕航空叶片长度方向旋转，机械臂带动三维形貌仪对航空叶片进行测量，获取航空叶片的三维数据点云，实物模型的数据化，但航空叶片并不是回转体构件，而且，该方案的分辨率较低，无法满足回转体构件表面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种回转体构件表面状态精细检测方法，其特征在于，包括以下内容：将检测探头安装在机械手上，移动所述机械手，使所述检测探头的轴线与盛放座的轴线重合，此时所述机械手的空间位置坐标及姿态设置为零时点，在零时点避免与回转体构件存在空间干涉；将回转体构件放置在所述盛放座上，并确保所述回转体构件的轴线与所述盛放座的轴线重合；上下移动所述机械手，至所述检测探头的焦平面与所述回转体构件的轴线上的最高或最低点重合，依据检测参数微调所述回转体构件的位置，确保所述回转体构件、所述盛放座、所述检测探头的轴线三轴合一，将重合点设为特征点，并根据所述回转体构件特性计算所述回转体构件的基准点相对于机械手坐标系的空间位置坐标，并将所述基准点设置为所述回转体构件的坐标零点；输入拟检测位点并规划移动路径，对所述回转体构件进行表面状态检测；确认获得的检测信息满足检测要求，并对数据进行处理。2.根据权利要求1所述的回转体构件表面状态精细检测方法，其特征在于：在完成一项表面状态检测后，更换检测探头执行下一项表面状态检测，每次更换检测探头后，根据检测探头及其夹具尺寸计算坐标零点。3.根据权利要求2所述的回转体构件表面状态精细检测方法，其特征在于：表面状态检测包括表面形貌检测，检测探头采用体视显微镜，选择放大倍率20～500X，将所述体视显微镜的镜头靠近所述回转体构件的表面进行检测，进行拍摄并保存。4.根据权利要求2所述的回转体构件表面状态精细检测方法，其特征在于：表面状态检测包括氧化膜厚度检测，检测探头采用光谱探头，将所述光谱探头对准所述回转体构件表面，调整所述光谱探头与所述回转体构件距离在1～5mm之间，观察软件中原始光谱强度的变化，当光谱强度达到最强时，获得反射光谱，获得明显干涉峰。5.根据权利要求3或4所述的回转体构件表面状态精细检测方法，其特征在于：利用转动驱动机构驱动所述盛放座转动，所述盛放座带动所述回转体构件沿所述回转体构件的中心轴旋转，所述机械手带动检测探头的...

【专利技术属性】
技术研发人员：江奕东，法涛，尹安毅，苏斌，尹希希，张冬旭，羊宇佳，陆雷，黄煌，
申请(专利权)人：中国工程物理研究院材料研究所，
类型：发明
国别省市：