电路的验证方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提供一种电路的验证方法、装置、设备及存储介质。电路的验证方法包括：获取待测电路中端接电路模块的状态验证文件；状态验证文件包括端接电路模块的待检查信号的标准输出数据；获取待测电路中端接电路模块的仿真输出文件；仿真输出文件包括端接电路模块的待检查信号的实际输出波形；获取待测电路中端接电路模块的映射文件；映射文件包括状态验证文件与仿真输出文件中待检查信号的映射关系；根据映射文件，对比状态验证文件和仿真输出文件，检查端接电路模块的待检查信号的状态。在本公开中，根据映射文件将状态验证文件和仿真输出文件进行对比，能够检查端接电路模块的待检查信号的状态，自动地验证端接电路模块的状态以提高端接电路模块仿真验证的效率。提高端接电路模块仿真验证的效率。提高端接电路模块仿真验证的效率。

【技术实现步骤摘要】
电路的验证方法、装置、设备及存储介质


[0001]本公开涉及半导体
，尤其涉及一种电路的验证方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]动态随机存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)作为计算机系统中重要的半导体存储器，在读、写和空闲状态时，内部的端接(On
‑
Die Termination，ODT)电路具有不同的状态。为了避免动态随机存储器在读、写和空闲状态时发生错误，需要在不同的测试条件下，通过仿真来验证端接电路模块的状态是否正常。
[0003]当验证端接电路模块的状态时，需要测试人员对仿真结果进行人工分析，导致端接电路模块仿真验证的效率很低。

技术实现思路

[0004]以下是对本公开详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0005]本公开提供一种电路的验证方法、装置、设备及存储介质。
[0006]根据本公开实施例的第一方面，提供一种电路的验证方法，所述电路的验证方法包括：
[0007]获取待测电路中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路的验证方法，其特征在于，所述电路的验证方法包括：获取待测电路中端接电路模块的状态验证文件；所述状态验证文件包括所述端接电路模块的待检查信号的标准输出数据；获取所述待测电路中所述端接电路模块的仿真输出文件；所述仿真输出文件包括所述端接电路模块的待检查信号的实际输出波形；获取所述待测电路中所述端接电路模块的映射文件；所述映射文件包括所述状态验证文件与所述仿真输出文件中待检查信号的映射关系；根据所述映射文件，对比所述状态验证文件和所述仿真输出文件，检查所述端接电路模块的待检查信号的状态。2.根据权利要求1所述的电路的验证方法，其特征在于，在所述获取待测电路中端接电路模块的状态验证文件之前，所述电路的验证方法还包括：获取所述端接电路模块的检查执行文件；所述检查执行文件包括所述状态验证文件、所述仿真输出文件和所述映射文件的存储路径信息；根据所述检查执行文件中的所述存储路径信息，查找所述状态验证文件、所述仿真输出文件和所述映射文件。3.根据权利要求1所述的电路的验证方法，其特征在于，在所述获取待测电路中端接电路模块的状态验证文件之前，所述电路的验证方法还包括：获取所述端接电路模块的功能检查文件；所述功能检查文件包括仿真参数和所述待测电路的目标功能对应的激励信息；基于所述功能检查文件，对所述待测电路进行功能验证，获取所述待检查信号的标准输出数据，形成完成所述目标功能时所述端接电路模块对应的状态验证文件。4.根据权利要求3所述的电路的验证方法，其特征在于，所述基于所述功能检查文件，对所述待测电路进行功能验证，获取所述待检查信号的标准输出数据，形成完成所述目标功能时所述端接电路模块对应的状态验证文件，包括：基于所述功能检查文件，对所述待测电路进行功能验证，生成完成所述目标功能时所述待测电路对应的功能验证结果文件；基于所述功能检查文件，从所述功能结果验证文件中获取所述待检查信号的标准输出数据，形成完成所述目标功能时所述端接电路模块对应的状态验证文件。5.根据权利要求3所述的电路的验证方法，其特征在于，所述对所述待测电路进行功能验证，采用支持verilog语言的功能验证平台实现。6.根据权利要求3所述的电路的验证方法，其特征在于，在所述获取所述待测电路中所述端接电路模块的仿真输出文件之前，所述电路的验证方法还包括：基于所述功能检查文件，获取所述端接电路模块的仿真参数；所述仿真参数包括测试频率参数和测试工艺角参数；从所述功能检查文件中抽取所述待测电路的激励信息，形成仿真激励文件；根据所述仿真参数和所述仿真激励文件，生成所述端接电路模块的仿真检查文件；基于所述仿真检查文件，对加载寄生参数的所述待测电路执行仿真，获取所述待检查信号的实际输出波形，形成完成所述目标功能时所述端接电路模块对应的仿真输出文件。7.根据权利要求6所述的电路的验证方法，其特征在于，所述基于所述仿真检查文件，
对所述待测电路执行仿真，获取所述待检查信号的实际输出波形，形成完成所述目标功能时所述端接电路模块对应的仿真输出文件，包括：基于所述仿真检查文件，对加载寄生参数的所述待测电路执行仿真，生成完成所述目标功能时所述待测电路对应的仿真验证结果文件；基于所述仿真检查文件，从所述仿真结果验证文件中获取所述待检查信号的实际输出波形，形成完成所述目标功能时所述端接电路模块对应的仿真输出文件。8.根据权利要求6所述的电路的验证方法，其特征在于，所述对加载寄生参数的所述待测电路执行仿真，采用finesim仿真软件、hspice仿真软件、hsim仿真软件或spectre仿真软件实现。9.根据权利要求3至8任一项所述的电路的验证方法，其特征在于，所述根据所述映射文件，对比所述状态验证文件和所述仿真输出文件，检查所述端接电路模块的待检查信号的状态，包括：根据所述状态验证文件确定所述端接电路模块的所述待检查信号，并获取所述状态验证文件中所述待检查信号的标准输出数据；根据所述状态验证文件中的所述待检查信号和所述映射文件中所述待检查信号的映射关系，从所述仿真输出文件的实际输出波形中获取所述待检查信号的实际输出数据；对比每个...

【专利技术属性】
技术研发人员：张雪亮，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：