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电路的验证方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:37136489
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本公开提供一种电路的验证方法、装置、设备及存储介质。电路的验证方法包括:获取待测电路中端接电路模块的状态验证文件;状态验证文件包括端接电路模块的待检查信号的标准输出数据;获取待测电路中端接电路模块的仿真输出文件;仿真输出文件包括端接电路模块...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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