诊断设备、诊断方法以及存储诊断指令的非暂时性计算机可读记录介质技术

本公开提供了一种诊断设备，该诊断设备包括计算器，该计算器基于测量Q

【技术实现步骤摘要】
诊断设备、诊断方法以及存储诊断指令的非暂时性计算机可读记录介质
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求2021年9月30日提交的日本专利申请第2021
‑
161867号的优先 权，其全部内容通过援引加入本文。


[0003]本专利技术涉及一种诊断设备、一种诊断方法以及一种存储诊断指令的非暂时 性计算机可读记录介质。

技术介绍

[0004]已经提出了用于诊断电池单元的容量的各种方法(例如，参见JP 2016
‑
145795A)。
[0005]指示电池单元特性的方式包括指示电压和积分电流量之间的关系的Q
‑
V曲 线。考虑根据Q
‑
V曲线诊断电池单元的容量的方法，现在仍留有空间。

技术实现思路

[0006]本专利技术的一个或多个实施例能够根据Q
‑
V曲线来诊断电池单元的容量。
[0007]根据本专利技术实施例的一个或多个实施例，一种诊断设备包括计算器，该计 算器基于测量Q
‑
V曲线与参考Q
‑
V曲线之间的比较结果来计算与电池单元的容 量相关的值，所述测量Q
‑
V曲线指示从所述电池单元的测量数据获得的电压和 积分电流量之间的关系，其中，所述计算器包括以下中的至少一个：第一计算 器，该第一计算器通过将所述测量Q
‑
V曲线的斜率乘以所述测量Q
‑
V曲线与所 述参考Q
‑
V曲线之间的电压差，计算由该电压差引起的容量衰退量；以及第二 计算器，该第二计算器通过将所述测量Q
‑
V曲线的斜率与所述参考Q
‑
V曲线的 斜率之间的比率乘以参考最大容量，计算由所述测量Q
‑
V曲线的斜率相对于所 述参考Q
‑
V曲线的斜率的变化而引起的容量衰退后的临时最大容量。
[0008]根据本专利技术实施例的一个或多个实施例，一种诊断设备包括计算器，该计 算器通过使用近似指示电池单元的电压和积分电流量之间关系的Q
‑
V曲线的函 数模型，计算与所述电池单元的容量相关的值，其中，所述计算器包括：函数 模型生成器，该函数模型生成器生成拟合至参考Q
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V曲线的函数模型；拟合单 元，该拟合单元将由所述函数模型生成器生成的函数模型对所述电池单元的测 量数据进行拟合；最大容量计算器，该最大容量计算器通过使用由所述拟合单 元进行拟合后的函数模型，计算所述电池单元的最大容量。
[0009]根据本专利技术实施例的一个或多个实施例，一种诊断方法包括基于测量Q
‑
V 曲线与参考Q
‑
V曲线之间的比较结果来计算与电池单元的容量相关的值，所述 测量Q
‑
V曲线指示从所述电池单元的测量数据获得的电压和积分电流量之间的 关系，其中，所述计算包括以下中的至少一个：通过将所述测量Q
‑
V曲线的斜 率乘以所述测量Q
‑
V曲线与所述参考Q
‑
V曲线之间的电压差，计算由该电压差 引起的容量衰退量；以及通过将所述测量Q
‑
V曲线的斜率与所述参考Q
‑
V曲线 的斜率之间的比率乘以参考最大容量，计算由所述测量Q
‑
V曲线的
斜率相对于 所述参考Q
‑
V曲线的斜率的变化而引起的容量衰退后的临时最大容量。
[0010]根据本专利技术实施例的一个或多个实施例，一种诊断方法包括通过使用近似 指示电池单元的电压和积分电流量之间关系的Q
‑
V曲线的函数模型来计算与该 电池单元的容量相关的值，其中，所述计算包括：生成拟合至参考Q
‑
V曲线的 函数模型；将已经生成的所述函数模型对所述电池单元的测量数据进行拟合； 并且通过使用拟合后的函数模型，计算所述电池单元的最大容量。
[0011]根据本专利技术实施例的一个或多个实施例，一种非暂时性计算机可读记录介 质在其中存储有诊断指令，该诊断指令使计算机执行基于测量Q
‑
V曲线与参考 Q
‑
V曲线之间的比较结果来计算与电池单元的容量相关的值的处理，所述测量Q
‑
V曲线指示从所述电池单元的测量数据获得的电压和积分电流量之间的关系， 其中，所述计算的处理包括以下处理中的至少一个：通过将所述测量Q
‑
V曲线 的斜率乘以所述测量Q
‑
V曲线与所述参考Q
‑
V曲线之间的电压差，计算由该电 压差引起的容量衰退量；以及通过将所述测量Q
‑
V曲线的斜率与所述参考Q
‑
V 曲线的斜率之间的比率乘以参考最大容量，计算由所述测量Q
‑
V曲线的斜率相 对于所述参考Q
‑
V曲线的斜率的变化而引起的容量衰退后的临时最大容量。
[0012]根据本专利技术实施例的一个或多个实施例，一种非暂时性计算机可读记录介 质在其中存储有诊断指令，该诊断指令使计算机执行通过使用近似指示电池单 元的电压和积分电流量之间的关系的Q
‑
V曲线的函数模型来计算与该电池单元 的容量相关的值的处理，其中，所述计算的处理包括以下处理：生成拟合至参 考Q
‑
V曲线的函数模型；将已经生成的所述函数模型对所述电池单元的测量数 据进行拟合；并且通过使用拟合后的函数模型，计算所述电池单元的最大容量。
附图说明
[0013]图1示意性地示出了电池单元的电压和电流；
[0014]图2示出了Q
‑
V曲线的示例；
[0015]图3示出了容量衰退与Q
‑
V曲线之间的关系的示例；
[0016]图4示出了微分曲线的示例；
[0017]图5示出了根据一个或多个实施例的诊断设备的示意性配置的示例；
[0018]图6示出了根据一个或多个实施例的计算器的示意性配置的示例；
[0019]图7示出了参考Q
‑
V曲线和测量Q
‑
V曲线的示例；
[0020]图8示出了微分曲线的示例；
[0021]图9示出了另一种类型的电池单元的参考Q
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V曲线和测量Q
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V曲线的示例；
[0022]图10示出了微分曲线的示例；
[0023]图11示出了微分曲线的另一示例；
[0024]图12示出了根据一个或多个实施例的计算器的示意性配置的另一示例；
[0025]图13示出了另一种计算方法；以及
[0026]图14示出了根据一个或多个实施例的诊断设备的示意性配置的示例。
具体实施方式
[0027]以下将参照附图描述实施例。相同的元件由相同的附图标记表示，并且将 适当地
省略冗余的描述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种诊断设备，包括：计算器，该计算器基于测量Q
‑
V曲线与参考Q
‑
V曲线之间的比较结果来计算与电池单元的容量相关的值，所述测量Q
‑
V曲线指示从所述电池单元的测量数据获得的电压和积分电流量之间的关系，其中，所述计算器还计算以下中的至少一个：通过将所述测量Q
‑
V曲线的斜率乘以所述测量Q
‑
V曲线与所述参考Q
‑
V曲线之间的电压差得到的由所述电压差引起的容量衰退量；以及通过将所述测量Q
‑
V曲线的斜率与所述参考Q
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V曲线的斜率之间的比率乘以参考最大容量得到的在由所述测量Q
‑
V曲线的斜率相对于所述参考Q
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V曲线的斜率的变化引起的容量衰退之后的临时最大容量。2.根据权利要求1所述的诊断设备，其中，所述计算器还通过从计算出的所述临时最大容量中减去计算出的所述容量衰退量，计算所述电池单元的最大容量。3.根据权利要求1或2所述的诊断设备，其中，所述电压差是所述测量Q
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V曲线的微分曲线的特征点与所述参考Q
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V曲线的另一微分曲线的另一特征点之间的电压差。4.根据权利要求3所述的诊断设备，其中，所述特征点是在所述微分曲线中首次出现的局部最大值，所述另一特征点是在所述另一微分曲线中首次出现的局部最大值，所述测量Q
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V曲线的斜率是在等于或大于所述特征点的电压的电压下的斜率，并且所述参考Q
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V曲线的斜率是在等于或大于所述另一特征点的电压的电压下的斜率。5.一种诊断设备，包括：计算器，该计算器：基于近似指示电池单元的电压与所述电池单元的积分电流量之间的关系的Q
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V曲线的函数模型，计算与所述电池单元的容量相关的值，生成拟合至参考Q
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V曲线的函数模型，将所生成的函数模型对所述电池单元的测量数据进行拟合，并且基于拟合后的函数模型，计算所述电池单元的最大容量。6.根据权利要求5所述的诊断设备，其中，所述计算器将拟合前的函数模型的微分曲线中的特征点的位置与所述拟合后的函数模型的另一微分曲线中的另一特征点的另一位置进行对准。7.根据权利要求6所述的诊断设备，其中，所述特征点是在所述微分曲线中首次出现的局部最大值，所述另一特征点是在所述另一微分曲线中首次出现的局部最大值，所述拟合前的函数模型是在等于或大于所述特征点的电压的电压下的函数模型，并且所述拟合后的函数模型是在等于或大于所述另一特征点的电压的电压下的函数模型。8.一种诊断方法，包括：基于测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：吉武哲，赤崛浩司，数见昌弘，
申请(专利权)人：横河电机株式会社，
类型：发明
国别省市：