【技术实现步骤摘要】
用于对电子设备执行测试的测试插座
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2021年9月28日在韩国知识产权局(KIPO)提交的韩国专利申请No.10
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2021
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0127723的优先权，该韩国专利申请的公开内容通过引用整体并入本文。
[0003]本专利技术构思的示例性实施例涉及测试插座。更具体地，本专利技术构思的示例性实施例涉及用于对电子设备执行测试的测试插座。
技术介绍
[0004]当正在制造诸如固态硬盘(SSD)的电子设备时，期望在完成SSD的制造过程之后执行调试测试。通常，通过将引脚插入电子设备中设置的通孔检查端子来执行测试。在迭代测试过程中，对包括导电材料的通孔检查端子的损坏可能会导致测试过程中与引脚的接触缺陷。此外，在将多个引脚插入多个通孔时可能发生短路，从而对电子设备施加冲击或力。
技术实现思路
[0005]根据本专利技术构思的示例性实施例，测试插座包括：第一主体，所述第一主体包括固定部分，所述固定部分被配置为容纳具有多个测试...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试插座，所述测试插座包括：第一主体，所述第一主体包括固定部分，所述固定部分被配置为容纳具有多个测试端子的样本；第二主体，所述第二主体面向所述第一主体并且与所述第一主体耦接，使得所述第二主体能够围绕铰链销相对于所述第一主体旋转；测试板，所述测试板设置在所述第二主体上并且被配置为测试所述样本，其中，所述测试板中设置有多个第一开口；和多个接口引脚，所述多个接口引脚穿过所述多个第一开口，其中，所述多个接口引脚中的每一个接口引脚包括接触引脚和弹簧，其中，所述接触引脚设置在所述多个接口引脚中的每一个接口引脚的第一端部中，并且被配置为与所述多个测试端子中的一个测试端子接触，并且所述弹簧弹性地支撑所述接触引脚。2.根据权利要求1所述的测试插座，其中，所述固定部分在预设位置处容纳待安装在所述固定部分上的所述样本，使得当所述第二主体围绕所述铰链销旋转时，所述接触引脚与所述多个测试端子接触。3.根据权利要求1所述的测试插座，其中，所述第二主体具有第一表面以及与所述第一表面相对的第二表面，其中，所述测试板设置在所述第一表面上，其中，所述测试插座还包括：板，所述板设置在所述第二表面上，其中，所述板具有用于固定所述多个接口引脚的多个第二开口，并且其中，所述多个第二开口设置为与所述多个第一开口对应。4.根据权利要求1所述的测试插座，其中，当所述第二主体围绕所述铰链销旋转时，所述多个接口引脚同时与所述多个测试端子接触。5.根据权利要求1所述的测试插座，其中，所述多个测试端子中的每一个测试端子设置在穿透所述样本并且具有第一直径的相应的通孔的内表面上，其中，所述多个接口引脚中的每一个接口引脚的所述接触引脚具有大于所述第一直径的第二直径，其中，所述接触引脚具有凸形结构，所述凸形结构具有比所述接触引脚的上部窄的远端，并且其中，所述接触引脚的所述远端的至少一部分与所述测试端子接触。6.根据权利要求5所述的测试插座，其中，所述第二直径为0.3mm至0.6mm。7.根据权利要求1所述的测试插座，其中，所述多个接口引脚的数目为10至12个，并且所述多个接口引脚穿过布置成两行的所述多个第一开口。8.根据权利要求1所述的测试插座，其中，所述多个接口引脚包括铜、铝、钨、镍、钼、金、银、铬、锡或钛中的至少一种。9.根据权利要求1所述的测试插座，所述测试插座还包括：弹性体，所述弹性体被配置为在所述第一主体和所述第二主体之间提供恢复力，以使所述多个接口引脚朝向安装在所述固定部分上的所述样本移动。10.根据权利要求1所述的测试插座，其中，所述样本包括固态硬盘，并且其中，所述多个接口引脚以与设置在所述固态硬盘中的所述多个测试端子的布置相同的布置设置。11.一种测试插座，所述测试插座包括：
第一主体，所述第一主体包括固定部分，所述固定部分被配置为容纳具有多个测试端子的样本；第二主体，所述第二主体面向所述第一主体并且与所述第一主体耦接，使得所述第二主体能够围绕铰链销相对于所述第一主体旋转；测试板，所述测试板设置在所述第二主体上并且被配置为测试所述样本；多个接口引脚，所述多个接口引脚设置在所述测试板中，并且以预设布置方式朝向所述第一主体延伸，其中，所述多个接口引脚中的每一个接口引脚具有圆柱形主体、接触引脚和弹簧，其中，所述圆柱形主体具有开...
【专利技术属性】
技术研发人员：尹吉重，方光奎，张伦，崔载奎，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：
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