一种芯片检测用上下料机制造技术

本发明专利技术公开了一种芯片检测用上下料机，包括：料盘上下料机构，所述料盘上下料机构包括上料码盘组件、下料码盘组件、料盘定位组件、料盘传送组件；测试板上下料机构，所述测试板上下料机构包括测试板定位组件、测试板移动组件；芯片中转机构，所述芯片中转机构位于所述料盘上下料机构与测试板上下料机构之间，所述芯片中转机构包括中转治具、中转移动组件；上下料机头机构，所述上下料机头机构位于料盘上下料机构、测试板上下料机构、芯片中转机构上方位置；测试板中转站，所述测试板中转站包括测试板架、供收料组件；芯片分选机构，所述芯片分选机构包括芯片分选机头、分选移动组件、分选料盘。具有节省人工，提升上下料效率的优点。提升上下料效率的优点。提升上下料效率的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测用上下料机


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，尤其涉及了一种芯片检测用上下料机。

技术介绍

[0002]功能测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生性能的情况进行相应条件加强实验的过程。
[0003]一般来说，电子器件，无论是原件、部件、零件、整机等都需要进行测试。测试由生产厂家或一流的电子电器检测技术公司来完成，其通过测试发现产品存在的问题并且及时修改，让到达消费者手中产品的问题尽量少或提高产品可靠性。
[0004]芯片在测试时需要进行上料和下料，目前，上料时很多通常是人工将待测芯片逐一从料盘中取出，然后摆放到测试板，之后再将测试板搬运到芯片测试机中进行性能测试，下料时很多通常是人工将测完芯片逐一从测试板中取出，然后分类筛选摆放至料盘中，整个过程人工工作量大，且效率极其低下。

技术实现思路

[0005]针对现有技术存在的不足，本专利技术的目的就在于提供了一种芯片检测用上下料机，具有节省人工，提升上下料效率的优点。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术采用的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测用上下料机，其特征在于，包括：料盘上下料机构，所述料盘上下料机构包括上料码盘组件、下料码盘组件、料盘定位组件、料盘传送组件，所述上料码盘组件提供料盘至料盘定位组件上，所述下料码盘组件接收料盘定位组件上的料盘，所述上料码盘组件设置于料盘传送组件的一端，所述下料码盘组件设置于料盘传送组件的另一端，所述料盘定位组件设置于料盘传送组件上，所述料盘传送组件带动料盘定位组件在上料码盘组件、下料码盘组件之间做往复运动；测试板上下料机构，所述测试板上下料机构包括测试板定位组件、测试板移动组件，所述测试板定位组件用于固定测试板，所述测试板移动组件驱动测试板定位组件做往复运动；芯片中转机构，所述芯片中转机构位于所述料盘上下料机构与测试板上下料机构之间，所述芯片中转机构包括中转治具、中转移动组件，所述中转移动组件驱动中转治具做往复运动；上下料机头机构，所述上下料机头机构位于料盘上下料机构、测试板上下料机构、芯片中转机构上方位置，所述上下料机头机构包括料盘上下料机头、测试板上下料机头、上下料移动组件，所述上下料移动组件驱动料盘上下料机头在料盘上下料机构、芯片中转机构之间往复运动，所述上下料移动组件驱动测试板上下料机头在芯片中转机构、测试板上下料机构之间做往复运动；测试板中转站，所述测试板中转站包括测试板架、供收料组件，所述测试板架用于承载测试板，所述供收料组件用于提供测试板架上的测试板至测试板上下料机构，或者用于接收测试板上下料机构上的测试板至测试板架上；芯片分选机构，所述芯片分选机构包括芯片分选机头、分选移动组件、分选料盘，所述分选移动组件驱动所述芯片分选机头在测试板定位组件、分选料盘之间做往复运动，所述芯片分选机头上设置有分选真空吸嘴。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测用上下料机，其特征在于：所述料盘定位组件包括定位盘、定位提升杆，所述定位盘的上表面设置有定位件，所述定位盘的下表面设置有定位提升电机，所述定位提升电机连接有定位提升丝杆，所述定位提升丝杆上套设有定位传动件，所述定位提升杆的底端与定位传动件相连接，所述定位提升杆的顶端向上贯穿引出定位盘。3.根据权利要求1所述的一种芯片检测用上下料机，其特征在于：所述上料码盘组件包括上料码盘架、上料防落件，所述上料码盘架上设置有上料固定柱，所述上料防落件包括上料防落气缸以及设置于上料防落气缸上的上料防落推件。4.根据权利要求1所述的一种芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员：何润，吴森锋，何志伟，
申请(专利权)人：苏州乾鸣半导体设备有限公司，
类型：发明
国别省市：