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一种电子元件连续性测试装置制造方法及图纸

技术编号:37083865 阅读:17 留言:0更新日期:2023-03-29 19:59
本发明专利技术公开了一种电子元件连续性测试装置,涉及电子元件测试技术领域;为了保障测试效率,提升测试可靠性;包括输送机构和测试机构;所述输送机构包括:第一安装架,第一安装架上安装有第一链板输送组件,第一安装架一侧安装有驱动第一链板输送组件运行的第一电机;定位座,定位座等距安装于第一链板输送组件上,定位座上开设有容纳电子元件的凹槽。本发明专利技术通过设置输送机构和测试机构,在测试时,能够将电子元件安装于定位座的凹槽内,基于输送机构工作,将电子元件输送至测试位;利用压紧组件将电子元件压紧固定于定位座的凹槽内;此时,测试组件工作,对电子元件进行测试;有效避免了电子元件翘起的情况,提升了测试的可靠性。提升了测试的可靠性。提升了测试的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元件连续性测试装置


[0001]本专利技术涉及电子元件测试
,尤其涉及一种电子元件连续性测试装置。

技术介绍

[0002]电子元件是组成电子产品的基础,在电子元件的生产加工中,为了保障产品的质量,往往需要对电子元件进行测试,目前的测试装置分为手动测试装置和自动测试装置,手动测试装置通常是通过探头等结构手动进行测试,测试效率较低;自动测试装置通常是将电子元件输送到测试点位进行测试,效率更高,但是电子元件在输送过程中不易保持其姿态平稳,导致测试时电子元件出现偏移的情况,从而影响测试结果,因此,还有待改进。
[0003]经检索,中国专利申请号为CN99117943.9的专利,公开了一种电子元件的测试方法和电子元件测试装置,将测试信号输入到要测试的电子元件里,根据其响应输出信号,判断电子元件好坏的电子元件的测试方法,在第一测试里,对多个电子元件组成的电子元件群的各电子元件A1、A2,输入共同的测试信号,根据其响应信号,判断该测试的电子元件群全体好坏。上述专利中的测试装置存在以下不足:不能够实现流线型作业,测试效率较低,且测试时电子元件可能存在局部翘起等情况,影响测试的可靠性。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种电子元件连续性测试装置。
[0005]为了实现上述目的,本专利技术采用了如下技术方案:
[0006]一种电子元件连续性测试装置,包括输送机构和测试机构;
[0007]所述输送机构包括:
[0008]第一安装架,第一安装架上安装有第一链板输送组件,第一安装架一侧安装有驱动第一链板输送组件运行的第一电机;
[0009]定位座,定位座等距安装于第一链板输送组件上,定位座上开设有容纳电子元件的凹槽;
[0010]所述测试机构包括测试组件、联动组件和压紧组件;
[0011]所述联动组件包括:
[0012]第二安装架,第二安装架上对称安装有两个同步运行的第二链板输送组件,第二安装架一侧安装有驱动第二链板输送组件运行的第二电机;
[0013]支撑板,支撑板通过支架安装于第二链板输送组件内侧,支撑板两端朝靠近第二链板输送组件的方向弯曲,多个支撑板为一组,每组之间留存有间隙;
[0014]第四安装架,第四安装架一端底部通过第二弹簧安装有联动支架,联动支架的两端朝远离第二链板输送组件的方向弯曲,联动支架远离第二链板输送组件的一侧外壁固定有第二滑杆,第二滑杆滑动连接于第四安装架内壁,联动支架的尺寸与间隙的尺寸相适配;
[0015]侧支架,侧支架固定于第二滑杆顶部外壁,两个侧支架之间固定有同一个升降架;
[0016]压紧组件安装于升降架底部,压紧组件基于升降架的下降,将电子元件压紧固定于定位座的凹槽内;
[0017]测试组件的位置与定位座的位置相适配。
[0018]优选的:所述联动支架上安装有多个滚轮,联动支架通过滚轮滑动于支撑板外壁。
[0019]进一步的:所述压紧组件包括:
[0020]第一滑杆,第一滑杆滑动连接于升降架内壁;
[0021]安装块,安装块安装于第一滑杆外侧,安装块顶部通过第一弹簧连接于升降架底部;
[0022]压板,压板固定于第一滑杆底部外壁。
[0023]进一步优选的:所述安装块滑动连接于第一滑杆外壁,安装块一侧内壁通过螺纹连接有用于固定安装块的顶丝。
[0024]作为本专利技术一种优选的:所述第一滑杆为六棱柱结构,所述第一滑杆顶端固定有限位块。
[0025]作为本专利技术进一步优选的:所述测试机构包括:
[0026]第三安装架,第三安装架上通过螺栓固定有电动伸缩缸;
[0027]测试架,测试架固定于电动伸缩缸的输出端;
[0028]测试组件,测试组件安装于电动伸缩缸底部外壁。
[0029]作为本专利技术再进一步的方案:所述升降架底部固定有红外测距仪,红外测距仪的位置与定位座相适配,所述测试装置还包括报警组件和控制组件,红外测距仪和报警组件均与控制组件信号连接。
[0030]在前述方案的基础上:所述测试架一侧外壁固定有CCD拍摄组件。
[0031]在前述方案的基础上优选的:所述第二安装架上通过螺栓固定有托台,托台位于第一链板输送组件内侧。
[0032]在前述方案的基础上进一步优选的:所述第一链板输送组件内侧通过转筒架安装有可转动的转筒,转筒架和转筒的位置与定位座相对应;位于上方的转筒滚动于托台顶面。
[0033]本专利技术的有益效果为:
[0034]1.本专利技术通过设置输送机构和测试机构,在测试时,能够将电子元件安装于定位座的凹槽内,基于输送机构工作,将电子元件输送至测试位;第一链板输送组件工作的同时第二链板输送组件工作,联动支架基于第二弹簧的作用力滑动连接于支撑板表面,当联动支架滑动至间隙处时,基于第二弹簧的作用力,使得联动支架向第二链板输送组件处移动,进而带动侧支架、升降架下降,从而利用压紧组件将电子元件压紧固定于定位座的凹槽内;此时,测试组件工作,对电子元件进行测试;有效避免了电子元件翘起的情况,提升了测试的可靠性。
[0035]2.本专利技术由于支撑板和联动支架两端均为相适配的弯曲状结构,能够起到导向的作用,保障了联动支架滑动于支撑板和间隙之间的流畅度。
[0036]3.本专利技术由于定位座等距安装,间隙等距设置,工作人员能够通过控制第一链板输送组件和第二链板输送组件的线速度,使各结构运动的时机适配,从而满足连续性测试的目的。
[0037]4.本专利技术通过设置压紧组件,能够基于升降架的下降,使两个压板向下压紧于电
子元件的两端,在第一弹簧的作用下,将电子元件固定于定位座的凹槽内,以便于后续测试,提升了可靠性。
[0038]5.本专利技术通过设置红外测距仪、报警组件和控制组件,能够基于红外测距仪检测定位座的位置,从而判断压板是否压紧到位,若红外测距仪检测值超限时,控制组件控制报警组件工作,提升了可靠性。
[0039]6.本专利技术通过设置转筒架、转筒,能够在第一链板输送组件运行时,上方的转筒滚动于托台顶部,从而对第一链板输送组件对应的部位进行支撑,保障其局部平稳,由于是滚动连接,保障了第一链板输送组件运行的流畅度。
附图说明
[0040]图1为本专利技术提出的一种电子元件连续性测试装置的结构示意图;
[0041]图2为本专利技术提出的一种电子元件连续性测试装置第一链板输送组件的结构示意图;
[0042]图3为本专利技术提出的一种电子元件连续性测试装置托台、第二链板输送组件的结构示意图;
[0043]图4为本专利技术提出的一种电子元件连续性测试装置转筒架、转筒的结构示意图;
[0044]图5为本专利技术提出的一种电子元件连续性测试装置测试机构的结构示意图;
[0045]图6为本专利技术提出的一种电子元件连续性测试装置压紧组件的结构示意图;
[0046]图7为本专利技术提出的一种电子元件连续本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元件连续性测试装置,其特征在于,包括输送机构和测试机构;所述输送机构包括:第一安装架(1),第一安装架(1)上安装有第一链板输送组件(2),第一安装架(1)一侧安装有驱动第一链板输送组件(2)运行的第一电机(9);定位座(10),定位座(10)等距安装于第一链板输送组件(2)上,定位座(10)上开设有容纳电子元件(11)的凹槽;所述测试机构包括测试组件、联动组件和压紧组件;所述联动组件包括:第二安装架(8),第二安装架(8)上对称安装有两个同步运行的第二链板输送组件(3),第二安装架(8)一侧安装有驱动第二链板输送组件(3)运行的第二电机(7);支撑板(15),支撑板(15)通过支架安装于第二链板输送组件(3)内侧,支撑板(15)两端朝靠近第二链板输送组件(3)的方向弯曲,多个支撑板(15)为一组,每组之间留存有间隙;第四安装架(6),第四安装架(6)一端底部通过第二弹簧(30)安装有联动支架(28),联动支架(28)的两端朝远离第二链板输送组件(3)的方向弯曲,联动支架(28)远离第二链板输送组件(3)的一侧外壁固定有第二滑杆(29),第二滑杆(29)滑动连接于第四安装架(6)内壁,联动支架(28)的尺寸与间隙的尺寸相适配;侧支架(31),侧支架(31)固定于第二滑杆(29)顶部外壁,两个侧支架(31)之间固定有同一个升降架(17);压紧组件安装于升降架(17)底部,压紧组件基于升降架(17)的下降,将电子元件(11)压紧固定于定位座(10)的凹槽内;测试组件的位置与定位座(10)的位置相适配。2.根据权利要求1所述的一种电子元件连续性测试装置,其特征在于,所述联动支架(28)上安装有多个滚轮(27),联动支架(28)通过滚轮(27)滑动于支撑板(15)外壁。3.根据权利要求1所述的一种电子元件连续性测试装置,其特征在于,所述压紧组件包括:第一滑杆(21),第一滑杆(21)滑动连接于升降架(1...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈初侠向荣叶松方愿捷李强李承铭柯骏王世龙房雅文黄蕾李雪
申请(专利权)人:巢湖学院
类型:发明
国别省市:

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