基于人工智能的电子产品回收管理系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了基于人工智能的电子产品回收管理系统及方法，所述产品外观分析模块对电子产品的外观数据进行分析，计算电子产品的第一外观老化值LHW1及第二外观老化值LHW2，并得到电子产品的外观老化速率比WGL；所述产品回收管理模块根据电子产品系统主板的综合老化速率比及电子产品的外观老化速率比，获取电子产品的回收评估值，并根据电子产品的回收评估值对电子产品进行回收管理。本发明专利技术涉及产品回收技术领域，本发明专利技术相对于现有技术，能够结合电子产品的获取数据及数据库中历史回收的电子产品数据进行综合分析，对电子产品的评估方式更加深入，对电子产品的评估结果更加准确。对电子产品的评估结果更加准确。对电子产品的评估结果更加准确。

【技术实现步骤摘要】
基于人工智能的电子产品回收管理系统及方法


[0001]本专利技术涉及产品回收
，具体为基于人工智能的电子产品回收管理系统及方法。

技术介绍

[0002]随着电子信息技术的快速发展，电子产品越来越普及，人们在日常生活中对电子产品的使用也越来越频繁，其也为人们的生产和生活带来了较大的便利。但是，电子产品存在使用寿命，在使用过程中，也存在磨损的情况，因此，人们往往每隔一段时间就会对电子产品进行更换，对于替换的电子产品往往采用丢弃或者转卖给回收人员的方式进行处理。
[0003]现有的基于人工智能的电子产品回收管理系统，仅仅是对电子产品的外观或者性能情况进行简单的检测，检测精度较差，进而对电子产品的评估结果与实际情况存在较大的差异，因此，现有技术存在较大的缺陷。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供基于人工智能的电子产品回收管理系统及方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：基于人工智能的电子产品回收管理方法，所述方法包括以下步骤：
[0006]S1、获取电子产品的系统、外观及功能信息；
[0007]S2、根据电子产品的系统信息及功能信息，计算电子产品各项功能的老化值及电子产品系统主板的综合老化度LHZ，结合数据库中回收的电子产品对应的回收数据，得到电子产品系统主板的综合老化速率比ZBL；
[0008]S3、对电子产品的外观数据进行分析，计算电子产品的第一外观老化值LHW1及第二外观老化值LHW2，并得到电子产品的外观老化速率比WGL；
[0009]S4、根据电子产品系统主板的综合老化速率比及电子产品的外观老化速率比，获取电子产品的回收评估值，并根据电子产品的回收评估值对电子产品进行回收管理，
[0010]当电子产品的回收评估值大于等于第一阈值时，则判定电子产品严重老化，无法进行零部件拆卸回收并二次利用，所述第一阈值为数据库中预制的常数，
[0011]当电子产品的回收评估值小于第一阈值时，则判定电子产品轻微老化，回收电子产品后，对电子产品进行拆卸，并对拆卸的零部件进行检测回收，将检测合格的零部件进行二次利用。
[0012]进一步的，所述S1中电子产品的系统信息包括：系统版本号、主板型号及系统激活时间，当系统不需要激活时，则系统激活时间对应的值为电子产品的生产日期；
[0013]电子产品的外观信息包括：电子产品背面及侧面划痕信息，电子产品正面的屏幕信息，所述屏幕信息包括屏幕破损面积比，所述屏幕破损面积比为屏幕破损区域对应的面积占屏幕总面积的比值；
[0014]电子产品的功能信息包括：屏显信息缺失面积比、电池老化度及各个功能的系统反馈时延，所述屏显信息缺失面积比为屏幕显示异常区域对应的面积占屏幕总显示面积的比值，记为MQB，所述屏幕显示异常区域为显示屏中显示内容与待显示画面不同的区域，
[0015]获取电池老化度时，将电子产品的电池充电过程中充入百分之n的电对应的实际电能，记为A1，将电子产品的电池放电过程中消耗百分之n的电对应的实际电能，记为A2，将电子产品的电池的标准容量记为A3，则电池老化度为A1与A2的均值除以百分之n与A3的乘积时对应的商，记为LHD，
[0016][0017]所述n为数据库中预制的常数。
[0018]本专利技术在获取电子产品的系统信息、外观信息及功能信息时，是通过相应的传感器进行检测获取的；计算电子产品功能信息时，将电池与各个系统功能区分开始因为系统的各个功能反应的是电子产品的主板性能，而主板与电池均属于独立的个体，且电池性能也直接影响电子产品各个功能的使用及实现；获取A1与A2，是考虑到电池老化过程中，电子设备显示的相应比例的电量对应的实际值出现偏小的情况，即充电过程中实际充入的电量偏小或放电过程中实际消耗的电量偏小。
[0019]进一步的，所述S2中计算电子产品各项功能的老化值的方法包括以下步骤：
[0020]S2.1、获取电子产品的系统信息中的系统版本号、主板型号及系统激活时间，并用当前时间减去系统激活时间，得到电子产品的使用时长，记为t1；
[0021]S2.2、获取电子产品的功能信息中各个功能的系统反馈时延，将电子产品功能信息中的第i项功能的系统反馈时延记为Ti；
[0022]S2.3、根据电子产品的系统版本号及主板型号，获取数据库中不同功能的系统反馈时延标准参照值，将Ti对应功能的系统反馈时延标准参照值记为TCi；
[0023]S2.4、得到电子产品第i项功能的老化值，记为LHi，
[0024]LHi＝Bit1*Ti/TCi
[0025]其中，Bit1表示电子产品第i项功能的老化系数；
[0026]所述电子产品第i项功能的老化系数Bit1的获取的方法包括以下步骤：
[0027]Sa1、获取历史数据中第i项功能且使用时长在t2相应的误差范围内的各个系统反馈时延的平均值，记为TJi，所述t2相应的误差范围内指的是使用时长大于等于t2
‑
t3且小于等于t2+t3的区间范围，所述t3为数据库中预制的常数；
[0028]Sa2、将t2为不同值时对应的(t2，TJi)作为坐标点，根据线性回归模型公式，得到TJi与t2之间的关系函数，记为F(t2)；
[0029]Sa3、得到电子产品第i项功能的老化系数Bit1，所述Bit1等于函数F(t2)中斜率的绝对值，历史数据中第i项功能对应的系统反馈时延每发生一次变化，则重新获取一次函数F(t2)。
[0030]本专利技术计算电子产品各项功能的老化值的过程中，获取电子产品第i项功能的老化系数时，采用线性回归模型拟合函数关系的方式，是考虑到历史数据中第i项功能对应的系统反馈时延数据的个数是变化的，因此，数据个数每出现一次变化，重新获取一次相应的函数，能够实现对电子产品第i项功能的老化系数的更新，确保获取的电子产品第i项功能
老化值的准确性。
[0031]进一步的，所述S2中得到电子产品系统主板的综合老化速率比的方法包括以下步骤：
[0032]S2
‑
1、获取电子产品的屏显信息缺失面积比MQB、电池老化度LHD及电子产品第i项功能的老化值LHi；
[0033]S2
‑
2、计算电子产品系统主板的综合老化度LHZ，默认LHZ大于0，
[0034][0035]其中，i1表示电子产品中功能的总项数；
[0036]S23、计算电子产品系统主板的寿命预估值M，
[0037][0038]其中，d为数据库中电子产品达到报废程度时对应的系统主板综合老化度参照值，所述d为数据库中预制的常数；
[0039]S2
‑
4、获取历史数据库中各个回收的电子产品系统主板对应寿命预估值的平均值M1；
[0040]S2
‑
5、得到电子产品系统主板的综合老化速率比ZBL，所述ZBL等于M与M1的比值本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于人工智能的电子产品回收管理方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1、获取电子产品的系统、外观及功能信息；S2、根据电子产品的系统信息及功能信息，计算电子产品各项功能的老化值及电子产品系统主板的综合老化度LHZ，结合数据库中回收的电子产品对应的回收数据，得到电子产品系统主板的综合老化速率比ZBL；S3、对电子产品的外观数据进行分析，计算电子产品的第一外观老化值LHW1及第二外观老化值LHW2，并得到电子产品的外观老化速率比WGL；S4、根据电子产品系统主板的综合老化速率比及电子产品的外观老化速率比，获取电子产品的回收评估值，并根据电子产品的回收评估值对电子产品进行回收管理，当电子产品的回收评估值大于等于第一阈值时，则判定电子产品严重老化，无法进行零部件拆卸回收并二次利用，所述第一阈值为数据库中预制的常数，当电子产品的回收评估值小于第一阈值时，则判定电子产品轻微老化，回收电子产品后，对电子产品进行拆卸，并对拆卸的零部件进行检测回收，将检测合格的零部件进行二次利用。2.根据权利要求1所述的基于人工智能的电子产品回收管理方法，其特征在于：所述S1中电子产品的系统信息包括：系统版本号、主板型号及系统激活时间，当系统不需要激活时，则系统激活时间对应的值为电子产品的生产日期；电子产品的外观信息包括：电子产品背面及侧面划痕信息，电子产品正面的屏幕信息，所述屏幕信息包括屏幕破损面积比，所述屏幕破损面积比为屏幕破损区域对应的面积占屏幕总面积的比值；电子产品的功能信息包括：屏显信息缺失面积比、电池老化度及各个功能的系统反馈时延，所述屏显信息缺失面积比为屏幕显示异常区域对应的面积占屏幕总显示面积的比值，记为MQB，所述屏幕显示异常区域为显示屏中显示内容与待显示画面不同的区域，获取电池老化度时，将电子产品的电池充电过程中充入百分之n的电对应的实际电能，记为A1，将电子产品的电池放电过程中消耗百分之n的电对应的实际电能，记为A2，将电子产品的电池的标准容量记为A3，则电池老化度为A1与A2的均值除以百分之n与A3的乘积时对应的商，记为LHD，所述n为数据库中预制的常数。3.根据权利要求2所述的基于人工智能的电子产品回收管理方法，其特征在于：所述S2中计算电子产品各项功能的老化值的方法包括以下步骤：S2.1、获取电子产品的系统信息中的系统版本号、主板型号及系统激活时间，并用当前时间减去系统激活时间，得到电子产品的使用时长，记为t1；S2.2、获取电子产品的功能信息中各个功能的系统反馈时延，将电子产品功能信息中的第i项功能的系统反馈时延记为Ti；S2.3、根据电子产品的系统版本号及主板型号，获取数据库中不同功能的系统反馈时延标准参照值，将Ti对应功能的系统反馈时延标准参照值记为TCi；S2.4、得到电子产品第i项功能的老化值，记为LHi，
LHi＝Bit1*Ti/TCi其中，Bit1表示电子产品第i项功能的老化系数；所述电子产品第i项功能的老化系数Bit1的获取的方法包括以下步骤：Sa1、获取历史数据中第i项功能且使用时长在t2相应的误差范围内的各个系统反馈时延的平均值，记为TJi，所述t2相应的误差范围内指的是使用时长大于等于t2
‑
t3且小于等于t2+t3的区间范围，所述t3为数据库中预制的常数；Sa2、将t2为不同值时对应的(t2，TJi)作为坐标点，根据线性回归模型公式，得到TJi与t2之间的关系函数，记为F(t2)；Sa3、得到电子产品第i项功能的老化系数Bit1，所述Bit1等于函数F(t2)中斜率的绝对值，历史数据中第i项功能对应的系统反馈时延每发生一次变化，则重新获取一次函数F(t2)。4.根据权利要求3所述的基于人工智能的电子产品回收管理方法，其特征在于：所述S2中得到电子产品系统主板的综合老化速率比的方法包括以下步骤：S21、获取电子产品的屏显信息缺失面积比MQB、电池老化度LHD及电子产品第i项功能的老化值LHi；S22、计算电子产品系统主板的综合老化度LHZ，默认LHZ大于0，其中，i1表示电子产品中功能的总项数；S2
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3、计算电子产品系统主板的寿命预估值M，其中，d为数据库中电子产品达到报废程度时对应的系统主板综合老化度参照值，所述d为数据库中预制的常数；S2
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4、获取历史数据库中各个回收的电子产品系统主板对应寿命预估值的平均值M1；S2
‑
5、得到电子产品系统主板的综合老化速率比ZBL，所述ZBL等于M与M1的比值。5.根据权利要求3所述的基于人工智能的电子产品回收管理方法，其特征在于：所述S3中得到电子产品的外观老化速率比的方法包括以下步骤：S3.1、获取电子产品的外观信息中的电子产品背面及侧面划痕信息，所述划痕信息包括划痕深度大于等于第一预设值的硬划痕区域及划痕深度小于第一预设值的细划痕区域，所述第一预设值为数据库中预制的常数，电子产品正面的屏幕破损面积比；S3.2、得到电子产品的第一外观老化值LHW1，默认LHW1大于O，其中，YQ表示电子产品外观信息中硬划痕区域面积，e表示第一外观系数且e为数据库中预制的常数，XQ表示电子产品外观信息中细划痕区域面积，ZM表示电子产品背面及侧面对应总面积；S3.3、得到电子产品的第二外观老化值LHW2，所述LHW2等于LHW1与电子产品正面的屏幕破损面积比的和；
S3.4、计算电子产品外观的寿命预估值M2，其中，d1为数据库中电子产品达到报废程度时对应的第一外观老化值的参照值，所述d1为数据库中预制的常数；S3.5、获取历史数据库中各个回收的电子产品外观对应寿命预估值的平均值M3；S3.6、得到电子产品的外观老化速率比WGL，所述WGL等于M2与M3的比值。6.根据权利要求1所述的基于人工智能的电子产品回收管理方法，其特征在于：所述S4中获取电子产品的回收评估值的方法包括以下步骤：S4.1、获取电子产品系统主板的综合老化度LHZ、电子产品系统主板的综合老化速率比ZBL、电子产品的第二外观老化值LHW2及电子产品的外观老化速...

【专利技术属性】
技术研发人员：裕世超，朱猛，
申请(专利权)人：唯羲科技有限公司，
类型：发明
国别省市：