本发明专利技术公开了一种卷径的测量方法、装置、系统及计算机介质，涉及卷绕机技术领域。通过卷绕机的当前时刻的第一走带总长度及走带的厚度确定卷绕机的预测卷径值，在一电机转动的预设角度间隔值内，编码器打滑使此预设角度间隔值内测量的走带长度偏低，从而使此预设角度间隔值内得到实时卷径值相对于预测卷径值误差较大，而在实际应用中走带的实际厚度可能小于或大于测量得到的走带厚度，影响预测卷径值，但对实时卷径值无影响，结合预测卷径值与实时卷径值得到的当前卷径值，使当前卷径值更贴合卷绕机工作运转时的实时卷径值，有效消除测量的滞后性，提高了卷径测量的准确性，且无需额外添加设备，降低了成本。降低了成本。降低了成本。
【技术实现步骤摘要】
一种卷径的测量方法、装置、系统及计算机介质
[0001]本专利技术涉及卷绕机
，特别是涉及一种卷径的测量方法、装置、系统及计算机介质。
技术介绍
[0002]随着科技的发展，卷绕机被广泛应用于胶管线，锦纶，涤纶帘子线，聚酯线绳，高科技纤维、涂层纱线、人造草丝、涂层玻璃纤维、锂离子电池等的生产，提高了行业的生产力。卷绕机中的电机的转动带动卷针转动，对与卷针连接的走带进行收卷，随着走带的收卷会使卷针的卷径越来越大，在电机的转动速度不变的情况下，卷针外层的线速度即走带的速度会逐渐增大，增大卷针对走带的张力，从而可能造成走带断裂，使卷绕机不能正常工作。所以对卷绕机而言，对走带的速度控制非常重要，而走带的速度又由电机的转动速度与卷针的卷径所确定，所以知道实时卷径非常必要。
[0003]对于上述问题，目前通常采用两种方法解决，方法一为采用激光测距传感器测量卷针的卷径；方法二为通过卷绕机中的编码器检测一段时间内走带长度，再根据电机转过的角度，得到卷针的卷径。但是方法一中，激光测距传感器成本较高；方法二中，当编码器打滑时，会使检测到的走带长度偏低，误差较大，由于通过电机转过一定角度时编码器检测到的走带走过的走带差值计算得到当前时刻的当前卷径值，所以得到的卷径值具有明显的滞后性。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的是提供一种卷径的测量方法、装置、系统及计算机介质。本专利技术通过预测卷径值与实时卷径值得到的当前卷径值，使当前卷径值更贴合卷绕机工作运转时的实时卷径值，有效消除测量的滞后性，提高了卷径测量的准确性，且无需额外添加设备，降低了成本。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种卷径的测量方法，该方法包括：
[0006]在卷绕机中的电机转动预设角度间隔值时，获取当前时刻所述卷绕机中编码器检测到的走带的第一走带总长度；
[0007]根据所述第一走带总长度与所述走带的预设厚度，确定所述卷绕机的当前时刻的预测卷径值；
[0008]根据所述第一走带总长度与上一时刻所述编码器检测到的所述走带的第二走带总长度，确定当前时刻的走带差值；
[0009]根据所述走带差值与所述预设角度间隔值，确定所述卷绕机的当前时刻的实时卷径值；
[0010]根据所述预测卷径值与所述实时卷径值，确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值。
[0011]优选地，根据所述第一走带总长度与所述走带的预设厚度，确定所述卷绕机的预
测卷径值，包括:
[0012]将所述第一走带总长度及所述走带的预设厚度输入预设卷径值预测模型，确定所述卷绕机的预测卷径值；
[0013]所述预设卷径值预测模型为：
[0014][0015]R
th
(t)为所述卷绕机当前时刻t的预测卷径值；
[0016]R
o
为所述卷绕机初始时刻的初始半径；
[0017]t
w
为所述走带的预设厚度；
[0018]为当前时刻t的所述第一走带总长度。
[0019]优选地，根据所述走带差值与所述预设角度间隔值，确定所述卷绕机的当前时刻的实时卷径值之后，还包括：
[0020]对所述实时卷径值做超前滞后滤波处理，确定当前时刻的实时卷径值。
[0021]优选地，根据所述预测卷径值与所述实时卷径值，确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值之后，还包括：
[0022]判断所述当前时刻的当前卷径值是否小于上一时刻得到的当前卷径值；
[0023]若是，则将上一时刻得到的当前卷径值作为当前时刻的当前卷径值；
[0024]若否，则保持所述当前时刻的当前卷径值不变。
[0025]优选地，根据所述预测卷径值与所述实时卷径值，确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值之后，还包括：
[0026]根据所述当前时刻的当前卷径值控制所述电机的转速，以控制所述走带的速度。
[0027]优选地，根据所述预测卷径值与所述实时卷径值，确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值，包括：
[0028]根据所述预测卷径值与所述实时卷径值及预设的卷径权值，确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值；
[0029]所述当前卷径值为：
[0030]R＝αR
th
(t)+(1
‑
α)R
me
(t)
[0031]α为所述卷径权值，取值范围为0
‑
1；
[0032]R
th
(t)为所述卷绕机当前时刻t的预测卷径值；
[0033]R
me
(t)为所述卷绕机当前时刻t的实时卷径值。
[0034]优选地，根据所述预测卷径值与所述实时卷径值及预设的卷径权值，确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值之前，还包括：
[0035]根据接收到的用户指令确定所述卷径权值。
[0036]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种卷径的测量装置，包括：
[0037]存储器，用于存储计算机程序；
[0038]处理器，用于执行所述计算机程序实现所述的卷径的测量方法的步骤。
[0039]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的卷径的测量方
法的步骤。
[0040]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种卷绕机，包括：电机、编码器及实现所述的卷径的测量方法的卷径的测量装置；
[0041]所述卷径的测量装置分别与所述电机及所述编码器连接。
[0042]本专利技术提供了一种卷径的测量方法、装置、系统及计算机介质，通过卷绕机中编码器检测到的当前时刻的第一走带总长度及走带的厚度可以确定卷绕机的预测卷径值，在某一电机转动的预设角度间隔值内，编码器打滑使此预设角度间隔值内测量的走带长度偏低，从而使此预设角度间隔值内得到实时卷径值相对于预测卷径值误差较大，而在实际应用中走带可能为两种材料挤压形成或者两种材料按照一定间隙形成，得到的走带的厚度为两种材料厚度的加和，相较于实际走带的厚度偏大或者偏低，影响预测卷径值，但对实时卷径值无影响，结合预测卷径值与实时卷径值得到的当前卷径值，使当前卷径值更贴合卷绕机工作运转时的实时卷径值，有效消除测量的滞后性，提高了卷径测量的准确性，且无需额外添加设备，降低了成本。
附图说明
[0043]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对现有技术和实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0044]图1为本专利技术提供的一种卷径的测量方法的过程流程图；
[0045]图2为本专利技术提供的一种卷径的测量装置的结构示意图；
[0046]图3为本专利技术提供的一种卷绕机的结构示意图；
[0047]图4本本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种卷径的测量方法，其特征在于，该方法包括：在卷绕机中的电机转动预设角度间隔值时，获取当前时刻所述卷绕机中编码器检测到的走带的第一走带总长度；根据所述第一走带总长度与所述走带的预设厚度，确定所述卷绕机的当前时刻的预测卷径值；根据所述第一走带总长度与上一时刻所述编码器检测到的所述走带的第二走带总长度，确定当前时刻的走带差值；根据所述走带差值与所述预设角度间隔值，确定所述卷绕机的当前时刻的实时卷径值；根据所述预测卷径值与所述实时卷径值，确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值。2.如权利要求1所述的卷径的测量方法，其特征在于，根据所述第一走带总长度与所述走带的预设厚度，确定所述卷绕机的预测卷径值，包括:将所述第一走带总长度及所述走带的预设厚度输入预设卷径值预测模型，确定所述卷绕机的预测卷径值；所述预设卷径值预测模型为：R
th
(t)为所述卷绕机当前时刻t的预测卷径值；R
o
为所述卷绕机初始时刻的初始半径；t
w
为所述走带的预设厚度；为当前时刻t的所述第一走带总长度。3.如权利要求1所述的卷径的测量方法，其特征在于，根据所述走带差值与所述预设角度间隔值，确定所述卷绕机的当前时刻的实时卷径值之后，还包括：对所述实时卷径值做超前滞后滤波处理，确定当前时刻的实时卷径值。4.如权利要求1所述的卷径的测量方法，其特征在于，根据所述预测卷径值与所述实时卷径值，确定所述卷绕机的当前时刻的当前卷径值之后，还包括：判断所述当前时刻的当前卷径值是否小于上一时刻得到的当前卷径值；若是，则将上一时刻得到的当前卷径值作为当前时刻的当前卷径值；若否，则保持所述当前时刻的当前卷径值不变。5.如权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈昊真，张俊峰，张锦亮，曹元坤，夏光荣，倪军，
申请(专利权)人：安脉时代智能制造宁德有限公司，
类型：发明
国别省市：
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