【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及极片检测，尤其涉及一种极片缺陷确定方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、随着锂离子电池技术的不断发展，对电池性能的要求也越来越高。极片是锂离子电池的重要组成部分，其质量直接影响着电池的性能和寿命。因此，对极片进行缺陷检测是保证电池质量的重要手段之一。但是在电池生产中，随着机台的生产效率逐步提高，对极片缺陷检测的效率和稳定性也有了新的挑战。
2、针对暗痕和亮痕等连续性缺陷，现有技术对整张图像进行水平灰度投影，因为暗痕和亮痕呈现竖直线条状，需要对图像进行90°旋转后，然后进行水平灰度投影，整个过程耗时较多，大大降低了算法效率。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种极片缺陷确定方法、装置、设备及存储介质，以解决现有技术极片上连续缺陷的算法检测速度慢以及存在非完整连续缺陷漏杀的问题。
2、根据本专利技术的一方面，提供了一种极片缺陷确定方法，该方法包括：
3、获取极片的灰度图像，根据灰度图像确定各检测区域；
4、对各检测区域进行灰度投影以确定各检测区域的目标灰度数据；
5、当目标灰度数据满足预设条件时，根据预设灰度差值确定与各检测区域对应的各候选区域，根据各候选区域确定极片缺陷检测结果。
6、可选的，根据灰度图像确定各检测区域，包括：通过预设卡尺工具确定灰度图像中的灰度值突变位置，将灰度值突变位置作为当前定位边缘；获取缓存的历史定位边缘，确定当前定位边缘和历史定位边缘的边缘差值；当边缘差值小于预设差
7、可选的，对各检测区域进行灰度投影以确定各检测区域的目标灰度数据，包括：对各检测区域进行灰度投影以生成各检测区域对应的各灰度投影行；确定各灰度投影行的行灰度平均值，并基于各行灰度平均值确定各检测区域对应的区域灰度平均值；确定各行灰度平均值中与各检测区域对应的灰度最大值和灰度最小值；将区域灰度平均值、灰度最大值和灰度最小值作为目标灰度数据。
8、可选的，在对各检测区域进行灰度投影以确定各检测区域的目标灰度数据之后，方法，还包括：确定各检测区域的区域灰度平均值和灰度最大值的各第一差值，并确定各检测区域的区域灰度平均值和灰度最小值的各第二差值；当第一差值或第二差值大于预设灰度差时，将第一差值或第二差值作为缺陷差值，并确定检测区域的区域数量和缺陷差值的差值数量；当差值数量和区域数量的比值大于等于预设比例时，确定目标灰度数据满足预设条件。
9、可选的，根据预设灰度差值确定与各检测区域对应的各候选区域，包括：确定各检测区域中的各像素对应的像素灰度值；当像素灰度值大于预设灰度差时，将像素灰度值作为目标像素；基于各检测区域建立坐标系，在坐标系中确定各目标像素两侧的两侧位置坐标，将各两侧位置坐标在各检测区域中对应的区域作为各候选区域。
10、可选的，根据各候选区域确定极片缺陷检测结果，包括：确定区域数量对应的中位数，将与中位数对应的候选区域作为中间区域，并依次将各候选区域作为目标区域；确定中间区域和目标区域的重合比例，并确定目标区域对应的灰度方差；根据各重合比例和各灰度方差确定极片缺陷检测结果。
11、可选的，根据各重合比例和各灰度方差确定极片缺陷检测结果，包括：当目标区域的重合比例和灰度方差都大于对应的预设阈值时，将目标区域作为缺陷区域，其中，缺陷区域为暗痕区域或亮痕区域；确定缺陷区域对应的目标灰度方差和目标缺陷差值；将缺陷区域、目标灰度方差和目标缺陷差值作为极片缺陷检测结果。
12、根据本专利技术的另一方面，提供了一种极片缺陷确定装置，该装置包括：
13、灰度图像获取及检测区域确定模块，用于获取极片的灰度图像，根据灰度图像确定各检测区域；
14、目标灰度数据确定模块，用于对各检测区域进行灰度投影以确定各检测区域的目标灰度数据；
15、候选区域及极片缺陷确定模块，用于当目标灰度数据满足预设条件时，根据预设灰度差值确定与各检测区域对应的各候选区域，根据各候选区域确定极片缺陷检测结果。
16、根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
17、至少一个处理器；以及
18、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
19、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的一种极片缺陷确定方法。
20、根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的一种极片缺陷确定方法。
21、本专利技术实施例的技术方案，通过对获取的极片灰度图像进行等分生成各检测区域，通过灰度投影以确定各检测区域的区域灰度平均值、灰度最大值和灰度最小值作为目标灰度数据，进而确定极片缺陷检测结果，使用等间距采样方式检测连续缺陷，以保证检测精度和全面性，提升了算法的处理速度，也提升了算法的检出能力。
22、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
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1.一种极片缺陷确定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述灰度图像确定各检测区域，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对各所述检测区域进行灰度投影以确定各检测区域的目标灰度数据，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述对各所述检测区域进行灰度投影以确定各检测区域的目标灰度数据之后，所述方法，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据预设灰度差值确定与各所述检测区域对应的各候选区域，包括：
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据各所述候选区域确定极片缺陷检测结果，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据各所述重合比例和各所述灰度方差确定极片缺陷检测结果，包括：
8.一种极片缺陷确定装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器
...【技术特征摘要】
1.一种极片缺陷确定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述灰度图像确定各检测区域，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对各所述检测区域进行灰度投影以确定各检测区域的目标灰度数据，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在所述对各所述检测区域进行灰度投影以确定各检测区域的目标灰度数据之后，所述方法，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据预设灰度差值确定与各所述检测区域对应的各候选...
【专利技术属性】
技术研发人员：李西卫，张广顺，韩雪超，许江华，倪军，
申请(专利权)人：安脉时代智能制造宁德有限公司，
类型：发明
国别省市：
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