显示装置制造方法及图纸

校正电路的每个像素的累计使用数据划分成多个数据部分，每个数据部分存储于不同的存储工具。例如，累计使用数据划分成将被单独存储的高位和低位，通过将高位加到经由计算累计使用数据的低位所产生的半进位而产生累计使用数据的高位。基于由此获得的累计使用数据而选择的退化系数乘以视频数据而获得已校正视频数据。本发明专利技术还提供了集成该校正电路的显示装置的控制电路。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及在像素部分中使用发光元件的显示装置。更为特别地，本专利技术涉及的显示装置在像素部分中使用典型地为电致发光(EL)元件的发光元件，且该显示装置具有用于根据发光元件的退化而校正视频数据的视频数据校正电路。此外，本专利技术涉及具有显示面板的显示装置，其中在每个像素中设有诸如EL元件的发光元件，该显示装置还具有用于存储视频数据的存储工具以及用于校正发光元件退化的视频数据校正电路。
技术介绍
作为LCD(液晶显示)的替代品的显示装置由每个像素中具有发光元件的显示面板、和用于将信号输入到面板中的外围电路组成，且该显示装置通过控制发光元件的光发射而显示图像。该显示装置包括一个控制电路，该控制电路用于向显示面板输出面板控制信号和通过转换接收的视频信号而获得的视频数据，从而在面板的像素中获得灰度级显示。在该显示装置的显示面板中，典型地在每个像素中提供两个或三个TFT(薄膜晶体管)，以及在每个像素中提供给发光元件的电流，也就是说，通过控制这些TFT的导通/截止而控制每个像素中发光元件的光发射/无光发射。此外，在面板像素部分的外围提供用于控制每个像素中TFT的导通/截止的驱动电路。该驱动电路可以由与像素部分中的TFT同时形成的TFT组成。这些TFT可以为N沟道TFT或P沟道TFT。典型地由模拟方法或者数字方法实现具有前述配置的像素中的灰度级显示。数字方法的优点在于其不受TFT特性变化的影响。已知的数字灰度级显示方法为时间灰度级方法和区域灰度级方法。根据时间灰度级方法，通过控制显示装置的每个像素发光的周期而实现灰度级显示。当假设在一个帧周期内显示一幅图像时，一个帧周期被划分成多个子帧周期。对于每个子帧周期选择发光或者不发光(即，每个像素内的发光元件发射光线或者不发射光线)，并且各个子帧周期进行加权(即，每个子帧周期具有不同的显示周期)。通过选择子帧周期(即通过选择像素发射光线的子帧周期的组合)而控制累计的发光周期，由此实现每个像素内的灰度级显示。根据区域灰度级方法，通过控制显示装置的每个像素中发光的区域而实现灰度级显示。特别地，每个像素被划分成多个子像素，且发射光线的子像素的数目被改变，由此可以实现每个像素中的灰度级显示。当使用诸如EL元件的发光元件时，通常将电流提供到该EL元件，在EL元件发射光线的周期内电流流过该元件。因此，当该EL元件长时间发射光线时，其自身会退化，这引起其亮度特性的变化。也就是说，即使由相同的电流源以相同的电压提供电流，已经退化的EL元件和未退化的EL元件具有不同的亮度。因此，一些使用诸如EL元件的发光元件的显示装置包括视频数据校正电路，其目的是在即使特定像素中的EL元件退化时仍保持屏幕均匀性并同时防止亮度变化。该视频数据校正电路通过周期性地对视频数据信号采样而检测每个像素的发光时间或者发光时间和发光强度，并将检测到的累计值和预先存储的数据就EL元件的亮度特性随时间变化进行对比。其结果为，可校正用于驱动包括已退化EL元件的像素的视频数据信号。对于该显示装置，例如存在具有退化校正功能的自发光显示装置，其在专利文件1中被公开。图10为退化校正装置的方框图。图10中所示的退化校正装置由计数器部分I、存储电路部分II、和信号校正部分III组成。计数器部分1包括计数器1002，存储电路部分II包括易失性存储器1003和非易失性存储器1004，信号校正部分III包括校正电路1005和校正数据存储部分1006。在该退化校正装置中，由信号校正部分III校正用于驱动包括已退化EL元件的像素的视频数据(其包括在第一视频信号1001A中，该第一视频信号1001A为被校正之前的视频数据信号)，并将该视频数据当作已校正视频数据信号的第二视频信号1001B提供给显示装置1007。在该退化校正装置中，第一视频信号1001A被周期性(例如每秒一次)采样，并由取决于被采样信号的计数器1002计数每个像素的光发射或无光发射。每个像素中发光次数的计数，即累计发光时间(下文中称为累计时间数据)被依次存储于存储电路部分II中。理想地通过使用非易失性存储器配置该存储电路，这是因为发光次数的数目被累计。然而，往非易失性存储器写数据次数的数目通常是有限的；因此在图10所示的装置中，数据在自发光器件的工作期间被存储在易失性存储器1003中，并周期性地(例如每个小时或者当电源关闭时)被写入到非易失性存储器1004中。也就是说，EL元件的发光时间或者发光时间和发光强度在下一次电源开启时被连续计数。日本专利公开No.2002-175041
技术实现思路
然而，根据具有前述配置的传统视频数据校正电路，该电路所包括的易失性存储器和非易失性存储器都具有大的容量，使得连接引脚的数目增加。此外，该电路占据的面积随位(bit)数目的增加而增加，这阻碍了产品的微型化及其制作成本的降低。另外，随着具有大容量的RAM的数目增加，难以实现低功耗。为了解决传统技术的这些问题而提出本专利技术，本专利技术提供一种视频数据校正电路，该校正电路无需大容量的存储器且在其配置中包含在电路内的存储器数目更少。本专利技术还提供包括该视频数据校正电路及其驱动方法的显示装置和电子设备。鉴于上述方面，视频数据校正电路内每个像素的累计使用数据(关于发光时间或者发光时间与发光强度的累计数据)被划分成多个数据部分，且每个数据部分被存储在不同的存储工具中，由此无需使用具有大容量的存储元件。更为特别地，本专利技术的视频数据校正电路包括检测工具，通过对提供到具有使用发光元件的像素的显示装置的视频数据进行采样而检测每个像素的使用数据；累计数据存储工具，包括每个像素的多个存储工具和存储累计使用数据；加法工具，用于将检测工具检测到的每个像素的使用数据加到累计数据存储工具内存储的每个像素的累计使用数据，从而将加法结果作为新的累计使用数据写到累计数据存储工具中；以及校正工具，用于通过根据累计数据存储工具内存储的累计使用数据校正该视频数据而产生已校正的视频数据。累计使用数据被划分成多个数据部分，每个部分被存储在从多个存储工具中选择的不同存储工具中。根据显示装置的上述视频数据校正电路，每个像素的累计使用数据的每个数据部分被存储在不同的存储工具内。因此，组成每个存储工具的存储元件的容量可以被降低；所以，由于连接引脚数目的减小，可以实现电路制作成本的降低。每个像素的累计使用数据可以是基于每个像素的发光时间或者每个像素的发光时间和发光强度的累计使用数据。为了获得每个像素的已校正视频数据，校正工具可以具有用于将视频数据乘以从根据累计使用数据的多个退化系数中选择的退化系数的乘法工具。该校正工具还具有用于校正选择相应退化系数和输入视频数据之间的时间滞后的延迟电路，该延迟电路被连接到乘法工具的视频数据输入端。多个数据部分可以为第一数据部分和第二数据部分，且该多个存储工具可以为第一存储工具和第二存储工具。第一数据部分可存储在第一存储工具内，而第二数据部分可存储在第二存储工具内。如果多个数据部分为第一数据部分和第二数据部分，累计数据存储工具的第一存储工具可以为第一易失性存储工具，而第二存储工具可以为第二易失性存储工具。这种情况下，累计数据存储工具可进一步包括具有备用区域的非易失性存储工具，当电源关闭时该备用区域用于存储第一易失性存储工具和第二易本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示装置，包括：检测工具，通过对提供到具有使用发光元件的像素的显示装置的视频数据进行采样而检测每个像素的使用数据；第一存储部分，用于存储每个像素的累计使用数据；第二存储部分，用于存储每个像素的累计使用数据；　 　加法工具，用于将由所述检测工具检测到的每个像素的使用数据加到第一存储部分和第二存储部分中至少一个所存储的每个像素的累计使用数据，从而将加法结果作为新的累计使用数据写到第一存储部分和第二存储部分中的至少一个；和已校正视频数据的产生工 具，基于第一存储部分和第二存储部分中至少一个所存储的累计使用数据而校正视频数据，其中累计使用数据划分成第一数据部分和第二数据部分，并且第一数据部分存储于第一存储部分中，而第二数据部分存储于第二存储部分中。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：尾崎匡史，
申请(专利权)人：株式会社半导体能源研究所，
类型：发明
国别省市：JP[日本]