【技术实现步骤摘要】
半导体器件以及用于制造半导体器件的方法
[0001]本公开涉及半导体器件以及用于制造半导体器件的方法。
技术介绍
[0002]尽管电压随着半导体元件的小型化而降低,但是存在内部提供升压电路或电源电压本身为约12V的情况,该情况的一示例是车辆应用。为了应对这样的应用,通常进行:将高电压晶体管与低电压晶体管一起形成在同一半导体元件内。在同一半导体元件内形成低电压晶体管和高电压晶体管的过程中,存在栅电极的高度被不均匀地形成的问题。
技术实现思路
[0003]本公开的各种实施方式提供一种半导体器件以及用于制造半导体器件的方法,其能够使形成在同一基板上的低电压晶体管、中间电压晶体管和高电压晶体管具有拥有相同厚度的各自的栅电极和拥有不同厚度的各自的栅极绝缘层,从而形成在基板上的相同水平处。
[0004]根据一实施方式,提供一种半导体器件,该半导体器件可以包括:基板,在其上限定第一区域和第二区域;在第一区域中的第一有源区;从第一有源区突出的有源图案;在第二区域中的第二有源区;在有源图案上的第一栅电极;在第二有源区上的第二栅电极;在有源图案和第一栅电极之间的第一栅极绝缘层,第一栅极绝缘层包括第一
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第一绝缘层;以及在第二有源区和第二栅电极之间的第二栅极绝缘层,第二栅极绝缘层包括第二
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第一绝缘层和在第二
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第一绝缘层下面的第二
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第二绝缘层,其中在垂直方向上与有源图案重叠的第一栅电极在垂直方向上的厚度等于在垂直方向上与第二有源区重叠的第二 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体器件,包括:基板,在其上限定第一区域和第二区域;在所述第一区域中的第一有源区;在所述第一有源区上的有源图案;在所述第二区域中的第二有源区;在所述有源图案上的第一栅电极;在所述第二有源区上的第二栅电极;在所述有源图案和所述第一栅电极之间的第一栅极绝缘层,所述第一栅极绝缘层包括第一
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第一绝缘层;以及在所述第二有源区和所述第二栅电极之间的第二栅极绝缘层,所述第二栅极绝缘层包括第二
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第一绝缘层和在所述第二
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第一绝缘层下面的第二
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第二绝缘层,其中在垂直方向上与所述有源图案重叠的所述第一栅电极在所述垂直方向上的厚度等于在所述垂直方向上与所述第二有源区重叠的所述第二栅电极在所述垂直方向上的厚度,所述垂直方向是与所述基板的上表面垂直的方向,以及其中所述第一栅电极的上表面形成在与所述第二栅电极的上表面相同的水平处。2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述第二有源区的上表面在所述第一有源区的上表面和所述有源图案的上表面之间的水平处。3.根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述第一
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第一绝缘层在所述第一栅电极的侧壁和底表面上。4.根据权利要求3所述的半导体器件,其中所述第二
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第一绝缘层在所述第二栅电极的侧壁和底表面上。5.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:第一栅极间隔物,在所述第一栅电极的两个侧壁上;和第二栅极间隔物,在所述第二栅电极的两个侧壁上,其中所述第一
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第一栅极绝缘层在所述第一栅极间隔物之间,所述第二
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第一栅极绝缘层在所述第二栅极间隔物之间。6.根据权利要求5所述的半导体器件,其中所述第一栅电极的所述侧壁与所述第一栅极间隔物接触,以及其中所述第二栅电极的所述侧壁与所述第二栅极间隔物接触。7.根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:限定在所述基板上的第三区域;在所述第三区域中的第三有源区;在所述第三有源区上的第三栅电极;以及在所述第三有源区和所述第三栅电极之间的第三栅极绝缘层,所述第三栅极绝缘层包括第三
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第一绝缘层、在所述第三
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第一绝缘层下面的第三
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第二绝缘层以及在所述第三
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第二绝缘层下面的第三
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第三绝缘层。8.根据权利要求7所述的半导体器件,其中在所述垂直方向上与所述第三有源区重叠的所述第三栅电极在所述垂直方向上的厚度等于在所述垂直方向上与所述有源图案重叠的所述第一栅电极在所述垂直方向上的所述厚度。
9.根据权利要求7所述的半导体器件,其中所述第三栅电极的上表面形成在与所述第一栅电极的所述上表面相同的水平处。10.一种半导体器件,包括:基板,在其上限定第一区域、第二区域和第三区域;在所述第一区域中的第一有源区;在所述第一有源区上的有源图案;在所述第二区域中的第二有源区;在所述第三区域中的第三有源区;在所述有源图案上的第一栅电极;在所述第二有源区上的第二栅电极;在所述第三有源区上的第三栅电极;在所述有源图案和所述第一栅电极之间的第一栅极绝缘层,所述第一栅极绝缘层包括第一
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第一绝缘层;在所述第二有源区和所述第二栅电极之间的第二栅极绝缘层,所述第二栅极绝缘层包括第二
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第一绝缘层和在所述第二
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第一绝缘层下面的第二
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第二绝缘层;以及在所述第三有源区和所述第三栅电极之间的第三栅极绝缘层,所述第三栅极绝缘层包括第三
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第一绝缘层、在所述第三
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第一绝缘层下面的第三
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第二绝缘层以及在所述第三
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第二绝缘层下面的第三
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第三绝缘层,其中在垂直方向上与所述有源图案重叠的所述第一栅电极在所述垂直方向上的厚度、在所述垂直方向上与所述第二有源区重叠的所述第二栅电极在所述垂直方向上的厚度以及在所述垂直方向上与所述第三有源区重叠的所述第三栅电极在所述垂直方向上的厚度彼此相等,所述垂直方向是与...
【专利技术属性】
技术研发人员:金荣睦,姜炅龙,姜俊求,郑用相,
申请(专利权)人:三星电子株式会社,
类型:发明
国别省市:
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