【技术实现步骤摘要】
角度计算方法、装置、存储介质及电子设备
[0001]本申请涉及计算机领域，尤其涉及一种角度计算方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
[0002]电机的应用已经渗透到日常生活的方方面面当中，上至航天事业，下至玩具零件，电机都扮演着重要的角色。为了保障电机的正常运行，对电机进行检测是一项必不可少的工作。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供了一种角度计算方法、装置、存储介质及电子设备，通过码盘与光电开关的检测，实现提高转速检测准确性的效果。本技术方案如下：
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种角度计算方法，其特征在于，所述方法包括：
[0005]获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间；
[0006]基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准；
[0007]基于校准后的码盘，获取在采样温度下采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度下采样转速下所述码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，N大于等于0且小于等于n，n为所述码盘的最后一号齿，其中，N号齿为当前采样时刻所对应的齿数；
[0008]基于所述采样温度下采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度、所述目标高电平时间、所述目标低电平时间以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值。
[0009]第二方面，本申请实施例提供了一种角度计算装置，其特征在于，所述装置包括：>[0010]时间获取模块，用于获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间；
[0011]码盘校准模块，用于基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准；
[0012]角度获取模块，用于基于校准后的码盘，获取在采样温度下采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度下采样转速下所述码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，N大于等于0且小于等于n，n为所述码盘的最后一号齿，其中，N号齿为当前采样时刻所对应的齿数；
[0013]角度确定模块，用于基于所述采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度、所述目标高电平时间、所述目标低电平时间以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值。
[0014]第三方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储
有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。
[0015]第四方面，本申请实施例提供了一种电子设备，可包括：处理器和存储器；其中，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。
[0016]本申请实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
[0017]通过获取不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间对码盘进行校准，并在码盘校准后再通过获取采样温度下各个齿的高电平时间以及低电平时间计算对应的转速和角度，得到码盘的实际转动角度值，实现提高转速检测准确性的效果。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1是本申请实施例提供的一种角度计算方法的系统架构图；
[0020]图2是本申请实施例提供的一种角度计算方法的流程示意图；
[0021]图3是本申请实施例提供的一种码盘与光电开关位置关系的举例示意图；
[0022]图4是本申请实施例提供的一种整形电路的电路示意图；
[0023]图5是本申请实施例提供的一种波形处理前后的举例示意图；
[0024]图6是本申请实施例提供的一种信息校准前后的举例示意图；
[0025]图7是本申请实施例提供的一种确定0号齿的举例示意图；
[0026]图8是本申请实施例提供的一种角度计算方法的流程示意图；
[0027]图9是本申请实施例提供的一种线性插值方法的举例示意图；
[0028]图10是本申请实施例提供的一种角度计算装置的结构示意图；
[0029]图11是本申请实施例提供的一种角度计算装置的结构示意图；
[0030]图12是本申请实施例提供的一种码盘校准模块的结构示意图；
[0031]图13是本申请实施例提供的一种角度确定模块的结构示意图；
[0032]图14是本申请实施例提供的一种角度计算装置的结构示意图；
[0033]图15是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0034]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步详细描述。
[0035]下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中描述的实施方式并不代表与本申请一致的所有实施方式。相反，它们仅是如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0036]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不
能理解为指示或暗示相对重要性。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0037]现有的对电机的包括转速以及角度的检测的方案主要包括三种：光电式编码器、旋转变压器以及霍尔传感器。其中光电式传感器成本昂贵，并且需要精确的刻度来检测位置，同时若收到脏物的污染会造成检测结果错误，还容易受强振动和强腐蚀环境的影响，不适用于恶劣的施工环境；旋转变压器成本同样较高，并且需要复杂的硬件和软件进行位置和转速的解码；而霍尔传感器则存在易损坏且精度不高的问题。
[0038]基于此，本申请实施例提供了一种角度计算方法，可以将码盘安装在电机中，并将码盘中的齿放置在光电开关中，基于获取不同预设温度不同预设转速下码盘中的各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间并对码盘进行校准，再获取采样温度下的N号齿对应的目标高电平时间以及目标低电平时间，并基于采样温度、目标高电平时间与目标高电平时间查找对应的目标转速以及0号齿到N
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1号齿对应的角度，通过目标转速计算得到N号齿上升沿跳变后的实际采样时间对应的角度值，结合0号齿到N
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1号齿对应的角度得本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种角度计算方法，其特征在于，所述方法包括：获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间；基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准；基于校准后的码盘，获取在采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度和采样转速下所述码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，N大于等于0且小于等于n，n为所述码盘的最后一号齿，其中，N号齿为当前采样时刻所对应的齿数；基于所述采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N
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1号齿对应的角度、所述目标高电平时间、所述目标低电平时间以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于校准后的码盘，获取在采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度之前，所述方法还包括：判断采样温度和采样转速与预设温度和预设转速是否相同；若采样温度和采样转速与预设温度和预设转速不相同时，采用插值法获取采样温度和采样转速下所述码盘0号齿到N号齿对应的角度。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准，包括：获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平理论时间以及低电平理论时间；若在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的实际高电平时间与对应的高电平理论时间在误差范围内，且在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的实际低电平时间与对应的低电平理论时间在误差范围内，则确定所述码盘校准成功。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述在采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N
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1号齿对应的角度、所述目标高电平时间、所述目标低电平时间以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值，包括：在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿对应的角度中查找所述采样温度以及采样转速下0号齿到N
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1号齿对应的角度；基于所述第N号齿对应的目标高电平时间、目标低电平时间以及所述N号齿对应的角度，得到所述N号齿对应的目标转速；基于所述采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N
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1号齿对应的角度、N号齿对应的目标转速以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动...
【专利技术属性】
技术研发人员：马荣桐，
申请(专利权)人：深圳市速腾聚创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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