角度计算方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请公开了一种角度计算方法、装置、存储介质及电子设备，其中方法包括：获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间与低电平时间，基于各高电平时间与各低电平时间对码盘进行校准，基于校准后的码盘，获取在采样温度和采样转速下码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度和采样转速下码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，基于采样温度和采样转速下码盘中0号齿到N

【技术实现步骤摘要】
角度计算方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本申请涉及计算机领域，尤其涉及一种角度计算方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]电机的应用已经渗透到日常生活的方方面面当中，上至航天事业，下至玩具零件，电机都扮演着重要的角色。为了保障电机的正常运行，对电机进行检测是一项必不可少的工作。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种角度计算方法、装置、存储介质及电子设备，通过码盘与光电开关的检测，实现提高转速检测准确性的效果。本技术方案如下：
[0004]第一方面，本申请实施例提供了一种角度计算方法，其特征在于，所述方法包括：
[0005]获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间；
[0006]基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准；
[0007]基于校准后的码盘，获取在采样温度下采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度下采样转速下所述码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，N大本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种角度计算方法，其特征在于，所述方法包括：获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平时间以及低电平时间；基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准；基于校准后的码盘，获取在采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度，并获取在采样温度和采样转速下所述码盘中N号齿对应的目标高电平时间和目标低电平时间，N大于等于0且小于等于n，n为所述码盘的最后一号齿，其中，N号齿为当前采样时刻所对应的齿数；基于所述采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N
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1号齿对应的角度、所述目标高电平时间、所述目标低电平时间以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于校准后的码盘，获取在采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N号齿对应的角度之前，所述方法还包括：判断采样温度和采样转速与预设温度和预设转速是否相同；若采样温度和采样转速与预设温度和预设转速不相同时，采用插值法获取采样温度和采样转速下所述码盘0号齿到N号齿对应的角度。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述高电平时间以及各所述低电平时间对所述码盘进行校准，包括：获取在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的高电平理论时间以及低电平理论时间；若在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的实际高电平时间与对应的高电平理论时间在误差范围内，且在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿经过光电开关产生的实际低电平时间与对应的低电平理论时间在误差范围内，则确定所述码盘校准成功。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述在采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N
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1号齿对应的角度、所述目标高电平时间、所述目标低电平时间以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动角度值，包括：在不同预设温度不同预设转速下码盘中各个齿对应的角度中查找所述采样温度以及采样转速下0号齿到N
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1号齿对应的角度；基于所述第N号齿对应的目标高电平时间、目标低电平时间以及所述N号齿对应的角度，得到所述N号齿对应的目标转速；基于所述采样温度和采样转速下所述码盘中0号齿到N
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1号齿对应的角度、N号齿对应的目标转速以及N号齿上升沿跳变后的实际采样时间确定所述码盘的实际转动...

【专利技术属性】
技术研发人员：马荣桐，
申请(专利权)人：深圳市速腾聚创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：