光学传感器制造技术

一种光学传感器，包括基板、盖体、光发射器、以及测量光电检测器。基板具有表面以及凹槽。盖体与基板连接并形成内部空间。盖体具有突起部、第一透光部以及第二透光部。突起部朝基板延伸，并具有底面，且将内部空间区分为连通的第一腔室与第二腔室。突起部的底面位于表面以及凹槽的底部之间。光发射器设置于基板的表面并位于第一腔室。测量光电检测器设置于凹槽并位于第二腔室。槽并位于第二腔室。槽并位于第二腔室。

【技术实现步骤摘要】
光学传感器


[0001]本专利技术有关于一种光学传感器，尤指一种用于飞时测距(Time of Flight,TOF)的光学传感器。

技术介绍

[0002]光学三维量测技术可以分为被动及主动量测两种方式，被动量测可为双目立体测量(stereo matching)，而主动量测可为飞时测距。飞时测距是一种三维主动式光学测距的技术。其测量原理是以仪器向待测物体主动发出光，并于接收由待测物体反射回来的反射光后，计算发射出光与接受到反射光后的相位差或时间差，并由相位差或时间差估算光源的全部运动时间，得到仪器与待测物体的距离或深度资讯。然而，使用飞行时间测距的光学传感器，必须注意到内部漏光的问题以提高距离量测的准确度。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，在本专利技术一实施例中，提供一种光学传感器，透过凹槽与光学遮蔽结构的设计，能够解决漏光的问题并简化组装程序，以提高组件的稳定性。
[0004]本专利技术一实施例揭露一种光学传感器以及光学传感器制造方法，光学传感器包括基板、盖体、光发射器、以及测量光电检测器。基板具有表面以及第一凹槽。盖体与基板连接并形成内部空间。盖体具有第一突起部、第一透光部以及第二透光部。第一突起部朝基板延伸，并具有底面，且将内部空间区分为连通的第一腔室与第二腔室。第一突起部的底面位于表面以及凹槽的底部之间。光发射器设置于基板的表面并位于第一腔室。测量光电检测器设置于凹槽并位于第二腔室。
[0005]根据本专利技术一实施例，上述第一透光部对应于上述光发射器，上述第二透光部对应于上述测量光电检测器。
[0006]根据本专利技术一实施例，上述第一突起部的上述第一底面距离上述第一凹槽的底部一第一间隔距离。
[0007]根据本专利技术一实施例，上述盖体包括一顶盖以及由上述顶盖周围朝上述基板延伸并与上述基板连接的侧壁，其中上述基板具有容置槽，用以接合上述侧壁，上述第一突起部从上述顶盖朝上述基板延伸。
[0008]根据本专利技术一实施例，上述基板还具有一第二凹槽，上述第二凹槽位于上述第一腔室，上述第一凹槽与上述第二凹槽之间具有一间隔墙。
[0009]根据本专利技术一实施例，上述光学传感器还包括一参考光电检测器，设置于上述第二凹槽。
[0010]根据本专利技术一实施例，上述盖体还包括一第二突起部，其中上述第二突起部从上述顶盖朝上述基板延伸，并具有一第二底面，上述第二底面位于上述表面以及上述第二凹槽的底部之间，且上述间隔墙位于上述第一突起部以及第二突起部之间。
[0011]根据本专利技术一实施例，上述光发射器根据一控制信号发出一检测光束，上述检测
光束通过上述第一透光部，经一待测目标反射后，通过上述第二透光部传送至上述测量光电检测器。
[0012]根据本专利技术一实施例，上述光学传感器还包括一控制电路，用以提供上述控制信号，上述参考光电检测器根据上述检测光束产生一参考信号，上述测量光电检测器根据上述检测光束产生一测量信号，上述控制电路根据上述参考信号以及上述测量信号取得一飞行时间。
[0013]根据本专利技术一实施例，上述光学传感器还包括一第一光滤波片以及一第二光滤波片，分别设置于上述第一透光部以及上述第二透光部。
[0014]根据本专利技术实施例所提供的光学传感器，透过将测量光电检测器以及参考光电检测器设置于第一凹槽以及第二凹槽中，可以减小光学传感器的体积，而第一凹槽以及第二凹槽之间的间隔墙伸入两突起部之间，可以避免位于第一腔室的光发射器所发出检测光束经由连通区域进入第二腔室而造成测量光电检测器的误判。再者，间隔墙未与两突起部实体接触，免除了间隔墙与突起部连接的制程，不仅简化了制程，还节省了粘着层的成本，甚至避免了传统因挤压间隔墙与突起部之间的粘着层而造成溢胶的问题，提高了产品的良率以及产量。
附图说明
[0015]图1显示根据本专利技术一实施例所述的光学传感器的示意图。
[0016]图2显示根据本专利技术一实施例所述的基板的侧视剖面图。
[0017]图3A
‑
图3F显示根据本专利技术一实施例所述的光学传感器的制造方法的剖面示意图。
[0018]主要元件符号说明
[0019]10:光学传感器
[0020]12:基板
[0021]121A、121B:容置槽
[0022]13:表面
[0023]14:盖体
[0024]15A:第一凹槽
[0025]15B:第二凹槽
[0026]16:光发射器
[0027]17:测量光电检测器
[0028]18:参考光电检测器
[0029]19:间隔墙
[0030]20A、20B:突起部
[0031]22A:第一透光部
[0032]22B:第二透光部
[0033]24A:第一光滤波片
[0034]24B:第二光滤波片
[0035]26A:顶盖
[0036]26B:侧壁
[0037]28A:第一腔室
[0038]28B:第二腔室
[0039]28C:连通区域
[0040]29:黏着层
[0041]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。
具体实施方式
[0042]为了便于本领域普通技术人员理解和实施本专利技术，下面结合附图与实施例对本专利技术进一步的详细描述，应当理解，本专利技术提供许多可供应用的专利技术概念，其可以多种特定型式实施。本领域技术人员可利用这些实施例或其他实施例所描述的细节及其他可以利用的结构，逻辑和电性变化，在没有离开本专利技术的精神与范围之下以实施专利技术。
[0043]本专利技术说明书提供不同的实施例来说明本专利技术不同实施方式的技术特征。其中，实施例中的各组件的配置为说明之用，并非用以限制本专利技术。且实施例中图式标号的部分重复，系为了简化说明，并非意指不同实施例之间的关联性。其中，图示和说明书中使用的相同的组件编号系表示相同或类似的组件。本说明书的图示为简化的形式且并未以精确比例绘制。为清楚和方便说明起见，方向性用语(例如顶、底、上、下以及对角)系针对伴随的图示说明。而以下说明所使用的方向性用语在没有明确使用在以下所附的申请专利范围时，并非用来限制本专利技术的范围。
[0044]再者，在说明本专利技术一些实施例中，说明书以特定步骤顺序说明本专利技术的方法以及(或)程序。然而，由于方法以及程序并未必然根据所述的特定步骤顺序实施，因此并未受限于所述的特定步骤顺序。熟习此项技艺者可知其他顺序也为可能的实施方式。因此，于说明书所述的特定步骤顺序并未用来限定申请专利范围。再者，本专利技术针对方法以及(或)程序的申请专利范围并未受限于其撰写的执行步骤顺序，且熟习此项技艺者可了解调整执行步骤顺序并未跳脱本专利技术的精神以及范围。
[0045]图1显示根据本专利技术一实施例所述的光学传感器的示意图。为了方便说明，
[0046]图1显示光学传感器的侧视剖面图。如图1所示，光学传感器10包括基板12、盖体14、光发射器16、测量光电检测器17以及本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学传感器，其特征在于，包括:一基板，具有一表面以及一第一凹槽；一盖体，与上述基板连接并与上述基板形成内部空间，上述盖体具有一第一突起部、一第一透光部以及一第二透光部，其中上述第一突起部朝上述基板延伸，上述第一突起部具有一第一底面，且将上述内部空间区分为连通的第一腔室与第二腔室，其中上述第一底面位于上述表面以及上述第一凹槽的底部之间；一光发射器，设置于上述表面并位于上述第一腔室；以及一测量光电检测器，设置于上述第一凹槽并位于上述第二腔室。2.如权利要求1所述的光学传感器，其特征在于，上述第一透光部对应于上述光发射器，上述第二透光部对应于上述测量光电检测器。3.如权利要求1所述的光学传感器，其特征在于，上述第一突起部的上述第一底面距离上述第一凹槽的底部一第一间隔距离。4.如权利要求1所述的光学传感器，其特征在于，上述盖体包括一顶盖以及由上述顶盖周围朝上述基板延伸并与上述基板连接的侧壁，其中上述基板具有容置槽，用以接合上述侧壁，上述第一突起部从上述顶盖朝上述基板延伸。5.如权利要求4所述的光学传感器，其特征在于，上述基板还具有一第二凹槽，上述第二凹...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖顺兴，
申请(专利权)人：讯芯电子科技中山有限公司，
类型：发明
国别省市：