一种扁头测试探针制造技术

本申请涉及测试领域，更具体地说，它涉及一种扁头测试探针，包括贯通的针管、与所述针管一端限位抵接的测试针头以及套设于所述针管另一端并用于与测试线进行焊接的连接件，所述测试针头与所述连接件均可滑动于所述针管内，且在所述测试针头与所述连接件之间放置有弹性件；所述测试针头一端扁头形状设计且所述测试针头端面设置有多个结构相同、尺寸相同的倒三角的探针头，且多个所述探针头之间形成有V型槽。本申请具有能适应结构复杂的检测产品及结构简单的优点。及结构简单的优点。及结构简单的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种扁头测试探针


[0001]本申请涉及测试领域，更具体地说，它涉及一种扁头测试探针。

技术介绍

[0002]测试探针是电测试的接触谋介，为高端紧密型电子五金元器件，属于是重要的电子部件，是电子元器件连接导电的载体。测试探针广泛用于测试PCBA的一种数据传送，导电接触，通过探针导电传输功能体的数据判断产品是否正常接触以及运作数据正常；
[0003]常见测试探针的测试针头部分为球形结构，在碰到类似螺纹体这类测试点在螺纹底部结构特殊复杂的产品时，球形结构的测试针头无法与检测点进行接触并检测，从而造成不便。

技术实现思路

[0004]针对上述现有技术的不足，本申请的目的是提供一种扁头测试探针，具有能适应结构复杂的检测产品及结构简单的优点。
[0005]本申请的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种扁头测试探针，包括贯通的针管、与所述针管一端限位抵接的测试针头以及套设于所述针管另一端并用于与测试线进行焊接的连接件，所述测试针头与所述连接件均可滑动于所述针管内，且在所述测试针头与所述连接件之间放置有弹性件；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种扁头测试探针，包括贯通的针管、与所述针管一端限位抵接的测试针头以及套设于所述针管另一端并用于与测试线进行焊接的连接件，所述测试针头与所述连接件均可滑动于所述针管内，且在所述测试针头与所述连接件之间放置有弹性件，其特征在于；所述测试针头一端扁头形状设计且所述测试针头端面设置有多个结构相同、尺寸相同的倒三角的探针头，且多个所述探针头之间形成有V型槽。2.根据权利要求1所述的一种扁头...

【专利技术属性】
技术研发人员：涂炳超，
申请(专利权)人：东莞市台易电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：