一种ATE标准与质检一站式测试系统及方法和存储介质技术方案

本发明专利技术公开了一种ATE标准与质检一站式测试系统及方法和存储介质，包括测试程序开发环境单元、量产环境单元，所述测试程序开发环境单元用于完成标准测试程序和质检测试程序的开发、调试及编译；并通过不同的环境变量来区分标准测试程序和质检测试程序中使用不同的电平、时序或流程参数；所述量产环境单元用于调用在测试程序开发环境单元调试完成并编译完成的标准测试程序和质检测试程序；通过调用底层测试执行模块控制ATE硬件执行标准测试程序和质检测试程序测试，本发明专利技术可以使同一芯片在同一测试站完成标准测试和质量抽检，从而提高了测试效率，降低了测试成本。降低了测试成本。降低了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种ATE标准与质检一站式测试系统及方法和存储介质


[0001]本专利技术涉及一种ATE标准与质检一站式测试系统及方法和存储介质，属于集成电路自动测试


技术介绍

[0002]使用集成电路大规模自动化测试的ATE（Automatic Testing Equipment）对芯片进行性能、功能和可靠性的量产测试是在芯片制造流程中保证芯片质量的重要环节，也是筛选出失效或低可靠性芯片减少终端产品失效率的重要手段。为了尽可能避免有质量隐患或缺陷的芯片流入终端市场，ATE 测试往往通过多道测试来保证投放市场芯片的失效率小于200PPM。 一般商业级或工业级芯片的ATE测试流程包含晶圆测试（CP），封装后的成品测试（FT）和质检测试（QA）。且质检测试一般采用抽样测试方式。对于良率和工作寿命要求更高的车用级和军用级芯片会增加更多道的CP、FT和QA测试，不同道的CP、FT或QA的检测的侧重点也不同，同时会在两道测试中间加上烘烤、老化等工序。ATE测试中的测试工序越多意味着耗费在测试中的时间和材料也越多，也就会增加测试的成本从而增加整个芯片的成本，影响本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ATE标准与质检一站式测试系统，其特征在于：包括测试程序开发环境单元（1）、量产环境单元（4），其中：所述测试程序开发环境单元（1）用于完成标准测试程序（10）和质检测试程序（11）的开发、调试及编译；并通过不同的环境变量来区分标准测试程序（10）和质检测试程序（11）中使用不同的电平、时序或流程参数；所述量产环境单元（4）用于对量产过程中标准测试和质检测试分别进行设置；用于调用在测试程序开发环境单元（1）调试完成并编译完成的标准测试程序（10）和质检测试程序（11）；并设定标准测试程序（10）和质检测试程序（11）各自独立运行；通过调用底层测试执行模块（12）控制ATE硬件执行标准测试程序（10）和质检测试程序（11）测试，并监控测试过程参数和测试结果，根据预先设置的规则进行测试流程逻辑控制，改变测试流程。2.根据权利要求1所述ATE标准与质检一站式测试系统，其特征在于：所述量产环境单元（4）包括量产配置模块（8），所述量产配置模块（8）用于配置量产环境的规则和流程；量产环境的规则和流程配置包括使用测试程序设定、测试程序执行规则定义、测试批次的设置和复测设置。3.根据权利要求2所述ATE标准与质检一站式测试系统，其特征在于：所述量产配置模块（8）用于在量产测试过程中定义量产环境变量、接口驱动选择、执行逻辑规则。4.根据权利要求3所述ATE标准与质检一站式测试系统，其特征在于：所述量产环境单元（4）包括量产监控模块（9），所述量产监控模块（9）用于对量产配置模块（8）中设置的量产环境的规则和流程进行监控；并在需要执行逻辑判断时按量产配置模块（8）设置的量产环境的规则进行判断后改变执行流程；用于根据量产配置模块（8）中设置的量产环境的规则和流程与底层测试执行模块（12）进行交互，接收测试结果，发送执行逻辑。5.根据权利要求4所述ATE标准与质检一站式测试系统，其特征在于：所述量产监控模块（9）用于监控需要在执行过程中监控并实时做出计算或判断的规则；在正常标准测试过程中的芯片，判断是否满足质检抽样规则；满足质检抽样规则的芯片将立即进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾李琛，毛国梁，
申请(专利权)人：上海谐振半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：