下载一种ATE标准与质检一站式测试系统及方法和存储介质的技术资料

文档序号:36833366

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本发明公开了一种ATE标准与质检一站式测试系统及方法和存储介质,包括测试程序开发环境单元、量产环境单元,所述测试程序开发环境单元用于完成标准测试程序和质检测试程序的开发、调试及编译;并通过不同的环境变量来区分标准测试程序和质检测试程序中使用...
该专利属于上海谐振半导体科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海谐振半导体科技有限公司授权不得商用。

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