嵌入式存储器寿命测试制造技术

本文描述嵌入式存储器寿命测试。实例系统包含：存储器装置，其配置成存储用于执行测试以确定所述存储器装置的剩余寿命的指令；和控制器，其耦合到所述存储器装置。所述控制器可配置成响应于从主机接收到命令而从所述存储器装置接收用于执行所述测试的所述指令，及执行所述指令以执行所述测试以确定所述存储器装置的所述剩余寿命。装置的所述剩余寿命。装置的所述剩余寿命。

【技术实现步骤摘要】
嵌入式存储器寿命测试


[0001]本公开的实施例大体上涉及存储器系统和子系统，且更确切地说，涉及嵌入式存储器寿命测试。

技术介绍

[0002]存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器装置。存储器装置可为例如非易失性存储器装置和易失性存储器装置。一般来说，主机系统可利用存储器子系统将数据存储在存储器装置处且从存储器装置检索数据。
[0003]车辆越来越依赖于存储器子系统以向先前为机械式、独立式或不存在的组件提供存储。车辆可包含计算系统，其可为用于存储器子系统的主机。计算系统可运行提供组件功能性的应用程序。车辆可为有人驾驶的、无人驾驶(自主)的和/或部分自主的。存储器装置可很大程度上供车辆中的计算系统使用。

技术实现思路

[0004]根据本公开的一个实施例，提供一种系统100、400。所述系统100、400包括：存储器装置116、316，其配置成存储用于执行测试以确定所述存储器装置116、316的剩余寿命的指令；和控制器106、306，其耦合到所述存储器装置116、316。所述控制器106、306配置成响应于从主机102、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种系统(100、400)，其包括：存储器装置(116、316)，其配置成存储用于执行测试以确定所述存储器装置(116、316)的剩余寿命的指令；和控制器(106、306)，其耦合到所述存储器装置(116、316)，其中所述控制器(106、306)配置成响应于从主机(102、302)接收到命令而：从所述存储器装置(116、316)接收用于执行所述测试的所述指令；及执行所述指令以执行所述测试以确定所述存储器装置(116、316)的所述剩余寿命。2.根据权利要求1所述的系统，其中：所述控制器包含存储器(110)；且所述控制器配置成接收用于在所述存储器(110)中执行所述测试的所述指令。3.根据权利要求2所述的系统，其中所述控制器配置成将用于对所述存储器装置执行额外操作的指令存储在所述存储器中。4.根据权利要求3所述的系统，其中用于执行所述测试的所述指令集成在用于执行所述存储器中的所述额外操作的所述指令中。5.根据权利要求1所述的系统，其中所述命令包括单个命令。6.一种方法，其包括：由控制器(106、306)接收执行测试以确定存储器装置(116、316)的剩余寿命的单个命令；及由所述控制器(106、306)响应于接收到所述单个命令而执行所述测试以确定所述存储器装置(116、316)的所述剩余寿命。7.根据权利要求6所述的方法，其中确定所述存储器装置的所述剩余寿命包括确定所述存储器装置的故障点。8.根据权利要求6所述的方法，其中所述方法包含由所述控制器在执行所述测试以确定所述存储器装置的所述剩余寿命的同时对所述存储器装置执行额外操作。9.根据权利要求6所述的方法，其中所述方法包含：由所述控制器在执行所述测试以确定所述存储器装置的所...

【专利技术属性】
技术研发人员：D，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：