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本文描述嵌入式存储器寿命测试。实例系统包含：存储器装置，其配置成存储用于执行测试以确定所述存储器装置的剩余寿命的指令；和控制器，其耦合到所述存储器装置。所述控制器可配置成响应于从主机接收到命令而从所述存储器装置接收用于执行所述测试的所述指令...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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