本发明专利技术提供了一种基于几何位置的异常微滴判定方法、系统及电子设备，涉及微滴识别领域，首先确定芯片支撑柱图像以及待判定图像；其中，芯片支撑柱图像包括第一支撑柱区域；待判定图像包括多个待判定微滴；然后将芯片支撑柱图像与待判定图像进行图像匹配；再将第一支撑柱区域投影至待判定图像中，得到待判定图像对应的第二支撑柱区域；最后将与第二支撑柱区域的距离小于预设阈值的待判定微滴判定为异常微滴；该方法利用芯片支撑柱图像与待判定图像进行配准并标记出芯片支撑柱的位置，并将支撑柱周围的微滴判定为异常微滴，从而避免将支撑柱之外区域的游离微滴误判为异常微滴，解决了现有技术中由于游离微滴误判导致的微滴识别精度较差的问题。别精度较差的问题。别精度较差的问题。
【技术实现步骤摘要】
基于几何位置的异常微滴判定方法、系统及电子设备
[0001]本专利技术涉及微滴识别领域，尤其是涉及一种基于几何位置的异常微滴判定方法、系统及电子设备。
技术介绍
[0002]数字PCR(Polymerase Chain Reaction，PCR)是一种核酸分子绝对定量技术，主要采用微流控或微滴化方法将大量稀释后的核酸溶液分散至芯片的微反应腔室或微滴中，每个微反应腔室或微滴的核酸模板数不多于1个。经过PCR循环后有一个核酸分子模板的微反应腔室或微滴就会发出荧光信号，没有核酸分子模板的微反应腔室或微滴则不发出荧光信号。因此，如何快速准确地识别荧光图像中的阳性点微滴对于保证检测的准确性非常重要。
[0003]现有技术在对微滴的有效性进行判定时，将由于芯片支撑柱区域内通常不包含微滴，因此在实际场景中通常将较大范围内没有微滴的区域标记为支撑柱区域，并将该区域周围的微滴判定为异常微滴。但这种方式也会将芯片中的游离微滴误判为异常微滴，导致有效微滴的数量减少，影响微滴的识别精度。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种基于几何位置的异常微滴判定方法、系统及电子设备，通过利用芯片支撑柱图像与待判定图像进行配准，并在待判定图像中标记出芯片支撑柱的位置，然后将支撑柱周围的微滴判定为异常微滴，从而避免将支撑柱之外区域的游离微滴误判为异常微滴，解决了现有技术中存在的由于游离微滴误判导致的微滴识别精度较差的问题。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种基于几何位置的异常微滴判定方法，该方法包括：
[0006]确定芯片支撑柱图像以及待判定图像；其中，芯片支撑柱图像包括第一支撑柱区域；待判定图像包括多个待判定微滴；
[0007]将芯片支撑柱图像与待判定图像进行图像匹配；
[0008]将芯片支撑柱图像中的第一支撑柱区域投影至待判定图像中，得到待判定图像对应的第二支撑柱区域；
[0009]将与第二支撑柱区域的距离小于预设阈值的待判定微滴判定为异常微滴。
[0010]在一些实施方式中，将芯片支撑柱图像与待判定图像进行图像匹配，包括：
[0011]获取芯片支撑柱图像中第一支撑柱区域包含的第一支撑柱；
[0012]从待判定图像中确定与第一支撑柱对应的第二支撑柱；
[0013]利用第一支撑柱和第二支撑柱的尺寸数据确定缩放因子；
[0014]基于缩放因子将芯片支撑柱图像与待判定图像进行图像尺寸匹配。
[0015]在一些实施方式中，将芯片支撑柱图像与待判定图像进行图像匹配的步骤，包括：
[0016]获取芯片支撑柱图像中第一支撑柱区域包含的第一支撑柱；
[0017]从待判定图像中确定与第一支撑柱对应的第二支撑柱；
[0018]利用第一支撑柱和第二支撑柱的位置数据确定角度变换因子；
[0019]基于角度变换因子将芯片支撑柱图像与待判定图像进行图像角度匹配。
[0020]在一些实施方式中，利用第一支撑柱和第二支撑柱的位置数据确定角度变换因子的步骤，包括：
[0021]根据第一支撑柱和第二支撑柱的位置数据，判断第一支撑柱和第二支撑柱是否处于同一平面；
[0022]如果否，则确定第一支撑柱与第二支撑柱之间的旋转变换因子和第一平移变换因子；其中，旋转变换因子用于将芯片支撑柱图像与待判定图像旋转至同一平面；第一平移变换因子用于将芯片支撑柱图像与待判定图像平移至同一位置；
[0023]将旋转变换因子和第一平移变换因子确定为角度变换因子。
[0024]在一些实施方式中，利用第一支撑柱和第二支撑柱的位置数据确定角度变换因子的步骤，包括：
[0025]根据第一支撑柱和第二支撑柱的位置数据，判断第一支撑柱和第二支撑柱是否处于同一平面；
[0026]如果是，则确定第一支撑柱与第二支撑柱之间的第二平移变换因子；其中，第二平移变换因子用于将芯片支撑柱图像与待判定图像平移至同一位置；
[0027]将第二平移变换因子确定为角度变换因子。
[0028]在一些实施方式中，将芯片支撑柱图像中的第一支撑柱区域投影至待判定图像中，得到待判定图像对应的第二支撑柱区域的步骤，包括：
[0029]将芯片支撑柱图像与待判定图像进行叠加，并按照预设步长将芯片支撑柱图像在待判定图像上进行平移变换；
[0030]遍历所有的平移变换，并计算所有平移变换中第一支撑柱区域与待判定图像对应的叠加区域的像素值之和；
[0031]选取像素值之和最小的平移变换，并按照平移变换将第一支撑柱区域投影至待判定图像中得到第二支撑柱区域。
[0032]在一些实施方式中，将支撑柱图像与待判定图像进行叠加之前，方法还包括：
[0033]将芯片支撑柱图像进行二值化处理；
[0034]判断芯片支撑柱图像中第一支撑柱区域的像素值是否为0；
[0035]如果否，则将芯片支撑柱图像进行取反处理。
[0036]第二方面，本专利技术实施例提供了一种基于几何位置的异常微滴判定系统，该系统包括：
[0037]初始化模块，用于确定芯片支撑柱图像以及待判定图像；其中，芯片支撑柱图像包括第一支撑柱区域；待判定图像包括多个待判定微滴；
[0038]图像匹配模块，用于将芯片支撑柱图像与待判定图像进行图像匹配；
[0039]图像投影模块，用于将芯片支撑柱图像中的第一支撑柱区域投影至待判定图像中，得到待判定图像对应的第二支撑柱区域；
[0040]判定执行模块，用于将与第二支撑柱区域的距离小于预设阈值的待判定微滴判定为异常微滴。
[0041]第三方面，本专利技术实施例还提供一种电子设备，包括：处理器和存储器；存储器上存储有计算机程序，计算机程序在被处理器运行时实现上述第一方面中提到的基于几何位置的异常微滴判定方法的步骤。
[0042]第四方面，本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其中，计算机程序被处理器运行时实现上述第一方面中提到的基于几何位置的异常微滴判定方法的步骤。
[0043]本专利技术实施例带来了以下有益效果：
[0044]本专利技术提供了一种基于几何位置的异常微滴判定方法、系统及电子设备，在对异常微滴的判定的过程中，首先确定芯片支撑柱图像以及待判定图像；其中，芯片支撑柱图像包括第一支撑柱区域；待判定图像包括多个待判定微滴；然后将芯片支撑柱图像与待判定图像进行图像匹配；再将芯片支撑柱图像中的第一支撑柱区域投影至待判定图像中，得到待判定图像对应的第二支撑柱区域；最后将与第二支撑柱区域的距离小于预设阈值的待判定微滴判定为异常微滴。该方法通过利用芯片支撑柱图像与待判定图像进行配准，并在待判定图像中标记出芯片支撑柱的位置，然后将支撑柱周围的微滴判定为异常微滴，从而避免将支撑柱之外区域的游离微滴误判为异常微滴，解决了现有技术中存在的由于游离微滴误判导致的微滴识别精度较差的问题。
[0045]本专利技术的其他特征和优点将在随本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于几何位置的异常微滴判定方法，其特征在于，所述方法包括：确定芯片支撑柱图像以及待判定图像；其中，所述芯片支撑柱图像包括第一支撑柱区域；所述待判定图像包括多个待判定微滴；将所述芯片支撑柱图像与所述待判定图像进行图像匹配；将所述芯片支撑柱图像中的所述第一支撑柱区域投影至所述待判定图像中，得到所述待判定图像对应的第二支撑柱区域；将与所述第二支撑柱区域的距离小于预设阈值的所述待判定微滴判定为异常微滴。2.根据权利要求1所述的基于几何位置的异常微滴判定方法，其特征在于，将所述芯片支撑柱图像与所述待判定图像进行图像匹配，包括：获取所述芯片支撑柱图像中所述第一支撑柱区域包含的第一支撑柱；从所述待判定图像中确定与所述第一支撑柱对应的第二支撑柱；利用所述第一支撑柱和所述第二支撑柱的尺寸数据确定缩放因子；基于所述缩放因子将所述芯片支撑柱图像与所述待判定图像进行图像尺寸匹配。3.根据权利要求1所述的基于几何位置的异常微滴判定方法，其特征在于，将所述芯片支撑柱图像与所述待判定图像进行图像匹配的步骤，包括：获取所述芯片支撑柱图像中所述第一支撑柱区域包含的第一支撑柱；从所述待判定图像中确定与所述第一支撑柱对应的第二支撑柱；利用所述第一支撑柱和所述第二支撑柱的位置数据确定角度变换因子；基于所述角度变换因子将所述芯片支撑柱图像与所述待判定图像进行图像角度匹配。4.根据权利要求3所述的基于几何位置的异常微滴判定方法，其特征在于，利用所述第一支撑柱和所述第二支撑柱的位置数据确定角度变换因子的步骤，包括：根据所述第一支撑柱和所述第二支撑柱的位置数据，判断所述第一支撑柱和所述第二支撑柱是否处于同一平面；如果否，则确定所述第一支撑柱与所述第二支撑柱之间的旋转变换因子和第一平移变换因子；其中，所述旋转变换因子用于将所述芯片支撑柱图像与所述待判定图像旋转至同一平面；所述第一平移变换因子用于将所述芯片支撑柱图像与所述待判定图像平移至同一位置；将所述旋转变换因子和所述第一平移变换因子确定为所述角度变换因子。5.根据权利要求3所述的基于几何位置的异常微滴判定方法，其特征在于，利用所述第一支撑柱和所述第二支撑柱的位置数据确定角度变换因子的步骤，包括：根据所述第一支撑柱和所述第二支撑柱的位置数据，判断所述第一支撑柱和所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：石昌荣，赵云鹏，高琪，杨智，叶雷，贺贤汉，
申请(专利权)人：杭州博日科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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