【技术实现步骤摘要】
表贴式晶振测试装置
[0001]本专利技术属于晶振检测领域，具体涉及一种表贴式晶振测试装置。
技术介绍
[0002]社会及科技发展至今，尤其伴随大数据的兴起，各行各业都处于数据量高速增长的阶段。数据量的增长除对存储容量、计算速度提出更高要求外，高速的数据传输也是一项关键要求。高速数据传输不但要求数据的精确性，对传输数据的主要功能模块的开启与关断速度，芯片的唤醒速度都有很高的要求，同时又不能增加过多功耗，芯片保持低功耗设计。高速数据处理电路需要高速参考时钟，参考时钟的精度及起振速度直接影响芯片的唤醒速度及精度。
[0003]参考时钟可由石英晶体产生，石英晶体可等效高品质电感电容串并联谐振腔，石英晶体配合包含放大器的晶振电路可以构成稳定度很好的时钟生成电路，一般叫做晶体振荡器。石英晶体必须依靠包含放大器的晶振电路来驱动，但是晶振电路设计不合理可能会使得晶振起振速度慢，功耗大，或者具有相位噪声的问题，从而影响了芯片的唤醒速度，增加了芯片唤醒的功耗，降低了芯片处理数据的精度。
[0004]在目前广泛应用的带定时功能的...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.表贴式晶振测试装置，其特征在于：包括电源模块、整形模块和测试座；所述电源模块与整形模块电连接；所述整形模块包括第一整形模块和第二整形模块；所述测试座包括第一测试座、第二测试座、第三测试座和第四测试座；所述第一测试座和第二测试座与第一整形模块连接，所述第三测试座和第四测试座与第二整形模块连接。2.根据权利要求1所述的表...
【专利技术属性】
技术研发人员：景宏涛，尹楠，任旭东，颜晶，严燕，
申请(专利权)人：西安西测测试技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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