【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电子设备，具体涉及一种磁影响试验的测试装置和测试方法。
技术介绍
1、随着信息化时代的到来，电子设备和系统呈现日益复杂的趋势，而对于航空机载类型的电子设备，其电磁兼容特性尤为关键。其中，磁影响试验用于测试或验证允许安装的设备与罗盘或罗盘传感器的最近距离。具体方法为：通过改变被试设备和等效磁罗盘之间的距离，使dc偏转角达到规定值后得出距离d，再根据此距离对被试设备进行分类。目前，国内大多数检测机构进行磁影响试验都普遍存在下述问题：对于稍大一些的被试设备，仅通过移动试验台的方式靠近自由磁体来进行读数，无法完全考核被试品不同高度上产生的磁影响，影响试验的有效性。
2、为此本专利技术提出了一种磁影响试验的测试装置和测试方法。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种磁影响试验的测试装置和测试方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种磁影响试验的测试装置，包括底板，所述底板的四周分别贯穿设置有一个水平调整螺丝，所述底板上设置有升降机构，所述升降机构的顶部设置有磁力计支架组件；
3、所述磁力计支架组件包括基础板、上轨道、磁力计架、基础下导轨和磁力架下压板，所述基础板的顶部对称固定设置有一对上轨道，一对所述上轨道上通过磁力架下压板限位滑动安装有磁力计架，所述基础板的底部对称固定设置有一对基础下导轨；
4、所述升降机构包括驱动组件和叉式升降组件；所述驱动组件包括旋钮架、丝杠推块、升
5、所述叉式升降组件包括升降铰链、滚轮轴和滚轮；所述升降铰链设置有一对，且一对升降铰链的底端两头分别与一对方杆的两端转动连接，一对所述升降铰链顶端的两头分别转动设置有滚轮轴，且滚轮轴的端部固定设置有滚轮，所述滚轮延伸至对应的一侧的基础下导轨内限位滑动连接。
6、优选的，所述升降双螺纹杆的表面两端分布设置有互为相反方向的螺纹结构，所述旋钮架与升降双螺纹杆的连接处设置有轴承，所述升降旋钮与升降双螺纹杆通过联轴套固定连接。
7、优选的，所述升降铰链由四块铰链板组成两个叉型结构，每个叉型结构的两块铰链板中心位置通过限位轴销转动连接，且两个叉型结构之间也通过限位轴销转动连接。
8、优选的，所述叉式升降组件还包括下拉筋块、上拉筋块、辅助上铰链、辅助下铰链，所述下拉筋块和上拉筋块均设置有一对，且一对下拉筋块对称固定在底板上，一对所述上拉筋块对称固定安装在基础板的底部，所述下拉筋块与升降铰链的底端的其中一个铰链板通过辅助下铰链转动连接，所述上拉筋块与位于同一侧的升降铰链顶端其中的一个铰链板通过辅助上铰链转动连接。
9、优选的，位于同一侧的下拉筋块和上拉筋块相互对齐，且位于同一侧的下拉筋块和上拉筋块以及升降铰链呈中心对称分布。
10、优选的，所述驱动组件还包括下轨道水平块和方杆，所述方杆的两端设置有用于支撑方杆的下轨道水平块，所述下轨道水平块固定安装在底板上。
11、优选的，一对所述轨道上板通过螺钉固定在基础板上形成滑道，磁强计架下部与滑道接触的位置处设置有波浪纹。
12、一种磁影响试验的测试方法，采用所述的测试装置；通过磁强计测量被试品放置于被测区域前的场均匀性，在测试距离中磁强计偏转角度不超过±0.5°，之后通过磁强计测量地球产生的环境磁场水平分量b；
13、根据公式(1)计算出当前磁场强度值hcafs；
14、hcafs＝b*14.4a/m/18100nt (1)
15、判断计算出的hcafs值是否在14.4a/m±10％范围内，若在范围内，则得出等效偏转角dc＝1°；
16、若不在上述范围内，则根据公式(2)得到等效偏转角dc；
17、dc＝14.4a/m/hcafs (2)
18、s1：将被试品测试面放置紧贴于本专利技术的短边一端；
19、s2：将磁强计放置于磁力计架上；
20、s3：通过上轨道限制磁强计架，实现磁强计固定方向移动；
21、s4：通过下方升降旋钮调节下方的方杆挤压叉式升降组件使其升降，实现高度调节；并在测试过程中手动调节磁强计与被试品的距离时，通过升降旋钮实现精准调节，找到被试品最大磁影响位置；最后采量取测试距离d来判定试验判据。
22、与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术解决了现有方式难以保证直线上移动的精确性，并且测试结果仅体现了电子电气设备接近桌面处的磁影响指标，对于高度较高，且电子电路不集中于底面的电子电气产品，测试结果无法准确体现其磁影响指标的技术问题，试验中测试的磁强计可以通过本专利技术的装置的上方滑轨使磁强计在固定方向上直线移动，有效提高了东西轴线上测试的精确性，另外升降装置使磁强计可在被试设备测试面上更大范围的调节，对一些非小型设备，能够找到更严苛的磁影响最大的位置，提高了整个测试的有效性置信度；因此本专利技术不仅能够满足磁影响试验所规定的要求，而且极大的增强的试验的考核范围，有效的提高了整体试验的准确性。
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1.一种磁影响试验的测试装置，包括底板(14)，其特征在于：所述底板(14)的四周分别贯穿设置有一个水平调整螺丝(3)，所述底板(14)上设置有升降机构，所述升降机构的顶部设置有磁力计支架组件；
2.根据权利要求1所述的一种磁影响试验的测试装置，其特征在于：所述升降双螺纹杆(20)的表面两端分布设置有互为相反方向的螺纹结构，所述旋钮架(10)与升降双螺纹杆(20)的连接处设置有轴承，所述升降旋钮(13)与升降双螺纹杆(20)通过联轴套固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种磁影响试验的测试装置和测试方法，其特征在于：所述升降铰链(11)由四块铰链板组成两个叉型结构，每个叉型结构的两块铰链板中心位置通过限位轴销转动连接，且两个叉型结构之间也通过限位轴销转动连接。
4.根据权利要求3所述的一种磁影响试验的测试装置和测试方法，其特征在于：所述叉式升降组件还包括下拉筋块(15)、上拉筋块(16)、辅助上铰链(18)、辅助下铰链(12)，所述下拉筋块(15)和上拉筋块(16)均设置有一对，且一对下拉筋块(15)对称固定在底板(14)上，一对所述上拉筋块(
5.根据权利要求4所述的一种磁影响试验的测试装置和测试方法，其特征在于：位于同一侧的下拉筋块(15)和上拉筋块(16)相互对齐，且位于同一侧的下拉筋块(15)和上拉筋块(16)以及升降铰链(11)呈中心对称分布。
6.根据权利要求1所述的一种磁影响试验的测试装置和测试方法，其特征在于：所述驱动组件还包括下轨道水平块(8)和方杆(9)，所述方杆(9)的两端设置有用于支撑方杆(9)的下轨道水平块(8)，所述下轨道水平块(8)固定安装在底板(14)上。
7.根据权利要求1所述的一种磁影响试验的测试装置和测试方法，其特征在于：一对所述轨道上板(1)通过螺钉固定在基础板(2)上形成滑道，磁强计架(6)下部与滑道接触的位置处设置有波浪纹。
8.一种磁影响试验的测试方法，其特征在于：采用权利要求1-7任一项所述的测试装置；通过磁强计测量被试品放置于被测区域前的场均匀性，在测试距离中磁强计偏转角度不超过±0.5°，之后通过磁强计测量地球产生的环境磁场水平分量B；
...【技术特征摘要】
1.一种磁影响试验的测试装置，包括底板(14)，其特征在于：所述底板(14)的四周分别贯穿设置有一个水平调整螺丝(3)，所述底板(14)上设置有升降机构，所述升降机构的顶部设置有磁力计支架组件；
2.根据权利要求1所述的一种磁影响试验的测试装置，其特征在于：所述升降双螺纹杆(20)的表面两端分布设置有互为相反方向的螺纹结构，所述旋钮架(10)与升降双螺纹杆(20)的连接处设置有轴承，所述升降旋钮(13)与升降双螺纹杆(20)通过联轴套固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种磁影响试验的测试装置和测试方法，其特征在于：所述升降铰链(11)由四块铰链板组成两个叉型结构，每个叉型结构的两块铰链板中心位置通过限位轴销转动连接，且两个叉型结构之间也通过限位轴销转动连接。
4.根据权利要求3所述的一种磁影响试验的测试装置和测试方法，其特征在于：所述叉式升降组件还包括下拉筋块(15)、上拉筋块(16)、辅助上铰链(18)、辅助下铰链(12)，所述下拉筋块(15)和上拉筋块(16)均设置有一对，且一对下拉筋块(15)对称固定在底板(14)上，一对所述上拉筋块(16)对称固定安装在基础板(2)的底部，所述下拉筋块(15)与升降铰链(1...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐新宇，王翠霞，李继成，贺宁静，史伊媛，
申请(专利权)人：西安西测测试技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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