一种可拓展的测试负载箱制造技术

本实用新型专利技术涉及负载箱技术领域，具体地说是一种可拓展的测试负载箱，包括I/O板卡、负载卡、继电器、箱体，箱体内安装有I/O板卡、N个负载卡、N个继电器，I/O板卡的输出端口1~N分别依次与第1~N个继电器的线圈一端连接，第1~N个继电器的线圈另一端接地，第1~N个继电器分别与第1~N个负载卡依次对应，每个继电器内的常开触点、常闭触点分别串联对应负载卡内的电阻后，与区域控制单元ZCU的对应端口连接，本实用新型专利技术同现有技术相比，可根据测试需求，拓展I/O板卡、负载卡、继电器的数量，以满足更高的测试要求；采用负载卡结构将电阻分类安装在箱体内，并采用继电器对负载卡内的电阻进行切换，便于灵活更换负载，也便于排查故障及维修。也便于排查故障及维修。也便于排查故障及维修。

【技术实现步骤摘要】
一种可拓展的测试负载箱


[0001]本技术涉及负载箱
，具体地说是一种可拓展的测试负载箱。

技术介绍

[0002]现有的负载箱的连接方式为：电阻负载通过线束直接连接到面板，再通过面板的接插件与台架的负载卡连接，负载数量由台架的负载卡资源决定，且为固定阻值的电阻负载。
[0003]现有的负载箱存在如下缺点：1，测量资源数不足、电流能力不足，无法满足新项目的测试需求；2，电阻的阻值为固定值，导致测试方案受限；3.线束数量巨大且电阻安装位置较为混乱，不便于排查故障及维修。
[0004]因此，需要设计一种可拓展的测试负载箱，以满足更高的测试要求，也便于灵活更换负载、排查故障及维修。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是克服现有技术的不足，提供了一种可拓展的测试负载箱，以满足更高的测试要求，也便于灵活更换负载、排查故障及维修。
[0006]为了达到上述目的，本技术提供一种可拓展的测试负载箱，包括I/O板卡、负载卡、继电器、箱体，箱体内安装有I/O板卡、N个负载卡、N个继电器，I/O板卡的输出端口1~N分别依次与第1~N个继电器的线圈一端连接，第1~N个继电器的线圈另一端接地，第1~N个继电器分别与第1~N个负载卡依次对应，每个继电器内的常开触点、常闭触点分别串联对应负载卡内的电阻后，与区域控制单元ZCU的对应端口连接，所述的N为1以上的整数。
[0007]可选的，所述的I/O板卡有若干个，若干个的I/O板卡的输出端口数总和≥N。
[0008]可选的，所述的I/O板卡的输入端口与台架之间采用USB串口连接。
[0009]可选的，所述的USB串口位于箱体表面。
[0010]可选的，所述的负载卡包括板卡结构，板卡结构表面设有若干个电阻。
[0011]可选的，所述的电阻数量与对应继电器的常开触点和常闭触点总数相等。
[0012]本技术同现有技术相比，可根据测试需求，拓展I/O板卡、负载卡、继电器的数量，以满足更高的测试要求；采用负载卡结构将电阻分类安装在箱体内，并采用继电器对负载卡内的电阻进行切换，便于灵活更换负载，也便于排查故障及维修。
附图说明
[0013]图1为本技术测试负载箱的主视图。
[0014]图2为本技术测试负载箱的侧视图。
[0015]图3为本技术测试负载箱的俯视图。
[0016]图4为本技术测试负载箱的电气图。
[0017]附图标记说明：1为箱体，2为I/O板卡，3为负载卡，4为继电器，5为USB串口，6为插
槽，7为区域控制单元ZCU。
具体实施方式
[0018]现结合附图对本技术做进一步描述。
[0019]参见图1~图4，本技术提供一种可拓展的测试负载箱，包括I/O板卡、负载卡、继电器、箱体，箱体1内安装有I/O板卡2、N个负载卡3、N个继电器4，I/O板卡2的输出端口1~N分别依次与第1~N个继电器4的线圈一端连接，第1~N个继电器4的线圈另一端接地，第1~N个继电器4分别与第1~N个负载卡3依次对应，每个继电器4内的常开触点、常闭触点分别串联对应负载卡3内的电阻后，与区域控制单元ZCU7的对应端口连接，N为1以上的整数。
[0020]本技术中，I/O板卡2有若干个，若干个的I/O板卡2的输出端口数总和≥N。本技术可根据测试需求增加I/O板卡2的数量，从而达到无限扩展的目的，
[0021]I/O板卡2的输入端口与台架之间采用USB串口5连接，USB串口5位于箱体1表面。台架通过USB串口5通信并向I/O板卡2发送控制指令，控制与I/O板卡2连接的继电器4的线圈上电或失电，从而控制继电器4的触点动作，实现负载卡3内的电阻进行切换。
[0022]箱体1内设有插槽6，负载卡3通过接插件与插槽6连接，不仅便于负载的安装、更换及拓展，也减少了线束的设置，便于故障时的快速排查及维修。
[0023]负载卡3包括板卡结构，板卡结构表面设有若干个电阻，可按电阻的功率类型进行分组，将同功率类型的电阻放置在同一张负载卡3上。
[0024]为了便于继电器4切换电阻，电阻数量与对应继电器4的常开触点和常闭触点总数相等。
[0025]本技术可根据测试需求，拓展I/O板卡、负载卡、继电器的数量，以满足更高的测试要求；采用负载卡结构将电阻分类安装在箱体内，并采用继电器对负载卡内的电阻进行切换，便于灵活更换负载，也便于排查故障及维修。
实施例
[0026]本技术在工作时，当需要对测试负载箱进行拓展时，根据测试需要选择I/O板卡2的数量、负载卡3的数量及电阻的数量、继电器4的数量及常开触点和常闭触点数量。如，负载卡3的数量为2个，每个负载卡3设有4个电阻，则I/O板卡2的输出端口至少有2个，继电器4的数量与负载卡3的数量相同，为2个，继电器4的常开触点和常闭触点数量与电阻数量相同，为4个。
[0027]接着，将台架通过USB串口5通信向I/O板卡2发送控制指令，如控制与I/O板卡2连接的继电器4的线圈上电，则控制继电器4的常开触点闭合，与常开触点连接的负载卡3内的电阻导通，该电阻用于测试；同时，控制继电器4的常闭触点断开，与常闭触点连接的负载卡3内的电阻断开，该电阻不用于测试；如控制与I/O板卡2连接的继电器4的线圈失电，则控制继电器4的常开触点保持断开，与常开触点连接的负载卡3内的电阻断开，该电阻不用于测试；同时，控制继电器4的常闭触点保持闭合，与常闭触点连接的负载卡3内的电阻导通，该电阻用于测试。
[0028]当需要更换负载卡3时，直接将原来的负载卡3从插槽6上拔出，再将新的负载卡3插入插槽6即可。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可拓展的测试负载箱，包括I/O板卡、负载卡、继电器、箱体，其特征在于：箱体（1）内安装有I/O板卡（2）、N个负载卡（3）、N个继电器（4），I/O板卡（2）的输出端口1~N分别依次与第1~N个继电器（4）的线圈一端连接，第1~N个继电器（4）的线圈另一端接地，第1~N个继电器（4）分别与第1~N个负载卡（3）依次对应，每个继电器（4）内的常开触点、常闭触点分别串联对应负载卡（3）内的电阻后，与区域控制单元ZCU（7）的对应端口连接， 所述的N为1以上的整数。2.根据权利要求1所述的一种可拓展的测试负载箱，其特征在于：所述的I/O板卡（2）有若干个，若干个的I/O板卡（2）的输出端口数总和≥N。3....

【专利技术属性】
技术研发人员：周丹，夏小辉，
申请(专利权)人：联合汽车电子有限公司，
类型：新型
国别省市：