一种半导体器件测试数据格式转换方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种半导体器件测试数据格式转换方法、装置及存储介质，方法包括：打开原始测试数据总表文件，获取输入电压数据和输出电压数据；遍历输入电压数据中的输入电压和输出电压数据中的输出电压，将输入电压和输出电压进行组合；依次打开与输入电压和输出电压关联的单点数据文件，从每个单点数据文件中获取所需数据，将所需数据及对应的输入电压和输出电压写入目标MDF文件。本发明专利技术能够在不更改原始数据的基础上，将电子元件参数测试过程中测试仪表输出的原始数据格式转换成ADS等分析工具软件系统能够读取的MDF格式文件。软件系统能够读取的MDF格式文件。软件系统能够读取的MDF格式文件。

【技术实现步骤摘要】
vg标识，输出电压用var vd标识；
[0019]将所需数据中以！开头的注释信息写入目标MDF文件作为注释部分；
[0020]将Begin开头的申明写入目标MDF文件作为测试数据部分的首部；
[0021]将所需数据中以#开头的申明信息写入以Begin开头的申明下方；
[0022]根据所需数据中的数据信息将％开头的申明写入以#开头的申明信息下方；
[0023]将所需数据中的数据信息写入以％开头的申明下方；
[0024]将End开头的申明写入数据信息下方作为测试数据部分的尾部。
[0025]优选的，将所需数据及对应的输入电压和输出电压写入目标MDF文件之后，还包括：
[0026]保存文件数据，并在保存完成后关闭文件。
[0027]第二方面，一种半导体器件测试数据格式转换装置，包括：
[0028]总表文件读取模块，用于打开原始测试数据总表文件，获取输入电压数据和输出电压数据；
[0029]输入输出电压组合模块，用于遍历输入电压数据中的输入电压和输出电压数据中的输出电压，将输入电压和输出电压进行组合；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件测试数据格式转换方法，其特征在于，包括：打开原始测试数据总表文件，获取输入电压数据和输出电压数据；遍历输入电压数据中的输入电压和输出电压数据中的输出电压，将输入电压和输出电压进行组合；依次打开与输入电压和输出电压关联的单点数据文件，从每个单点数据文件中获取所需数据，将所需数据及对应的输入电压和输出电压写入目标MDF文件。2.根据权利要求1所述的半导体器件测试数据格式转换方法，其特征在于，所述数据总表文件包括CSV文件；所述单点数据文件包括CSV文件、S2P文件或S3P文件。3.根据权利要求1所述的半导体器件测试数据格式转换方法，其特征在于，打开原始测试数据总表文件之后还包括：判断原始测试数据总表中的内容是否为空，如果为空，不执行后续步骤。4.根据权利要求1所述的半导体器件测试数据格式转换方法，其特征在于，将所需数据及对应的输入电压和输出电压写入目标MDF文件之前，还包括：创建一个空的目标MDF文件。5.根据权利要求1所述的半导体器件测试数据格式转换方法，其特征在于，所述单点数据文件的文件名包括输入电压和输出电压。6.根据权利要求1所述的半导体器件测试数据格式转换方法，其特征在于，所述所需数据包括以！开头的注释信息和测试数据信息；所述测试数据信息包括以#开头的申明信息和数据信息。7.根据权利要求6所述的半导体器件测试数据格式转换方法，其特征在于，将所需数据及对应的输入电压和输出电压写入目标MDF文件，具体包括：将输入电压和输...

【专利技术属性】
技术研发人员：张丽玉，卢益锋，万亮，王文平，
申请(专利权)人：厦门市三安集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：