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本发明提供一种半导体器件测试数据格式转换方法、装置及存储介质，方法包括：打开原始测试数据总表文件，获取输入电压数据和输出电压数据；遍历输入电压数据中的输入电压和输出电压数据中的输出电压，将输入电压和输出电压进行组合；依次打开与输入电压和输出...
该专利属于厦门市三安集成电路有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过厦门市三安集成电路有限公司授权不得商用。

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